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发明公开
一种基于Bi-LSTM的电连接器退化预测方法审中-实审

公开(公告)号：CN117313545A

公开(公告)日：2023-12-29

申请号：CN202311362614.X

申请日：2023-10-20

申请人： 浙江理工大学

发明人： 王东康 , 钱萍 , 陈文华 , 赵文强 , 周家银 , 韩坤坤

IPC分类号： G06F30/27 , G06N3/0442 , G06N3/084 , G06N3/08 , G06F119/04

摘要： 本发明公开了一种基于Bi‑LSTM的电连接器退化预测方法，所述方法包括：根据电连接器退化环境影响因素，设计试验得出退化路径，建立基础物理退化模型，得出目标函数；对目标函数进行最速下降法，得出初步的优化模型；利用Bi‑LSTM神经网络对模型修正。基于建立Bi‑LSTM神经网络模型，其中输入包括环境变量、期望退化路径和观测退化数据。通过训练神经网络来实现基于物理退化的预测进行偏差校正，以达到更合理的退化趋势。