利索-全球专利检索

  1. 登录
  2. 注册

搜索结果

242 条记录 (耗时 0.018 秒)

    X光探伤机支架
    4.
    发明公开
    X光探伤机支架 无效

    公开(公告)号：CN108870032A

    公开(公告)日：2018-11-23

    申请号：CN201710335213.3

    申请日：2017-05-12

    申请人： 上海船厂船舶有限公司

    发明人： 郭春晖 ,  钱银森 ,  刘飞 ,  张洪春 ,  杨生贤 ,  陆文斌

    IPC分类号： F16M13/02 ,  F16L3/00

    CPC分类号： F16M13/022 ,  F16B2001/0035 ,  F16L3/00 ,  G01N23/04 ,  G01N2223/1016 ,  G01N2223/30 ,  G01N2223/631 ,  G01N2223/646

    摘要： 本发明公开了一种X光探伤机支架，所述X光探伤机支架包含至少一个磁力表座和支架本体，所述磁力表座具有吸附面，所述磁力表座的吸附面用于吸附于待探伤物体的竖直表面，所述支架本体包括水平部和第一垂直部，所述第一垂直部的顶部与所述磁力表座连接，所述第一垂直部的底部与所述水平部固定，所述水平部的一端用于抵靠于所述待探伤物体的竖直表面，使所述水平部水平设置。该X光探伤机支架，通过将磁力表座吸附在待检测的船舶外板的表面，使与磁力表座相连接的支架本体与船舶外板的位置相对固定，因此安装和拆卸该支架都十分简便，且拆卸后船舶外板表面不留痕迹、不产生后期工作，能够有效降低生产成本，提高生产效率。

    钻石快速批量筛选检测仪及钻石批量筛选方法
    6.
    发明公开
    钻石快速批量筛选检测仪及钻石批量筛选方法 有权

    公开(公告)号：CN108709900A

    公开(公告)日：2018-10-26

    申请号：CN201810890371.X

    申请日：2018-08-07

    申请人： 杨欣薇

    发明人： 杨欣薇

    IPC分类号： G01N23/223 ,  G01N23/2206 ,  G01N23/04 ,  G01N21/64

    CPC分类号： G01N23/223 ,  G01N21/64 ,  G01N23/04 ,  G01N23/2206 ,  G01N2223/03 ,  G01N2223/071 ,  G01N2223/076 ,  G01N2223/1016

    摘要： 本发明公开了钻石快速批量筛选检测仪及钻石批量筛选方法，属于测量测试的技术领域，尤其涉及利用光学手段检测天然钻石的技术领域。该检测仪包括：样品腔、托盘、X射线管、X射线高压电源、波长不同的两个紫外光源、照相机、白光光源、可伸缩机械臂、固定在可伸缩机械臂臂杆末端的X射线显示屏、控制器，通过可伸缩机械臂将用于显示X射线成像的显示屏传递至照相机镜头与样品成像平面之间，透视成像光学元件X射线管和显示屏分别位于样品两侧，将X射线荧光照片和磷光照片及影像照片、紫外线荧光照片、紫外线磷光照片与样品原始位置照片对比实现了从样品中快速批量地检出各类非天然钻石。

    用于X射线单晶衍射仪的卡帕测角仪的防碰撞控制方法
    7.
    发明公开
    用于X射线单晶衍射仪的卡帕测角仪的防碰撞控制方法 有权

    公开(公告)号：CN108693893A

    公开(公告)日：2018-10-23

    申请号：CN201710222703.2

    申请日：2017-04-07

    申请人： 中国科学院沈阳计算技术研究所有限公司

    发明人： 于碧辉 ,  马跃

    IPC分类号： G05D3/12

    CPC分类号： G05D3/12 ,  G01N23/20016 ,  G01N2223/056 ,  G01N2223/1016 ,  G01N2223/306 ,  G01N2223/604

    摘要： 本发明涉及用于X射线单晶衍射仪的卡帕测角仪的防碰撞控制方法，包括以下步骤：判断卡帕几何测角仪各转动轴的转动角度满足转动区间条件；实时检测几何测角仪各转动轴的转动角度，进行双轴防碰撞转动控制。本发明能够很好的解决单轴顺序转动的防碰撞问题，能够很好运用于基于网络的远程测角仪控制中的防碰撞预检测。本发明设计的用于X射线单晶衍射仪的卡帕几何测角仪的防碰撞控制方法具有良好的可靠性，能够保证X射线单晶衍射仪在实验过程中，通过网络远程控制软件的控制，卡帕几何测角仪的各个转动轴按实验目标角度转动，并且四圆上的设备相互不发生碰撞。

