一种发光二极管及发光二极管封装件

    公开(公告)号:CN115000269B

    公开(公告)日:2024-03-01

    申请号:CN202210641669.3

    申请日:2022-06-07

    摘要: 本发明提供了一种发光二极管及发光二极管封装件,其中,该发光二极管包括:衬底,以及设置在衬底上的发光结构层,发光结构层顺次包括N型层、有源层和P型层;N型层包括未被P型层和所述有源层覆盖的暴露区域,暴露区包括若干个分散的N台阶;反射电极,包括分散设置于所述P型层的上表面的复数个子反射电极;第一绝缘层,覆盖所述发光结构层并包括露出所述N台阶的第一开口和露出所述子反射电极的第二开口;第一互连电极,通过所述第一开口与所述N型层电性连接;第二互连电极,通过所述第二开口与所述反射电极电性连接,所述第一互连电极与所述第二互连电极绝缘设置;所述子反射电极的数量大于所述N台阶的数量。可以提高LED的出光效率。

    一种发光二极管及发光二极管封装件

    公开(公告)号:CN115000269A

    公开(公告)日:2022-09-02

    申请号:CN202210641669.3

    申请日:2022-06-07

    摘要: 本发明提供了一种发光二极管及发光二极管封装件,其中,该发光二极管包括:衬底,以及设置在衬底上的发光结构层,发光结构层顺次包括N型层、有源层和P型层;N型层包括未被P型层和所述有源层覆盖的暴露区域,暴露区包括若干个分散的N台阶;反射电极,包括分散设置于所述P型层的上表面的复数个子反射电极;第一绝缘层,覆盖所述发光结构层并包括露出所述N台阶的第一开口和露出所述子反射电极的第二开口;第一互连电极,通过所述第一开口与所述N型层电性连接;第二互连电极,通过所述第二开口与所述反射电极电性连接,所述第一互连电极与所述第二互连电极绝缘设置;所述子反射电极的数量大于所述N台阶的数量。可以提高LED的出光效率。

    一种发光二极管芯片及发光二极管封装件

    公开(公告)号:CN114899290A

    公开(公告)日:2022-08-12

    申请号:CN202210639416.2

    申请日:2022-06-07

    摘要: 本发明提供了一种发光二极管芯片及发光二极管封装件,其中,LED芯片由下至上依次包括:衬底,以及设置在衬底上的外延结构层,外延结构层顺次包括N型层、有源层和P型层;N型层包括未被有源层和P型层覆盖的暴露区域,暴露区包括位于LED芯片边缘的若干个第一子区域和若干个被有源层包围的第二子区域;第一绝缘层,覆盖外延结构层;包括设置于第一子区域和第二子区域上的第一开口,以及设置于P型层上的复数个第二开口;第一电极层,通过第一开口与N型层电性连接;第二电极层,通过第二开口与P型层电性连接,第一电极与第二电极绝缘设置;第二开口的数量大于第一开口的数量。可以提高LED芯片的工作可靠性。

    一种反射电极及其制备方法和LED芯片

    公开(公告)号:CN114242865B

    公开(公告)日:2024-05-03

    申请号:CN202111496290.X

    申请日:2021-12-09

    发明人: 李明

    IPC分类号: H01L33/40

    摘要: 本发明涉及半导体器件技术领域,具体而言,涉及一种反射电极及其制备方法和LED芯片。本发明的反射电极,包括依次连接设置的金属反射层、叠层金属阻挡层和金属覆盖层;所述金属反射层包括Ag层;所述叠层金属阻挡层包括Ti层、Ni层、Pt层和Cr层中的至少两种;所述金属覆盖层包括Au层、Cu层、Al层和Zn层中的至少一种。本发明通过金属反射层、叠层金属阻挡层和金属覆盖层的配合,以实现金属反射层与基板之间的高效粘结,同时可以保证金属反射层的稳定性,防止金属反射层的金属迁移,又可以消除不同莫氏硬度造成的拉应力导致的翘起问题。

