测控系统
    1.
    发明授权

    公开(公告)号:CN113093635B

    公开(公告)日:2022-07-12

    申请号:CN202110229637.8

    申请日:2021-03-02

    Abstract: 本发明涉及一种测控系统,包括开出模块、开入模块、第一处理模块和第二处理模块,其中开入模块用于采集本间隔第一开关状态信息,第一处理模块和第二处理模块分别获取本间隔第一开关状态信息及外间隔开关状态信息,并分别生成第一信息和第二信息,其中第二处理模块生成第二信息后还发送至第一处理模块,第一处理模块接收到分合闸指令后,根据分合闸指令、第一信息和第二信息驱动开出模块进行本间隔一次设备的分合闸控制,由于分别设置第一处理模块和第二处理模块生成分合闸判定结果,并将两种分合闸判定结果进行对比验证,提高了测控系统的可靠性,解决了单一判定方式引发的误出口问题。

    测控系统
    2.
    发明公开

    公开(公告)号:CN113093635A

    公开(公告)日:2021-07-09

    申请号:CN202110229637.8

    申请日:2021-03-02

    Abstract: 本发明涉及一种测控系统,包括开出模块、开入模块、第一处理模块和第二处理模块,其中开入模块用于采集本间隔第一开关状态信息,第一处理模块和第二处理模块分别获取本间隔第一开关状态信息及外间隔开关状态信息,并分别生成第一信息和第二信息,其中第二处理模块生成第二信息后还发送至第一处理模块,第一处理模块接收到分合闸指令后,根据分合闸指令、第一信息和第二信息驱动开出模块进行本间隔一次设备的分合闸控制,由于分别设置第一处理模块和第二处理模块生成分合闸判定结果,并将两种分合闸判定结果进行对比验证,提高了测控系统的可靠性,解决了单一判定方式引发的误出口问题。

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