高速高精度记录仪及其采样数据自校正和高位匹配方法

    公开(公告)号:CN102136841A

    公开(公告)日:2011-07-27

    申请号:CN201010573014.4

    申请日:2010-11-30

    申请人: 浙江大学 丁程

    IPC分类号: H03M1/54

    摘要: 本发明公开一种高速高精度记录仪及其设计方法。高速高精度记录仪包括:信号调理模块、4个ADC模块、4个FIFO模块、2个SDRAM模块、ARM和FPGA单元组成的主从架构控制模块、以时钟芯片为核心的同步相参时钟模块和高精度基准电压源模块等;记录仪在并发时序逻辑控制下,并行完成“时间交叉”采样、封装、缓存、传输、解封复合、校正、存储、上传等操作;基于ADC通道间失配的自校正多项式校正采样数据,减少了ADC通道间的增益失配、失调/零位(offset/zero)失配;应用同步相参时钟和蛇形线微调线长技术,降低了ADC通道间的时间失配;采用高位匹配(附加时间戳序列号封装)技术,解决了高速“时间交叉采样”中数据丢失产生关联的全局误差难题。

    高速高精度记录仪及其采样数据自校正和高位匹配方法

    公开(公告)号:CN102136841B

    公开(公告)日:2013-10-09

    申请号:CN201010573014.4

    申请日:2010-11-30

    申请人: 浙江大学 丁程

    IPC分类号: H03M1/54

    摘要: 本发明公开一种高速高精度记录仪及其设计方法。高速高精度记录仪包括:信号调理模块、4个ADC模块、4个FIFO模块、2个SDRAM模块、ARM和FPGA单元组成的主从架构控制模块、以时钟芯片为核心的同步相参时钟模块和高精度基准电压源模块等;记录仪在并发时序逻辑控制下,并行完成“时间交叉”采样、封装、缓存、传输、解封复合、校正、存储、上传等操作;基于ADC通道间失配的自校正多项式校正采样数据,减少了ADC通道间的增益失配、失调/零位(offset/zero)失配;应用同步相参时钟和蛇形线微调线长技术,降低了ADC通道间的时间失配;采用高位匹配(附加时间戳序列号封装)技术,解决了高速“时间交叉采样”中数据丢失产生关联的全局误差难题。

    基于多机协同架构的快速记录仪及自标定和多机协同方法

    公开(公告)号:CN102074055B

    公开(公告)日:2012-06-20

    申请号:CN201110000282.1

    申请日:2011-01-04

    申请人: 浙江大学 丁程

    IPC分类号: G06F13/00

    CPC分类号: Y02P90/02

    摘要: 本发明公开一种基于多机协同架构的快速记录仪及其自标定和多机协同方法。快速记录仪由4个信号调理模块、2个下位机MCU模块、双口RAM模块、上位机MCU模块、SDRAM模块、基准电压源模块、USB接口和显示模块组成,双下位机MCU模块+双口RAM模块+上位机MCU模块构成记录仪的多机协同架构,每个下位机MCU片内集成2个ADC、双下位机共4个ADC均由上位机闲置的计数/定时器提供AD同步采样的时钟信号;借助多机协同架构使采样、缓存、传输、存储、校正、显示、上传或转存等按序串行操作转化成同时进行的高效并行操作;根据离线生成的自标定多项式在线校正采样数据、提高了记录仪的精度;记录仪输入端采用模拟、数字双重滤波技术,再结合输出端的光电隔离USB通信,使快速记录仪具有优良的抗干扰性能。

    过程校验仪及其设计方法

    公开(公告)号:CN101339815B

    公开(公告)日:2010-08-18

    申请号:CN200810063482.X

    申请日:2008-08-14

    申请人: 浙江大学 丁程

    IPC分类号: G12B13/00 G01D18/00

    摘要: 本发明公开了一种过程校验仪及其设计方法。它由输入通道、输出通道、基准电压、恒流源、控制、键盘、显示、通信和存储单元组成。过程校验仪输入、输出通道具有不同的设计精度,输入通道按高精度指标设计,并用超高精度的过程认证校正设备标定,建立标定基准表;输出通道则按降级精度指标设计,输出通道按降级精度指标设计有助于降低过程校验仪成本,提高成品率,而输出通道的精度则借助高精度输入通道和标定基准表,采用实时闭环反馈校正技术加以提升,使过程校验仪具有高性价比和高精度。基准融合的自校正技术,有效克服了过程校验仪测量通道因时间漂移、温度漂移等因素导致的不确定性,确保过程校验仪具有长期的高精度和高稳定性。

    一种多通道多参数电测量仪表检定系统和全自动检定方法

    公开(公告)号:CN101334457B

    公开(公告)日:2010-08-11

    申请号:CN200810063046.2

    申请日:2008-07-08

    申请人: 浙江大学 丁程

    IPC分类号: G01R35/00

    摘要: 本发明公开了一种多通道多参数电测量仪表检定系统和自动检定方法。检定系统由PC,过程校验仪,PLC,条码扫描枪组成。借助PC屏幕编辑器,定义仪表通道待检定的信号类型和幅值,离线生成仪表检定组态文件,导出的校验仪组态文件确定校验仪输出的标准信号,在待检定仪表上离线完成仪表通道配置组态文件,上传PC保存。检定时条码扫描枪读取仪表条码,PC调入对应条码的组态文件,待检定仪表从PC下载仪表通道配置文件配置仪表通道,过程校验仪依据PC指令输出标准信号,PC控制PLC进行仪表通道的切换,待检定仪表输入标准信号,其测量值以通讯方式上传PC,PC记录、判别检定结果,按用户权限进行分级管理。本发明实现了多通道多参数电测量仪表的自动检定。

