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公开(公告)号：CN109407163B
公开(公告)日：2024-05-31
申请号：CN201910009050.9
申请日：2019-01-04
申请人： 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司 , 同方威视科技(北京)有限公司
IPC分类号： G01V5/22
摘要： 本公开提供一种辐射检查系统和辐射检查方法。辐射检查系统包括多个辐射检查通道，用于通过被检物；辐射源，设于多个辐射检查通道围成的区域内，用于向多个辐射检查通道发射辐射检查射线以对通过多个辐射检查通道内的被检物进行辐射检查；探测装置，用于探测多个辐射检查通道内被辐射检查射线照射的待检物的透射射线和/或背散射射线。该辐射检查系统具有多个辐射检查通道，可以同时对多个被检物进行辐射检查，同时可以有效利用辐射源发出的多个角度的辐射检查射线。
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公开(公告)号：CN118091776A
公开(公告)日：2024-05-28
申请号：CN202410225429.4
申请日：2019-01-04
申请人： 清华大学 , 同方威视科技(北京)有限公司 , 同方威视技术股份有限公司
IPC分类号： G01V5/22
摘要： 本发明涉及一种扫描检查系统和扫描检查方法，其中扫描检查系统，包括：检测装置，用于检测被检物(2；2′)的防护属性；扫描装置(1)，可动地设置，用于在运动的过程中发射扫描射线以对所述被检物(2；2′)进行扫描检查，其具有至少两个工作模式，每个所述工作模式对应的扫描射线的剂量与其他所述工作模式对应的扫描射线的剂量不同；和控制装置，用于根据所述检测装置所检测的所述被检物(2；2′)的防护属性调节所述扫描装置(1)的工作模式。本发明可以根据被检物的防护属性实现针对性检查，有效保护需要避让的被检物，同时避免漏检；可以适应倒车以及混编等复杂情况。
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公开(公告)号：CN109932755A
公开(公告)日：2019-06-25
申请号：CN201910108201.6
申请日：2019-02-03
申请人： 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学 , 同方威视科技(北京)有限公司
IPC分类号： G01V5/00
摘要： 本公开涉及一种可行走式检查设备及控制方法。可行走式检查设备包括：第一车体(10)和设置在第一车体(10)中的射线源(40)；第二车体(20)和设置在第二车体(20)上的防护墙；臂架(30)和设置在所述臂架(30)上的多个探测器(50)，所述臂架(30)分别与所述第一车体(10)和所述第二车体(20)可转动地连接；至少两个独立驱动和独立转向的第一驱动轮(60)，设置在所述第一车体(10)上，用于实现所述第一车体(10)的行走和转向；和至少两个独立驱动和独立转向的第二驱动轮(70)，设置在所述第二车体(20)上，用于实现所述第二车体(20)的行走和转向。本公开实施例能够满足更加灵活的工作需求。
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公开(公告)号：CN109407163A
公开(公告)日：2019-03-01
申请号：CN201910009050.9
申请日：2019-01-04
申请人： 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司 , 同方威视科技(北京)有限公司
IPC分类号： G01V5/00
摘要： 本公开提供一种辐射检查系统和辐射检查方法。辐射检查系统包括多个辐射检查通道，用于通过被检物；辐射源，设于多个辐射检查通道围成的区域内，用于向多个辐射检查通道发射辐射检查射线以对通过多个辐射检查通道内的被检物进行辐射检查；探测装置，用于探测多个辐射检查通道内被辐射检查射线照射的待检物的透射射线和/或背散射射线。该辐射检查系统具有多个辐射检查通道，可以同时对多个被检物进行辐射检查，同时可以有效利用辐射源发出的多个角度的辐射检查射线。
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公开(公告)号：CN117784266A
公开(公告)日：2024-03-29
申请号：CN202311841468.9
申请日：2023-12-28
申请人： 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司 , 同方威视科技(北京)有限公司
摘要： 本公开提供了一种辐射检测系统，涉及辐射检测领域、安全检查领域或其他领域。该辐射检测系统包括第一射线扫描设备和第二射线扫描设备。第一射线扫描设备包括第一靶点，所述第一靶点发出射线用以扫描对象的第一区域；第二射线扫描设备包括第二靶点，所述第二靶点相比所述第一靶点更接近地面，所述第二靶点发出的射线用以扫描所述对象的第二区域；其中，所述第二区域中至少部分区域位于所述第一区域之外，且所述至少部分区域在竖直方向上位于所述第一区域的下方。本公开还提供了一种辐射检测装置。
