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公开(公告)号：CN113256571B
公开(公告)日：2022-05-27
申请号：CN202110513993.2
申请日：2021-05-11
申请人： 浙江欧威科技有限公司
摘要： 本发明公开了一种基于方向特征和局部唯一性的矢量图形特征点提取方法，分为方向特征值计算和局部唯一性筛选两部分，在方向特征值计算部分通过滑动窗口计算边缘特征；在局部唯一性筛选部分计算各区域之间的唯一性，结合方向特征与其唯一性并对各个窗口区域进行评分，降序排序得到前n个最优特征点。能够从矢量图中快速提取出若干对位特征点，且特征点具有良好的唯一性，目前该算法已经成熟应用到了自动对位设备当中。
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公开(公告)号：CN106841225A
公开(公告)日：2017-06-13
申请号：CN201710129602.0
申请日：2017-03-07
申请人： 浙江欧威科技有限公司
IPC分类号： G01N21/892
CPC分类号： G01N21/892
摘要： 一种连线式AOI整机和基于该连线式AOI整机的PCB板精确成像方法。主要解决现有的连线式AOI整机的PCB板在输送机构上传送时，由于滚轮振动等原因带来的成像的图像抖动、扭曲变形的问题。本发明提供一种连线式AOI整机和基于该连线式AOI整机的PCB板精确成像方法，其设于光源组件两侧的第一、二辅助辊上都设有编码器，在PCB板随输送机构前进的时候，触碰到第一、二辅助辊时会带动其转动，由此带动第一、二辅助辊上的编码器转动并由此向控制机构发送信号，控制机构由此调整成像装置中的相机的拍摄频率，成像更加清晰、精确。
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公开(公告)号：CN102095441B
公开(公告)日：2012-08-08
申请号：CN201010561876.5
申请日：2010-11-26
申请人： 浙江欧威科技有限公司
IPC分类号： G01D11/16
摘要： 一种印刷电路板检测设备的真空平台。主要解决了现有的真空平台使用时印刷电路板受力不均匀及吸附区域不能调节的问题。其特征在于：平台体(1)内部设有多个平行的通道(3)，所述的通道(3)的一端会集后与产生真空的装置相通，平台体(1)的环形凹槽(2)内设有与所述的通道相通的小孔(4)，平台体(1)内设有垂直贯穿所述的通道(3)的多个平行的长柱阀(5)；所述的通道(3)的真空接入端设有短柱阀(7)。该印刷电路板检测设备的真空平台能够使印刷电路板所受的吸附力均等和调节吸附区域，具有结构简单、使用方便及适用范围广的特点。
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公开(公告)号：CN106841225B
公开(公告)日：2019-06-14
申请号：CN201710129602.0
申请日：2017-03-07
申请人： 浙江欧威科技有限公司
IPC分类号： G01N21/892
摘要： 一种连线式AOI整机和基于该连线式AOI整机的PCB板精确成像方法。主要解决现有的连线式AOI整机的PCB板在输送机构上传送时，由于滚轮振动等原因带来的成像的图像抖动、扭曲变形的问题。本发明提供一种连线式AOI整机和基于该连线式AOI整机的PCB板精确成像方法，其设于光源组件两侧的第一、二辅助辊上都设有编码器，在PCB板随输送机构前进的时候，触碰到第一、二辅助辊时会带动其转动，由此带动第一、二辅助辊上的编码器转动并由此向控制机构发送信号，控制机构由此调整成像装置中的相机的拍摄频率，成像更加清晰、精确。
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公开(公告)号：CN1869667B
公开(公告)日：2010-07-28
申请号：CN200610061023.9
申请日：2006-06-08
申请人： 浙江欧威科技有限公司
IPC分类号： G01N21/956
摘要： 本发明公开了一种检测印刷电路板缺陷的轮廓分析方法。该方法包括以下步骤：1)将Gerber格式转换为高分辨率的位图格式，获取印刷电路板的参考图象；2)利用高速线阵列相机扫描印刷电路板，获取印刷电路板的实际图象；3)计算印刷电路板的标准参考轮廓和实际轮廓，并比较印刷电路板的标准参考轮廓和实际轮廓；4)根据比较结果确定印刷电路板的标准参考轮廓和实际轮廓之间的差异；5)设置缺陷过滤条件，并对差异进行过滤处理。通过以上步骤对传统的印刷电路板检测工艺进行了改进，进一步提高了检测效率。
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公开(公告)号：CN113256571A
公开(公告)日：2021-08-13
申请号：CN202110513993.2
申请日：2021-05-11
申请人： 浙江欧威科技有限公司