    过程校验仪及其设计方法

    公开(公告)号:CN101339815A

    公开(公告)日:2009-01-07

    申请号:CN200810063482.X

    申请日:2008-08-14

    申请人: 浙江大学 丁程

    IPC分类号: G12B13/00 G01D18/00

    摘要: 本发明公开了一种过程校验仪及其设计方法。它由输入通道、输出通道、基准电压、恒流源、控制、键盘、显示、通信和存储单元组成。过程校验仪输入、输出通道具有不同的设计精度,输入通道按高精度指标设计,并用超高精度的过程认证校正设备标定,建立标定基准表;输出通道则按降级精度指标设计,输出通道按降级精度指标设计有助于降低过程校验仪成本,提高成品率,而输出通道的精度则借助高精度输入通道和标定基准表,采用实时闭环反馈校正技术加以提升,使过程校验仪具有高性价比和高精度。基准融合的自校正技术,有效克服了过程校验仪测量通道因时间漂移、温度漂移等因素导致的不确定性,确保过程校验仪具有长期的高精度和高稳定性。

    基于多机协同架构的快速记录仪及自标定和多机协同方法

    公开(公告)号:CN102074055A

    公开(公告)日:2011-05-25

    申请号:CN201110000282.1

    申请日:2011-01-04

    申请人: 浙江大学 丁程

    IPC分类号: G07C3/00 G05B19/418

    CPC分类号: Y02P90/02

    摘要: 本发明公开一种基于多机协同架构的快速记录仪及其自标定和多机协同方法。快速记录仪由4个信号调理模块、2个下位机MCU模块、双口RAM模块、上位机MCU模块、SDRAM模块、基准电压源模块、USB接口和显示模块组成,双下位机MCU模块+双口RAM模块+上位机MCU模块构成记录仪的多机协同架构,每个下位机MCU片内集成2个ADC、双下位机共4个ADC均由上位机闲置的计数/定时器提供AD同步采样的时钟信号;借助多机协同架构使采样、缓存、传输、存储、校正、显示、上传或转存等按序串行操作转化成同时进行的高效并行操作;根据离线生成的自标定多项式在线校正采样数据、提高了记录仪的精度;记录仪输入端采用模拟、数字双重滤波技术,再结合输出端的光电隔离USB通信,使快速记录仪具有优良的抗干扰性能。

    一种制造业记录仪及其数据记录和数据完备性核查方法

    公开(公告)号:CN102013120A

    公开(公告)日:2011-04-13

    申请号:CN201010524013.0

    申请日:2010-10-29

    申请人: 浙江大学 丁程

    IPC分类号: G07C3/00

    摘要: 本发明公开一种制造业记录仪及其数据记录和数据完备性核查方法。记录仪由8个输入通道、8个程控放大A/D转换模块、9个光电隔离模块、频率输入模块、频率检测模块、数码显示模块、键盘操作模块、热印记录模块、FRAM存储模块、FLASH存储模块、实时时钟模块、E2PROM、看门狗模块、冷端温度检测模块、RS232通信接口模块、热敏打印机、报警控制模块组成;通过FRAM+FLASH存储架构既满足了记录仪对存取速度和存储空间的要求,又提升了数据的完备性;借助热敏打印机、MD5算法使记录仪电子数据具有三重核查功能;在不增加用户的日常运维工作量、且能确保记录仪的易用性的基础上克服了现有记录仪数据完备性和完全性的问题。

    一种制造业记录仪及其数据记录和数据完备性核查方法

    公开(公告)号:CN102013120B

    公开(公告)日:2012-05-30

    申请号:CN201010524013.0

    申请日:2010-10-29

    申请人: 浙江大学 丁程

    IPC分类号: G07C3/00

    摘要: 本发明公开一种制造业记录仪及其数据记录和数据完备性核查方法。记录仪由8个输入通道、8个程控放大A/D转换模块、9个光电隔离模块、频率输入模块、频率检测模块、数码显示模块、键盘操作模块、热印记录模块、FRAM存储模块、FLASH存储模块、实时时钟模块、E2PROM、看门狗模块、冷端温度检测模块、RS232通信接口模块、热敏打印机、报警控制模块组成;通过FRAM+FLASH存储架构既满足了记录仪对存取速度和存储空间的要求,又提升了数据的完备性;借助热敏打印机、MD5算法使记录仪电子数据具有三重核查功能;在不增加用户的日常运维工作量、且能确保记录仪的易用性的基础上克服了现有记录仪数据完备性和完全性的问题。

    一种多通道多参数电测量仪表检定系统和全自动检定方法

    公开(公告)号:CN101334457A

    公开(公告)日:2008-12-31

    申请号:CN200810063046.2

    申请日:2008-07-08

    申请人: 浙江大学 丁程

    IPC分类号: G01R35/00

    摘要: 本发明公开了一种多通道多参数电测量仪表检定系统和自动检定方法。检定系统由PC,过程校验仪,PLC,条码扫描枪组成。借助PC屏幕编辑器,定义仪表通道待检定的信号类型和幅值,离线生成仪表检定组态文件,导出的校验仪组态文件确定校验仪输出的标准信号,在待检定仪表上离线完成仪表通道配置组态文件,上传PC保存。检定时条码扫描枪读取仪表条码,PC调入对应条码的组态文件,待检定仪表从PC下载仪表通道配置文件配置仪表通道,过程校验仪依据PC指令输出标准信号,PC控制PLC进行仪表通道的切换,待检定仪表输入标准信号,其测量值以通讯方式上传PC,PC记录、判别检定结果,按用户权限进行分级管理。本发明实现了多通道多参数电测量仪表的自动检定。