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公开(公告)号：CN117784265A
公开(公告)日：2024-03-29
申请号：CN202311835696.5
申请日：2023-12-28
申请人： 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司 , 同方威视科技(北京)有限公司
摘要： 本公开涉及一种辐射检查系统，用于对被检对象(101)进行扫描检查，辐射检查系统包括：第一光源(1)，包括沿高度方向(z)间隔设置的多个子光源(11)，多个子光源(11)被配置为独立发出射线束；透射探测器组件(2)，与第一光源(1)沿第一方向(x)相对间隔设置形成检查通道(3)，检查通道(3)用于供被检对象(101)通过且沿第二方向(y)延伸，透射探测器组件(2)被配置为接收第一光源(1)的透射光束；和准直器(4)，位于第一光源(1)和透射探测器组件(2)之间且靠近第一光源(1)所在侧，准直器(4)设有沿高度方向(z)设置的多个准直口(41)，多个准直口(41)被配置为限制多个子光源(11)发出光束的形状。
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公开(公告)号：CN109990744B
公开(公告)日：2020-09-11
申请号：CN201910275709.5
申请日：2019-04-08
申请人： 同方威视技术股份有限公司 , 同方威视科技(北京)有限公司 , 清华大学
IPC分类号： G01B15/00
摘要： 本发明公开了一种体积测量方法、装置、系统和计算机可读存储介质，涉及辐射领域。体积测量方法，包括：根据从加速器靶点发射的多条X射线的测量结果，确定被测对象在每条X射线所在方向上的厚度；根据位于被测对象的同一个截面的每条X射线对应的厚度，确定相应截面的面积；根据被测对象的截面的面积确定被测对象的体积。通过将X射线扫描应用于体积测量中，可以通过X射线的测量结果获得被测对象的物质类型和多个位置、角度的尺寸信息，从而可以更准确地测量被测对象的体积。
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公开(公告)号：CN109682934A
公开(公告)日：2019-04-26
申请号：CN201910108228.5
申请日：2019-02-03
申请人： 同方威视技术股份有限公司 , 同方威视科技(北京)有限公司 , 清华大学
CPC分类号： G01N33/0009 , G01B11/00 , G01B11/24
摘要： 本公开涉及一种电子鼻定位装置及定位方法。电子鼻定位装置包括：载体(10)；电子鼻(20)，设置在所述载体(10)上；调整机构(30)，用于调整所述电子鼻(20)的采集位置；和激光传感单元(40)，设置在所述载体(10)、所述电子鼻(20)或者所述调整机构(30)上，用于对待检对象(60)进行扫描，以确定所述待检对象(60)的气味采集部位(61)的位置。本公开实施例能够简化电子鼻的检查流程。
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公开(公告)号：CN109521480A
公开(公告)日：2019-03-26
申请号：CN201910008952.0
申请日：2019-01-04
申请人： 同方威视科技(北京)有限公司 , 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
IPC分类号： G01V5/00
摘要： 本公开提供了一种辐射检查设备和辐射检查方法。辐射检查设备包括：辐射探测装置，包括射线源和与射线源配合以对被检物进行扫描检查的探测器，辐射探测装置具有用于被检物在接受扫描检查时通过的检查通道；和行走轮，设置于辐射探测装置的底部，用于辐射检查设备沿检查通道的延伸方向行走，其中，行走轮设置为可旋转90°以使辐射检查设备沿垂直于检查通道的延伸方向的方向行走。基于本公开提供的辐射检查设备和辐射检查方法，可以实现对多排被检物的连续扫描检查，提高辐射检查设备的使用效率。
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公开(公告)号：CN109932755B
公开(公告)日：2024-05-03
申请号：CN201910108201.6
申请日：2019-02-03
申请人： 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学 , 同方威视科技(北京)有限公司
IPC分类号： G01V5/22
摘要： 本公开涉及一种可行走式检查设备及控制方法。可行走式检查设备包括：第一车体(10)和设置在第一车体(10)中的射线源(40)；第二车体(20)和设置在第二车体(20)上的防护墙；臂架(30)和设置在所述臂架(30)上的多个探测器(50)，所述臂架(30)分别与所述第一车体(10)和所述第二车体(20)可转动地连接；至少两个独立驱动和独立转向的第一驱动轮(60)，设置在所述第一车体(10)上，用于实现所述第一车体(10)的行走和转向；和至少两个独立驱动和独立转向的第二驱动轮(70)，设置在所述第二车体(20)上，用于实现所述第二车体(20)的行走和转向。本公开实施例能够满足更加灵活的工作需求。
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