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公开(公告)号：CN118362794A
公开(公告)日：2024-07-19
申请号：CN202410413675.2
申请日：2024-04-08
申请人： 清华大学 , 山东泰开高压开关有限公司
IPC分类号： G01R29/24
摘要： 本发明公开了一种基于开尔文静电探头的盆式绝缘子表面电荷激增在线测量方法，所述基于开尔文静电探头的盆式绝缘子表面电荷激增在线测量方法，包括以下步骤：设置开尔文静电探头，使所述开尔文静电探头朝向盆式绝缘子的浇筑口且所述开尔文静电探头与所述盆式绝缘子间隔开；通过所述开尔文静电探头检测所述浇筑口处的所述盆式绝缘子表面电势的变化量和变化速率推断所述盆式绝缘子表面电荷变化情况。根据本发明实施例的基于开尔文静电探头的盆式绝缘子表面电荷激增在线测量方法能够实现非接触式在线测量，无需改变盆式绝缘子原有结构，具有准确性高、成本低等优点。
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公开(公告)号：CN117607625A
公开(公告)日：2024-02-27
申请号：CN202311340466.1
申请日：2023-10-17
申请人： 清华大学
IPC分类号： G01R31/12
摘要： 本申请涉及电力技术领域，特别涉及一种绝缘子表面凝露放电实验方法、系统及存储介质，其中，方法包括：通过人工凝露模拟自然凝露的方式在支柱绝缘子表面形成人工凝露；获取单位表面积凝露的第一质量增加速率和单位时间凝露的第一平均直径，直到第一质量增加速率和第一平均直径均达到预设实验要求时，停止人工凝露模拟自然凝露；对绝缘子表面进行凝露放电实验得到凝露放电谱图。由此，解决了相关技术中支柱绝缘子表面凝露放电实验时凝露形成时间长，缺少对凝露状态的定量等问题。
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公开(公告)号：CN118566653A
公开(公告)日：2024-08-30
申请号：CN202410484366.4
申请日：2024-04-22
申请人： 清华大学
IPC分类号： G01R31/12
摘要： 本申请提出基于相位解析光子计数的GIS/GIL微缺陷在线监测方法及系统，所述方法包括：对带电运行的GIS/GIL包含绝缘件的分段施加测试交流电，并以所述交流电的电压作为触发源触发分段内绝缘件，以诱发所述分段内绝缘件产生电致发光信息；根据所述电致发光信息，并利用光子计数测量装置测量预设时长的各周期内所述分段内绝缘件的光子计数数据；根据所述预设时长的各周内所述分段内绝缘件的光子计数数据判断所述分段内绝缘件是否存在缺陷。本申请提出的技术方案，不受现场电磁、震动噪声干扰且能识别内部达不到放电条件的微缺陷，对于特高压直流输电设备缺陷早期预警、降低故障概率、提升运行安全性具有重大意义。
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公开(公告)号：CN118566655A
公开(公告)日：2024-08-30
申请号：CN202410491190.5
申请日：2024-04-23
申请人： 清华大学
摘要： 本发明涉及特高压直流输电设备状态评估、绝缘微缺陷检测技术领域，特别涉及一种GIS/GIL微缺陷离线检测方法及装置，其中，方法包括：对待测绝缘件试样施加测试交流电，并将测试交流电的电压作为触发源触发待测绝缘件试样，以诱发待测绝缘件试样的电致发光信息；基于电致发光信息，利用光子计算探头测量预设时间段内待测绝缘件试样的光子计数数据；根据光子计数数据判断待测绝缘件试样是否存在缺陷。由此，解决了传统的GIS/GIL缺陷检测方法多以局放相关技术实现，受现场电磁、震动噪声干扰且不能识别内部达不到放电条件，难以满足GIS/GIL缺陷高精度检测的要求等问题。
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公开(公告)号：CN118566654A
公开(公告)日：2024-08-30
申请号：CN202410484367.9
申请日：2024-04-22
申请人： 清华大学
IPC分类号： G01R31/12
摘要： 本申请提出用于缺陷检测的电致发光光子计数相位解析方法及系统，所述方法包括：对待测绝缘件试样施加测试交流电，并以所述交流电的电压作为触发源触发绝缘件试样，以诱发所述绝缘件试样产生电致发光信息；基于所述电致发光信息并利用光子计数测量装置测量预设时长的各周期内所述绝缘件试样的光子计数数据；根据所述预设时长的各周内所述绝缘件试样的光子计数数据确定所述绝缘件试样在预设时长内的相位解析模式图谱。本申请提出的技术方案，不受现场电磁、震动噪声干扰并能识别内部缺陷放电发展早期劣化信息，进而可以精确的提取出绝缘件试样在预设时长内的相位解析模式图谱，进而促进特高压直流输电设备缺陷早期预警及微缺陷检测研究水平。
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公开(公告)号：CN115902441A
公开(公告)日：2023-04-04
申请号：CN202211280183.8
申请日：2022-10-19
申请人： 清华大学 , 江苏金鑫电器有限公司
摘要： 本申请公开了一种高压直流GIL绝缘子表面电荷测量平台及测量方法，其中，测量平台包括：横向滑台；纵向滑台；径向滑台；第一步进电机控制旋转轴一端的静电探头绕旋转轴的自身轴旋转；第二步进电机，用于调整静电探头的旋转角度，控制静电探头与被测绝缘子表面垂直；控制件，用于控制横向滑台移动使得静电探头移动至绝缘子表面，并控制纵向滑台和径向滑台使得静电探头绕管道中心轴线进行圆周运动和控制第一步进电机带动旋转轴绕自身轴旋转的同时，控制第二步进电机调整静电探头的旋转角度，使得静电探头与被测绝缘子表面垂直，以通过静电探头旋转来测量绝缘子表面电荷。可实现整个绝缘子表面电荷的测量，且有效性和准确性较高。
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公开(公告)号：CN115712027A
公开(公告)日：2023-02-24
申请号：CN202211280154.1
申请日：2022-10-19
申请人： 清华大学 , 江苏金鑫电器有限公司
摘要： 本申请公开了一种高压直流GIL三支柱绝缘子表面电荷测量平台及测量方法，通过控制移动装置将被测三支柱绝缘子移动至静电探头的预设范围内，控制静电探头位置控制装置使得静电探头绕被测三支柱绝缘子的中心轴旋转和探头支架同步自转的同时静电探头垂直于被测三支柱绝缘子，使得静电探头沿被测三支柱绝缘子中心轴的移动，通过调整静电探头与被测三支柱绝缘子表面的角度，完成整个被测三支柱绝缘子表面电荷的测量。由此，提高了三支柱绝缘子表面电荷测量的准确性。
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