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公开(公告)号：CN117784266A
公开(公告)日：2024-03-29
申请号：CN202311841468.9
申请日：2023-12-28
申请人： 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司 , 同方威视科技(北京)有限公司
摘要： 本公开提供了一种辐射检测系统，涉及辐射检测领域、安全检查领域或其他领域。该辐射检测系统包括第一射线扫描设备和第二射线扫描设备。第一射线扫描设备包括第一靶点，所述第一靶点发出射线用以扫描对象的第一区域；第二射线扫描设备包括第二靶点，所述第二靶点相比所述第一靶点更接近地面，所述第二靶点发出的射线用以扫描所述对象的第二区域；其中，所述第二区域中至少部分区域位于所述第一区域之外，且所述至少部分区域在竖直方向上位于所述第一区域的下方。本公开还提供了一种辐射检测装置。
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公开(公告)号：CN109990744B
公开(公告)日：2020-09-11
申请号：CN201910275709.5
申请日：2019-04-08
申请人： 同方威视技术股份有限公司 , 同方威视科技(北京)有限公司 , 清华大学
IPC分类号： G01B15/00
摘要： 本发明公开了一种体积测量方法、装置、系统和计算机可读存储介质，涉及辐射领域。体积测量方法，包括：根据从加速器靶点发射的多条X射线的测量结果，确定被测对象在每条X射线所在方向上的厚度；根据位于被测对象的同一个截面的每条X射线对应的厚度，确定相应截面的面积；根据被测对象的截面的面积确定被测对象的体积。通过将X射线扫描应用于体积测量中，可以通过X射线的测量结果获得被测对象的物质类型和多个位置、角度的尺寸信息，从而可以更准确地测量被测对象的体积。
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公开(公告)号：CN109682934A
公开(公告)日：2019-04-26
申请号：CN201910108228.5
申请日：2019-02-03
申请人： 同方威视技术股份有限公司 , 同方威视科技(北京)有限公司 , 清华大学
CPC分类号： G01N33/0009 , G01B11/00 , G01B11/24
摘要： 本公开涉及一种电子鼻定位装置及定位方法。电子鼻定位装置包括：载体(10)；电子鼻(20)，设置在所述载体(10)上；调整机构(30)，用于调整所述电子鼻(20)的采集位置；和激光传感单元(40)，设置在所述载体(10)、所述电子鼻(20)或者所述调整机构(30)上，用于对待检对象(60)进行扫描，以确定所述待检对象(60)的气味采集部位(61)的位置。本公开实施例能够简化电子鼻的检查流程。
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公开(公告)号：CN109932755B
公开(公告)日：2024-05-03
申请号：CN201910108201.6
申请日：2019-02-03
申请人： 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学 , 同方威视科技(北京)有限公司
IPC分类号： G01V5/22
摘要： 本公开涉及一种可行走式检查设备及控制方法。可行走式检查设备包括：第一车体(10)和设置在第一车体(10)中的射线源(40)；第二车体(20)和设置在第二车体(20)上的防护墙；臂架(30)和设置在所述臂架(30)上的多个探测器(50)，所述臂架(30)分别与所述第一车体(10)和所述第二车体(20)可转动地连接；至少两个独立驱动和独立转向的第一驱动轮(60)，设置在所述第一车体(10)上，用于实现所述第一车体(10)的行走和转向；和至少两个独立驱动和独立转向的第二驱动轮(70)，设置在所述第二车体(20)上，用于实现所述第二车体(20)的行走和转向。本公开实施例能够满足更加灵活的工作需求。
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公开(公告)号：CN109471187B
公开(公告)日：2024-04-02
申请号：CN201910009034.X
申请日：2019-01-04
申请人： 清华大学 , 同方威视科技(北京)有限公司 , 同方威视技术股份有限公司
IPC分类号： G01V5/22
摘要： 本发明涉及一种扫描检查系统和扫描检查方法，其中扫描检查系统，包括：检测装置，用于检测被检物(2；2′)的防护属性；扫描装置(1)，可动地设置，用于在运动的过程中发射扫描射线以对所述被检物(2；2′)进行扫描检查，其具有至少两个工作模式，每个所述工作模式对应的扫描射线的剂量与其他所述工作模式对应的扫描射线的剂量不同；和控制装置，用于根据所述检测装置所检测的所述被检物(2；2′)的防护属性调节所述扫描装置(1)的工作模式。本发明可以根据被检物的防护属性实现针对性检查，有效保护需要避让的被检物，同时避免漏检；可以适应倒车以及混编等复杂情况。