    一种检验金属薄膜应力的方法
    5.
    发明公开

    公开(公告)号:CN115424950A

    公开(公告)日:2022-12-02

    申请号:CN202210932232.5

    申请日:2022-08-04

    IPC分类号: H01L21/66

    摘要: 本发明公开了一种检验金属薄膜应力的方法,其特征在于,包括A:选择至少两种金属叠层结构的金属沉积层;B:准备与金属叠层结构数量相同的衬底,衬底上匀光刻胶;C:根据对应的金属叠层结构分别在衬底上沉积出对应的金属沉积层;D:在沉积完金属的衬底经过撕蓝膜工艺,撕掉蓝膜及与蓝膜粘合的金属沉积层,分离出与每个金属叠层结构相对应的带有残胶的衬底;E:将与每个金属叠层结构相对应的带有残胶的衬底之间相互对比,衬底上的残胶越多,则对应该衬底对应的金属沉积层应力越小。本发明的检验方法简单,能够便捷判断新电极结构应力的相对大小,并以其为依据对电极结构进行优化。

    检验金属薄膜应力的方法

    公开(公告)号:CN115424950B

    公开(公告)日:2023-10-20

    申请号:CN202210932232.5

    申请日:2022-08-04

    IPC分类号: H01L21/66

    摘要: 本发明公开了一种检验金属薄膜应力的方法,其特征在于,包括A:选择至少两种金属叠层结构的金属沉积层;B:准备与金属叠层结构数量相同的衬底,衬底上匀光刻胶;C:根据对应的金属叠层结构分别在衬底上沉积出对应的金属沉积层;D:在沉积完金属的衬底经过撕蓝膜工艺,撕掉蓝膜及与蓝膜粘合的金属沉积层,分离出与每个金属叠层结构相对应的带有残胶的衬底;E:将与每个金属叠层结构相对应的带有残胶的衬底之间相互对比,衬底上的残胶越多,则对应该衬底对应的金属沉积层应力越小。本发明的检验方法简单,能够便捷判断新电极结构应力的相对大小,并以其为依据对电极结构进行优化。

    一种反射电极及其制备方法和LED芯片

    公开(公告)号:CN114242865A

    公开(公告)日:2022-03-25

    申请号:CN202111496290.X

    申请日:2021-12-09

    发明人: 李明

    IPC分类号: H01L33/40

    摘要: 本发明涉及半导体器件技术领域,具体而言,涉及一种反射电极及其制备方法和LED芯片。本发明的反射电极,包括依次连接设置的金属反射层、叠层金属阻挡层和金属覆盖层;所述金属反射层包括Ag层;所述叠层金属阻挡层包括Ti层、Ni层、Pt层和Cr层中的至少两种;所述金属覆盖层包括Au层、Cu层、Al层和Zn层中的至少一种。本发明通过金属反射层、叠层金属阻挡层和金属覆盖层的配合,以实现金属反射层与基板之间的高效粘结,同时可以保证金属反射层的稳定性,防止金属反射层的金属迁移,又可以消除不同莫氏硬度造成的拉应力导致的翘起问题。

    LED电极及倒装LED芯片
    8.
    实用新型

    公开(公告)号:CN218241875U

    公开(公告)日:2023-01-06

    申请号:CN202222042822.9

    申请日:2022-08-04

    IPC分类号: H01L33/40 H01L33/38

    摘要: 本实用新型公开了一种LED电极,电极结构至少包括反射层、阻挡层、Al复合层、保护层,所述Al复合包括n个Al子层,以及分别设置于相邻Al子层之间的Ti子层,1≤n≤10。采用Al复合层替代Åu层制造LED电极以极大的降低成本。Al复合层中采用Al、Cr、Ni、Ti的层式结构,Ni用于隔绝Al和Ti,可以保证电极在DBR孔洞斜坡位置的稳定性,避免出现孔洞,保证电极在斜坡位置的披覆,Cr用于隔绝Al、Ni,避免后续高温工艺中Al、Ni互融现象的出现导致老化失效,因此,采用CrNi包裹Ti的方式同时可以避免Ti空洞以及AlNi互融,保证整个电极的稳定性,从而使得整个LED芯片的老化稳定性得以保证。

    一种LED电极及倒装LED芯片

    公开(公告)号:CN218918927U

    公开(公告)日:2023-04-25

    申请号:CN202222044645.8

    申请日:2022-08-04

    IPC分类号: H01L33/40

    摘要: 本实用新型公开了一种LED电极,电极结构至少包括反射层、阻挡层、Al复合层、保护层,所述Al复合层包括n个Al子层,以及分别设置于相邻Al子层之间的Ni子层,1≤n≤10。采用Al复合层替代Åu层制造LED电极以极大的降低成本,其中,Al复合层中采用Al、Cr、Ni的层式结构,Cr用于隔绝Al、Ni,避免后续高温工艺中Al、Ni互融现象的出现导致老化失效,保证整个电极的稳定性,从而使得整个LED芯片的老化稳定性得以保证。