公开(公告)号：CN106644083A

公开(公告)日：2017-05-10

申请号：CN201710100671.9

申请日：2017-02-23

Applicant: 深圳大学

Inventor： 徐世祥 ,  林庆刚 ,  郑水钦 ,  李玲 ,  蔡懿 ,  曾选科 ,  刘俊敏 ,  陈振宽

IPC: G01J3/447 ,  G01J3/12 ,  G01J3/02 ,  G01N21/3581

Abstract: 本发明所提供的太赫兹材料的偏振光谱特性测量装置或测量系统，包括一片旋光晶体、一聚焦镜、一切割方向为111度的闪锌矿晶体、一脉冲延时器、一宽带1/4波片、一硅片、一非偏振分束器、两只聚焦透镜、二片宽带半波片、二块偏振分束器以及两只平衡探测器。由于光路中引入了旋光晶体，因此只需经过一次时间扫描，即可获得待测样本在不同光谱、不同偏振方向入射情况下的光谱特性；同时，本发明采用切割方向为111度的闪锌矿晶体，可以实现同时在两个垂直方向上的电光取样测量，从而大大提高了测量效率。因此，本发明所提供的装置或系统能够达到高效测量的效果。

公开(公告)号：CN106644083B

公开(公告)日：2018-05-29

申请号：CN201710100671.9

申请日：2017-02-23

Applicant: 深圳大学

Inventor： 徐世祥 ,  林庆刚 ,  郑水钦 ,  李玲 ,  蔡懿 ,  曾选科 ,  刘俊敏 ,  陈振宽

IPC: G01J3/447 ,  G01J3/12 ,  G01J3/02 ,  G01N21/3581

Abstract: 本发明所提供的太赫兹材料的偏振光谱特性测量装置或测量系统，包括一片旋光晶体、一聚焦镜、一切割方向为111度的闪锌矿晶体、一脉冲延时器、一宽带1/4波片、一硅片、一非偏振分束器、两只聚焦透镜、二片宽带半波片、二块偏振分束器以及两只平衡探测器。由于光路中引入了旋光晶体，因此只需经过一次时间扫描，即可获得待测样本在不同光谱、不同偏振方向入射情况下的光谱特性；同时，本发明采用切割方向为111度的闪锌矿晶体，可以实现同时在两个垂直方向上的电光取样测量，从而大大提高了测量效率。因此，本发明所提供的装置或系统能够达到高效测量的效果。

公开(公告)号：CN206514951U

公开(公告)日：2017-09-22

申请号：CN201720169263.4

申请日：2017-02-23

Applicant: 深圳大学

Inventor： 徐世祥 ,  林庆刚 ,  郑水钦 ,  李玲 ,  蔡懿 ,  曾选科 ,  刘俊敏 ,  陈振宽

IPC: G01J3/447 ,  G01J3/12 ,  G01J3/02 ,  G01N21/3581

Abstract: 本实用新型所提供的太赫兹材料的偏振光谱特性测量装置，包括一片旋光晶体、一聚焦镜、一切割方向为111度的闪锌矿晶体、一脉冲延时器、一宽带1/4波片、一硅片、一非偏振分束器、两只聚焦透镜、二片宽带半波片、二块偏振分束器以及两只平衡探测器。由于光路中引入了旋光晶体，因此只需经过一次时间扫描，即可获得待测样本在不同光谱、不同偏振方向入射情况下的光谱特性；同时，本实用新型采用切割方向为111度的闪锌矿晶体，可以实现同时在两个垂直方向上的电光取样测量，从而大大提高了测量效率。因此，本实用新型所提供的装置能够达到高效测量的效果。