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公开(公告)号：CN117784267A
公开(公告)日：2024-03-29
申请号：CN202311841945.1
申请日：2023-12-28
申请人： 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司 , 同方威视科技(北京)有限公司
摘要： 本公开提供了一种辐射检测方法，涉及辐射检测领域、安全检查领域或其他领域。该方法用于包括第一靶点的第一射线扫描设备和包括第二靶点的第二射线扫描设备，具体包括：控制所述第一靶点扫描对象的第一区域，得到第一图像；控制所述第二靶点扫描所述对象的第二区域，得到第二图像，所述第二靶点相比所述第一靶点更接近地面；其中，所述第二区域中至少部分区域位于所述第一区域之外，且所述至少部分区域在竖直方向上位于所述第一区域的下方。能够提高扫描覆盖率，实现扫描对象上全部目标区域，达到理想的扫描效果。本公开还提供了一种辐射检测装置、设备和存储介质。
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公开(公告)号：CN109682842B
公开(公告)日：2024-03-26
申请号：CN201910108229.X
申请日：2019-02-03
申请人： 同方威视技术股份有限公司 , 同方威视科技(北京)有限公司 , 清华大学
摘要： 本发明公开了一种列车检查系统，能够通过扫描设备对列车成像从而进行安全检查，所述扫描设备包括加速器和探测器，所述列车检查系统包括：第一传感器，设置于所述加速器的列车来向，能够检测是否有列车经过；第二传感器，设置于所述加速器与所述第一传感器之间，能够检测是否有列车经过；以及控制器，被配置为在所述第一传感器检测到列车经过时，使所述加速器预热，并在所述第二传感器检测到列车经过时，控制所述加速器以第一剂量出束，对所述列车进行安全检查；其中，所述第一剂量被设定为满足所述列车上人员的辐射防护安全条件。本发明能够在保证列车上人员安全的前提下，对列车中的有人车厢进行扫描。
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公开(公告)号：CN109990744A
公开(公告)日：2019-07-09
申请号：CN201910275709.5
申请日：2019-04-08
申请人： 同方威视技术股份有限公司 , 同方威视科技(北京)有限公司 , 清华大学
IPC分类号： G01B15/00
摘要： 本发明公开了一种体积测量方法、装置、系统和计算机可读存储介质，涉及辐射领域。体积测量方法，包括：根据从加速器靶点发射的多条X射线的测量结果，确定被测对象在每条X射线所在方向上的厚度；根据位于被测对象的同一个截面的每条X射线对应的厚度，确定相应截面的面积；根据被测对象的截面的面积确定被测对象的体积。通过将X射线扫描应用于体积测量中，可以通过X射线的测量结果获得被测对象的物质类型和多个位置、角度的尺寸信息，从而可以更准确地测量被测对象的体积。
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公开(公告)号：CN109917479A
公开(公告)日：2019-06-21
申请号：CN201910279867.8
申请日：2019-04-09
申请人： 同方威视技术股份有限公司 , 同方威视科技(北京)有限公司 , 清华大学
摘要： 本公开提出一种车辆检查方法、装置、系统和计算机可读存储介质，涉及安检技术领域。本公开的一种车辆检查方法包括：通过垂直于通道方向测量的第一传感器获取车辆轮廓信息，根据车辆轮廓信息确定车辆的特征点；通过沿通道方向测量的第二传感器确定车辆在通道内的位置，根据车辆在通道内的位置确定特征点的位置；根据特征点的位置和射线源的位置关系，基于预定策略切换射线源的工作模式。通过这样的方法，能够基于第一、第二传感器的探测结果得到车辆的位置和侧面轮廓，继而确定切换射线源工作模式的时机，提高确定的工作模式切换时机的准确度。
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公开(公告)号：CN109781203A
公开(公告)日：2019-05-21
申请号：CN201910108207.3
申请日：2019-02-03
申请人： 同方威视技术股份有限公司 , 同方威视科技(北京)有限公司 , 清华大学
IPC分类号： G01F17/00
摘要： 本发明涉及一种体积测量装置、扫描检查设备和体积测量方法，其中体积测量装置包括：第一测量装置，用于测量沿第一方向每间隔预设时间依次截取的被测物在垂直于第一方向上的各截面的面积，第一方向为第一测量装置与被测物之间发生相对位移的方向；第二测量装置，用于测量在每个预设时间内被测物与第一测量装置之间的相对位移；和体积计算装置，用于根据第一测量装置和第二测量装置的测量结果对各截面面积与对应预设时间内的位移的乘积进行累加求和，以获得被测物的体积。本发明可以对运动的被测物进行测量，对被测物的形状也没有限制，适用范围较广；测量过程减少了人工参与，避免测量精度受人为因素影响，测量结果更加准确和可靠。
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