晶圆测试用探针台
    1.
    发明授权

    公开(公告)号:CN113970690B

    公开(公告)日:2024-11-05

    申请号:CN202010727656.9

    申请日:2020-07-23

    IPC分类号: G01R31/28

    摘要: 本申请涉及半导体测试装置的技术领域,尤其是涉及一种晶圆测试用探针台,其包括机架,机架上设有测试装置和转料装置,转料装置包括机械手,还包括转动架设在机架上的旋转支架,机架上设有用于驱使旋转支架转动的旋转电机,旋转支架的旋转轴心水平,旋转支架位于测试装置下方,旋转支架上滑动设有底座,旋转支架上设有用于驱使底座滑移的驱动机构,底座成对设置,两个底座的滑移方向相反,底座背向旋转支架中心一侧的面上设有吸附板,底座通过横移组件和纵移组件与吸附板相连,吸附板背向底座一侧开设有气孔,气孔朝向底座的一端接有气泵。本申请具有提高测试效率的效果。