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公开(公告)号:CN107861019B
公开(公告)日:2023-09-05
申请号:CN201711180446.7
申请日:2017-11-23
申请人: 深圳市巴丁微电子有限公司
IPC分类号: G01R31/66
摘要: 本发明公开了一种H桥的检测系统及方法。本发明提供一种H桥的检测系统及检测方法,H桥的检测系统包括脉冲产生电路、第一采样电阻、第二采样电阻和电位比较电路,电路结构简单且可以实现H桥的连接状态检测;脉冲产生电路产生脉冲输入第一H桥的电源负极端后,通过电位比较电路检测第一H桥的电源负极端和第二H桥的电源负极端的电位是否一致,以判断第一H桥和第二H桥的连接状态,H桥的连接状态检测方法快捷方便,且检测结果精确。
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公开(公告)号:CN107861019A
公开(公告)日:2018-03-30
申请号:CN201711180446.7
申请日:2017-11-23
申请人: 深圳市巴丁微电子有限公司
IPC分类号: G01R31/04
CPC分类号: G01R31/041
摘要: 本发明公开了一种H桥的检测系统及方法。本发明提供一种H桥的检测系统及检测方法,H桥的检测系统包括脉冲产生电路、第一采样电阻、第二采样电阻和电位比较电路,电路结构简单且可以实现H桥的连接状态检测;脉冲产生电路产生脉冲输入第一H桥的电源负极端后,通过电位比较电路检测第一H桥的电源负极端和第二H桥的电源负极端的电位是否一致,以判断第一H桥和第二H桥的连接状态,H桥的连接状态检测方法快捷方便,且检测结果精确。
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公开(公告)号:CN207488418U
公开(公告)日:2018-06-12
申请号:CN201721589004.3
申请日:2017-11-23
申请人: 深圳市巴丁微电子有限公司
IPC分类号: G01R31/04
摘要: 本实用新型公开了一种H桥的检测系统。本实用新型提供一种H桥的检测系统,包括脉冲产生电路、第一采样电阻、第二采样电阻和电位比较电路,脉冲产生电路产生脉冲输入第一H桥的电源负极端后,通过电位比较电路检测第一H桥的电源负极端和第二H桥的电源负极端的电位是否一致,以判断第一H桥和第二H桥的连接状态,电路结构简单且可以实现H桥的连接状态检测。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利
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