摘要： 本发明公开了一种基于方向特征和局部唯一性的矢量图形特征点提取方法，分为方向特征值计算和局部唯一性筛选两部分，在方向特征值计算部分通过滑动窗口计算边缘特征；在局部唯一性筛选部分计算各区域之间的唯一性，结合方向特征与其唯一性并对各个窗口区域进行评分，降序排序得到前n个最优特征点。能够从矢量图中快速提取出若干对位特征点，且特征点具有良好的唯一性，目前该算法已经成熟应用到了自动对位设备当中。
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公开(公告)号：CN102496161B
公开(公告)日：2013-10-16
申请号：CN201110415349.8
申请日：2011-12-13
申请人： 浙江欧威科技有限公司
IPC分类号： G06T7/00
摘要： 本发明要解决的技术问题是提供一种印刷电路板图像的轮廓提取方法，避免现有轮廓提取方法在提取PCB图像轮廓时不准确的缺陷，增强了轮廓检测的准确性和稳定性，进而提高了工作效率。该方法包括以下步骤：1）获取印刷电路板的原始图像；2）高斯拉普拉斯算子处理：利用高斯拉普拉斯算子对原始图像进行处理，得到经处理后的高斯拉普拉斯图像；3）梯度算子突变处理：利用梯度算子对原始图像进行处理，得到经梯度算子突变处理后的梯度图像；4）利用高低双阈值对原始图像求取二值图像，并得到二值图像；5）建立亚像素轮廓点的坐标图：根据二值图像的边界首先确定轮廓的像素位置，然后根据所述轮廓相应方向上的高斯拉普拉斯值、像素值、梯度值，求出亚像素轮廓点的坐标；6）连接亚像素轮廓点形成轮廓：根据所述步骤5）得到的亚像素轮廓点的坐标，把亚像素轮廓点连接成有一定顺序的集合形式。
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公开(公告)号：CN102496161A
公开(公告)日：2012-06-13
申请号：CN201110415349.8
申请日：2011-12-13
申请人： 浙江欧威科技有限公司
IPC分类号： G06T7/00
摘要： 本发明要解决的技术问题是提供一种印刷电路板图像的轮廓提取方法，避免现有轮廓提取方法在提取PCB图像轮廓时不准确的缺陷，增强了轮廓检测的准确性和稳定性，进而提高了工作效率。该方法包括以下步骤：1）获取印刷电路板的原始图像；2）高斯拉普拉斯算子处理：利用高斯拉普拉斯算子对原始图像进行处理，得到经处理后的高斯拉普拉斯图像；3）梯度算子突变处理：利用梯度算子对原始图像进行处理，得到经梯度算子突变处理后的梯度图像；4）利用高低双阈值对原始图像求取二值图像，并得到二值图像；5）建立亚像素轮廓点的坐标图：根据二值图像的边界首先确定轮廓的像素位置，然后根据所述轮廓相应方向上的高斯拉普拉斯值、像素值、梯度值，求出亚像素轮廓点的坐标；6）连接亚像素轮廓点形成轮廓：根据所述步骤5）得到的亚像素轮廓点的坐标，把亚像素轮廓点连接成有一定顺序的集合形式。
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公开(公告)号：CN102095441A
公开(公告)日：2011-06-15
申请号：CN201010561876.5
申请日：2010-11-26
申请人： 浙江欧威科技有限公司
IPC分类号： G01D11/16
摘要： 一种印刷电路板检测设备的真空平台。主要解决了现有的真空平台使用时印刷电路板受力不均匀及吸附区域不能调节的问题。其特征在于：平台体(1)内部设有多个平行的通道(3)，所述的通道(3)的一端会集后与产生真空的装置相通，平台体(1)的环形凹槽(2)内设有与所述的通道相通的小孔(4)，平台体(1)内设有垂直贯穿所述的通道(3)的多个平行的长柱阀(5)；所述的通道(3)的真空接入端设有短柱阀(7)。该印刷电路板检测设备的真空平台能够使印刷电路板所受的吸附力均等和调节吸附区域，具有结构简单、使用方便及适用范围广的特点。
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公开(公告)号：CN202631440U
公开(公告)日：2012-12-26
申请号：CN201220282326.4
申请日：2012-06-12
申请人： 浙江欧威科技有限公司
IPC分类号： G01N21/88
摘要： 一种用于检测PCB板的自动光学检测装置。解决了现有自动光学检测装置成像系统的光源聚焦点不能准确的落在不同厚度的PCB的表面上的问题。它包括机架、龙门架和成像系统，所述的成像系统包括光源，所述的光源固定安装与垂直滑板上，所述的龙门架通过水平丝杠和水平导轨安装有水平滑板，所述的水平滑板与水平导轨滑移配合，所述的垂直滑板通过垂直丝杠和垂直导轨与水平滑板相连接，所述的垂直滑板能沿垂直导轨上下滑移，所述的垂直丝杠由伺服电机驱动。由于光源与工作台的距离可以相对距离调整，从而使得光源的聚焦点能准确的落到待测物体的表面，使得拍摄的图像清晰、准确，从而保证了比较、分析后能得到准确的判断。
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