一种复合绝缘材料老化状态检测方法

    公开(公告)号:CN105572102A

    公开(公告)日:2016-05-11

    申请号:CN201610029402.3

    申请日:2016-01-15

    CPC classification number: G01N21/718 G01J3/443 G01N21/952 H01B3/28 H01B3/46

    Abstract: 一种复合绝缘材料老化状态检测方法,包括以下步骤:S1、用脉冲激光束多次轰击待检测的复合绝缘材料表面上的选取点,产生等离子体,并测量每次轰击在复合绝缘材料上形成的轰击深度;S2、采集每次轰击时等离子体发射的光谱信息,由采集到的光谱信息提取复合绝缘材料的特定组成元素每次轰击时的光谱特性指标,其至少包括特征谱线的谱线强度特征;S3、确定特定组成元素的光谱特性指标随轰击深度的变化关系;S4、根据特定组成元素的光谱特性指标随轰击深度的变化关系,确定复合绝缘材料的老化状态信息,老化状态信息至少包括复合绝缘材料的老化深度信息。该方法可实现对复合材料老化状态快速、准确的检测,且避免以往所需的破坏性试验。

    一种绝缘子表面等值盐密测量方法及装置

    公开(公告)号:CN106770070A

    公开(公告)日:2017-05-31

    申请号:CN201610994918.1

    申请日:2016-11-11

    CPC classification number: G01N21/63

    Abstract: 本发明公开了一种绝缘子表面等值盐密测量方法及装置,包括以下步骤:S1,将脉冲激光光源聚焦于待检测的绝缘子的污秽表面,利用激光光源发出脉宽小于等于20ns的激光使得所述绝缘子表面的污秽物质被诱导形成等离子体,采集等离子体膨胀冷却过程中发射的光谱信息;S2,建立绝缘子表面污秽中常见可溶性盐中的各离子的密度与激光激发产生等离子体后的光谱特征之间的关系模型;S3,将步骤S1中采集的光谱信息输入步骤S2中的关系模型中,分析得到所述待检测的绝缘子表面的污秽物质的离子组成和各种离子的离子密度;S4,根据各种离子的离子密度计算污秽物质的等值盐密。本发明的测量方法及装置,不用停电取样,可实现污秽成分以及等值盐密的在线测量。

    一种复合绝缘材料表面硬度测试方法

    公开(公告)号:CN106501237A

    公开(公告)日:2017-03-15

    申请号:CN201610930829.0

    申请日:2016-10-31

    CPC classification number: G01N21/718

    Abstract: 一种复合绝缘材料表面硬度测试方法,包括以下步骤:S1、准备已测得其表面硬度的复合绝缘材料样品;S2、使用激光诱导击穿光谱方法(LIBS),用脉冲激光光束照射所述复合绝缘材料样品的表面,捕捉该表面的激光等离子体光谱;S3、建立所述激光等离子体光谱中选定元素的离子线与原子线比值与表面硬度值的函数关系;S4、使用激光诱导击穿光谱方法,用脉冲激光光束照射待测复合绝缘材料的表面,捕捉该表面的激光等离子体光谱;S5、根据步骤S4得到激光等离子体光谱,基于离子线与原子线比值与表面硬度值的函数关系确定待测复合绝缘材料的表面硬度。利用本方法可以对复合绝缘材料进行远程、带电的现场测试,快速获得精确的复合绝缘材料表面硬度值。

    一种绝缘子RTV涂层厚度的测量方法

    公开(公告)号:CN105352443B

    公开(公告)日:2016-09-28

    申请号:CN201510733835.2

    申请日:2015-11-02

    Abstract: 本发明公开了一种绝缘子RTV涂层厚度的测量方法,包括如下步骤:S1、用设定的脉冲激光对RTV涂层进行轰击,记录所述RTV涂层被击穿时激光的轰击次数x;S2、根据f(x)=ax+b计算所述RTV涂层的厚度f(x);其中,参数a和b通过如下实验步骤确定:用所述设定的脉冲激光对所述RTV涂层进行轰击,记录击穿的RTV涂层的厚度与对应激光轰击的次数;拟合曲线f(x)=ax+b,得到所述参数a和b。不论绝缘子RTV涂层运行年限,只要在校核后通过测量激光的轰击次数就可以获得RTV涂层的厚度值,适宜于现场应用。

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