一种基于自适应稀疏回归方法的配电网拓扑结构重建方法

    公开(公告)号:CN109193635B

    公开(公告)日:2020-09-11

    申请号:CN201811145656.7

    申请日:2018-09-29

    Abstract: 本发明涉及一种基于自适应稀疏回归方法的配电网拓扑结构重建方法,属于配电网拓扑分析技术领域。本发明的配电网拓扑结构重建方法,针对配电网不易安装支路测量设备的特点,设计出不需要配电网先验知识以及支路测量数据的算法,仅通过配电网母线的时序电压数据就可完成配电网的拓扑重建,方法简单易行。本发明在原有的Lasso类算法之上,运用自适应Lasso算法,解决了有偏估计的问题。同时,增加了补充判据,对于算法在不满足可行条件时的错误估计进行了修正,提高了算法的准确率。本方法既可以在无环网络中进行应用,也可以在有环网络中进行应用,且可以在较短的时间内进行配电网的拓扑重建。

    一种基于自适应稀疏回归方法的配电网拓扑结构重建方法

    公开(公告)号:CN109193635A

    公开(公告)日:2019-01-11

    申请号:CN201811145656.7

    申请日:2018-09-29

    Abstract: 本发明涉及一种基于自适应稀疏回归方法的配电网拓扑结构重建方法,属于配电网拓扑分析技术领域。本发明的配电网拓扑结构重建方法,针对配电网不易安装支路测量设备的特点,设计出不需要配电网先验知识以及支路测量数据的算法,仅通过配电网母线的时序电压数据就可完成配电网的拓扑重建,方法简单易行。本发明在原有的Lasso类算法之上,运用自适应Lasso算法,解决了有偏估计的问题。同时,增加了补充判据,对于算法在不满足可行条件时的错误估计进行了修正,提高了算法的准确率。本方法既可以在无环网络中进行应用,也可以在有环网络中进行应用,且可以在较短的时间内进行配电网的拓扑重建。

    用于射线检查的成像系统和方法

    公开(公告)号:CN115105110B

    公开(公告)日:2024-11-08

    申请号:CN202111204463.6

    申请日:2021-10-15

    Abstract: 本发明涉及用于射线检查的成像系统和方法。一种用于射线检查的成像系统包括:检查区域,包括成像区域;第一射线源组件,其所有第一靶点布置在第一射线源平面内;第一探测器组件,其多个第一探测器单元布置在探测器平面内,探测器平面与第一射线源平面沿被检查对象的行进方向间隔开预定距离;和射线源控制装置,其构造成当被检查对象的感兴趣区域至少部分地位于成像区域中时,使得第一射线源组件在同一时刻从至少两个第一靶点同时向成像区域发射X射线,在第一射线源组件的同时向成像区域发射X射线的至少两个第一靶点中,每个第一靶点的射线发射范围都能够覆盖成像区域,并且任两个第一靶点的射线发射范围对应的第一探测器晶体互相不重合。

    射线透射和荧光CT成像系统和成像方法

    公开(公告)号:CN118058764A

    公开(公告)日:2024-05-24

    申请号:CN202410256870.9

    申请日:2017-07-25

    Abstract: 本发明公开了一种射线透射和荧光CT成像系统和成像方法。该系统包括:射线源,发出射线束;旋转扫描设备,对被检查对象执行旋转CT扫描;透射CT探测器,接收射线源发出的穿过被检查对象的射线束;荧光CT探测器,接收射线源发出的射线束照射在被检查对象内所激发产生的荧光光子;数据采集单元,分别采集来自透射CT探测器的透射数据信号和来自荧光CT探测器的荧光数据信号;以及控制和数据处理单元,控制所述射线源发出射线束,控制旋转扫描设备对被检查对象执行旋转CT扫描,并且基于所述透射数据信号和荧光数据信号,同时获得透射CT图像和荧光CT图像。利用上述技术方案,能够通过单次圆周扫描即可实现对检查对象的同时透射CT和荧光CT成像,大大提高了现有的荧光CT成像的速度。