    基于横向错位光栅的X射线光栅差分相位衬度三维锥束计算机层析成像方法及装置
    8.
    发明公开
    基于横向错位光栅的X射线光栅差分相位衬度三维锥束计算机层析成像方法及装置 有权

    公开(公告)号：CN108680589A

    公开(公告)日：2018-10-19

    申请号：CN201810550520.8

    申请日：2018-05-31

    申请人： 北京航空航天大学

    发明人： 傅健 ,  胡棪君

    IPC分类号： G01N23/041 ,  G01N23/046 ,  G01N23/083

    CPC分类号： G01N23/041 ,  G01N23/046 ,  G01N23/083 ,  G01N2223/04 ,  G01N2223/1016 ,  G01N2223/401

    摘要： 本发明公开了一种基于横向错位光栅的X射线光栅差分相位衬度三维锥束计算机层析成像方法及装置，该方法包括：以横向错位吸收光栅布置Talbot‑Lau三维锥束层析成像结构；以上述结构获取X射线穿过物体后的二维强度图像序列；以傅里叶分析法从采集到的二维强度图像中分离出X射线吸收衬度、差分相位衬度及散射衬度三种图像序列；利用吸收衬度、差分相位衬度和散射衬度滤波反投影重建算法分别对三种衬度图像序列进行图像重建获得物体三种衬度CT切片图像。本发明无需对吸收光栅进行步进，以传统基于X射线衰减的CT扫描方法即可获得三种衬度CT切片图像，大幅减小了成像时间，降低了成像剂量，提高了系统成像效率和稳定性。

    一种X光晶元检测设备
    9.
    发明公开
    一种X光晶元检测设备 无效

    公开(公告)号：CN108398443A

    公开(公告)日：2018-08-14

    申请号：CN201810206554.5

    申请日：2018-03-14

    申请人： 深圳市昱燊科技有限公司

    发明人： 李雅媚

    IPC分类号： G01N23/04

    CPC分类号： G01N23/04 ,  G01N2223/03 ,  G01N2223/1016 ,  G01N2223/604

    摘要： 本发明公开了一种X光晶元检测设备，包括控制箱和检测箱，所述控制箱和检测箱下端均设置有多个滑轮，所述控制箱上端左侧设置有扫描仪，所述控制箱上端中部设置有键盘，所述控制箱上端右侧设置有鼠标，所述控制箱前侧面板右侧从上至下依次设置有应急按钮、控制开关和总开关，所述检测箱前侧中部设置有显示屏。本发明在结构上设计合理，使用起来操作方便，能自动识别产品，检测结果实时反馈，实用价值很高；滑轮可以方便设备的移动，省时省力，为设备的转移提供方便；在光线较暗时，灯管可以提供照明，使其不影响检测结果；X光检测装置可在X轴导轨和Y轴导轨做上下、左右移动，不存在检测盲区。

    封闭式X射线成像系统
    10.
    发明授权
    封闭式X射线成像系统 有权

    公开(公告)号：CN105264362B

    公开(公告)日：2018-06-12

    申请号：CN201480027452.7

    申请日：2014-05-12

    申请人： 尼康计量公众有限公司

    发明人： K·苏祖基 ,  D·希尔顿

    IPC分类号： G01N23/04

    CPC分类号： G01N23/046 ,  G01N2223/1016 ,  G01N2223/31 ,  G01N2223/419

    摘要： 根据本公开，提供一种X射线成像系统，包括：X射线源；X射线探测器；样品底座，其用于将样品架置于在所述X射线源与所述X射线探测器之间的束路径中；封闭物，其至少将所述样品底座封闭在所述封闭物的内部；以及气候控制系统，其用于调节所述封闭物里面的气候，其中：所述封闭物具有孔径，其用于实现从所述封闭物外面对至少所述样品底座的访问；所述封闭物装备有门，所述门可在打开位置与关闭位置之间操作，在所述打开位置中所述孔径打开，在所述关闭位置中所述孔径被所述门关闭；并且所述气候控制系统可操作为提供在所述封闭物的所述内部与所述封闭物的外部之间的正压差，使得当所述门打开时，所述封闭物的所述内部被维持在比所述封闭物的所述外部更高的压力。这样的系统能够更好地调节所述封闭物里面的温度，即使是在所述门被打开时。