    用于射线检查的成像系统和方法
    5.
    发明公开

    公开(公告)号:CN119184720A

    公开(公告)日:2024-12-27

    申请号:CN202411318154.5

    申请日:2021-10-15

    Abstract: 本发明涉及用于射线检查的成像系统和方法。一种用于射线检查的成像系统包括:检查区域,包括成像区域;第一射线源组件,其所有第一靶点布置在第一射线源平面内;第一探测器组件,其多个第一探测器单元布置在探测器平面内,探测器平面与第一射线源平面沿被检查对象的行进方向间隔开预定距离;和射线源控制装置,其构造成当被检查对象的感兴趣区域至少部分地位于成像区域中时,使得第一射线源组件在同一时刻从至少两个第一靶点同时向成像区域发射X射线,在第一射线源组件的同时向成像区域发射X射线的至少两个第一靶点中,每个第一靶点的射线发射范围都能够覆盖成像区域,并且任两个第一靶点的射线发射范围对应的第一探测器晶体互相不重合。

    物品成像方法、装置、设备、系统和介质

    公开(公告)号:CN115641388A

    公开(公告)日:2023-01-24

    申请号:CN202110816151.4

    申请日:2021-07-19

    Abstract: 本公开提供了一种物品成像方法,包括:获取由多个射线源对待检物品进行扫描而生成的多组二维数据;基于多组二维数据,生成针对第一方向的多个二维投影图像和/或针对第二方向的至少一个二维投影图像,第一方向包括射线源到检测通道中心或待检物品的方向,第二方向包括检测通道上除射线源所处位置之外的其他位置到检测通道中心或待检物品的方向;基于来自用户的选择指令,从所生成的二维投影图像中选择一个或多个二维投影图像;基于多组二维数据,得到与所选择的二维投影图像相对应的目标二维投影图像以便进行显示,目标二维投影图像与至少部分待检物品相对应。本公开还提供了一种物品成像装置、设备、系统、介质和程序产品。

    用于射线检查的成像系统和方法

    公开(公告)号:CN115105110A

    公开(公告)日:2022-09-27

    申请号:CN202111204463.6

    申请日:2021-10-15

    Abstract: 本发明涉及用于射线检查的成像系统和方法。一种用于射线检查的成像系统包括:检查区域,包括成像区域;第一射线源组件,其所有第一靶点布置在第一射线源平面内;第一探测器组件,其多个第一探测器单元布置在探测器平面内,探测器平面与第一射线源平面沿被检查对象的行进方向间隔开预定距离;和射线源控制装置,其构造成当被检查对象的感兴趣区域至少部分地位于成像区域中时,使得第一射线源组件在同一时刻从至少两个第一靶点同时向成像区域发射X射线,在第一射线源组件的同时向成像区域发射X射线的至少两个第一靶点中,每个第一靶点的射线发射范围都能够覆盖成像区域,并且任两个第一靶点的射线发射范围对应的第一探测器晶体互相不重合。

    射线透射和荧光CT成像系统和成像方法

    公开(公告)号:CN107315019A

    公开(公告)日:2017-11-03

    申请号:CN201710616773.6

    申请日:2017-07-25

    Abstract: 本发明公开了一种射线透射和荧光CT成像系统和成像方法。该系统包括:射线源,发出射线束;旋转扫描设备,对被检查对象执行旋转CT扫描;透射CT探测器,接收射线源发出的穿过被检查对象的射线束;荧光CT探测器,接收射线源发出的射线束照射在被检查对象内所激发产生的荧光光子;数据采集单元,分别采集来自透射CT探测器的透射数据信号和来自荧光CT探测器的荧光数据信号;以及控制和数据处理单元,控制所述射线源发出射线束,控制旋转扫描设备对被检查对象执行旋转CT扫描,并且基于所述透射数据信号和荧光数据信号,同时获得透射CT图像和荧光CT图像。利用上述技术方案,能够通过单次圆周扫描即可实现对检查对象的同时透射CT和荧光CT成像,大大提高了现有的荧光CT成像的速度。

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