一种具有温度补偿的红外热像仪快速自动对焦方法

    公开(公告)号:CN118354202A

    公开(公告)日:2024-07-16

    申请号:CN202410534825.5

    申请日:2024-04-30

    摘要: 本发明公开了一种具有温度补偿的红外热像仪快速自动对焦方法,该方法包括以下步骤:步骤1:在实验温箱中对红外热像仪进行不同温度和不同成像距离下的调焦模拟,存储不同温度和不同成像距离下的齐焦点;步骤2:以齐焦点为中心,根据不同温度和不同成像距离,动态拟合对焦区间范围;步骤3:驱动调焦电机在对焦区间范围内快速运动,通过计算图像梯度的方式找到对焦清晰点位置;步骤4:消除调焦电机运动空回,并驱动调焦电机回到清晰点位置,完成自动对焦。本发明极大的减少了红外热像仪图像自动对焦的时间,并且相应地提高了在不同温度和不同成像距离下的红外图像自动对焦的准确率。

    一种太赫兹近场显微成像检测仪

    公开(公告)号:CN107101941B

    公开(公告)日:2019-08-02

    申请号:CN201710206659.6

    申请日:2017-03-31

    IPC分类号: G01N21/01 G01N21/55 G01N21/59

    摘要: 本发明公开了一种太赫兹显微成像检测仪,包括平板以及长方体抛物面镜,所述的平板上依次设置有位于入射光路上的入射抛物面镜组、反射平面镜组和透射抛物面镜组以及位于反射光路上的聚波平面镜组、出射平面镜组和出射抛物面镜,所述的入射抛物面镜组上设置有抛物面镜,所述的透射抛物面镜组上设置有透射抛物面镜,所述的长方体抛物面镜前方设置有金属纳米探针;本发明采用双直线导轨移动椭圆形平面镜,实现两种测量方式迅速切换,太赫兹波均可汇聚到针尖和样品之间,从而实现两种测量方式的组合,以此保证了太赫兹反射式近场显微成像、太赫兹透射式近场显微成像的测量精度,解决了不同样品情况下不同测量方式的组合问题。

    光学机械扫描控制装置及电机控制方法

    公开(公告)号:CN115931125A

    公开(公告)日:2023-04-07

    申请号:CN202211553951.2

    申请日:2022-12-06

    IPC分类号: G01J3/06 H02P7/29

    摘要: 本发明公开了一种光学机械扫描控制装置,包括控制电路单元、动力单元、空间位置反馈单元、保护单元和测温单元;控制电路单元根据两端极限位置生成三段式扫描运动曲线,并产生与三段式扫描运动曲线相适应的占空比的PWM信号;其中,三段式扫描运动曲线包含第一段的启动加速过程,第二段的匀速运动过程和第三段的停止减速过程,其中第二段的匀速速度是光谱成像的目标速度;PWM信号的占空比值是根据当前温度数据以及预先设置的温度‑PWM值数据表拟合计算并经过自适应调节后得到,从而实现全温度范围内的扫描速度自适应匹配;动力单元,用于根据控制电路单元的PWM信号驱动光学扫描组件的扫描。

    一种太赫兹时域光谱测量系统

    公开(公告)号:CN108007897B

    公开(公告)日:2021-03-23

    申请号:CN201711212601.9

    申请日:2017-11-28

    IPC分类号: G01N21/3586

    摘要: 本发明公开了一种太赫兹时域光谱测量系统,包括飞秒激光系统、太赫兹发射装置、太赫兹探测装置、样品测量装置和延时扫描装置,所述飞秒激光系统输出泵浦激光和探测激光,分别传输给太赫兹发射装置和太赫兹探测装置,产生和探测太赫兹波,所述的太赫兹探测装置接收太赫兹波束并将其转化为电压信号,所述的样品测量装置位于太赫兹光路中,控制太赫兹波束入射样品,所述的延迟扫描装置改变太赫兹波束在太赫兹发射装置和太赫兹探测装置之间的传播光程;本发明可显著降低延时扫描装置中对光学反射面粗糙度和运动机构稳定性的苛刻要求、减小光路装调难度、大幅度缩减太赫兹时域光谱测量系统的器件成本。

    一种太赫兹辐射源装置
    5.
    发明公开

    公开(公告)号:CN106936053A

    公开(公告)日:2017-07-07

    申请号:CN201710162219.5

    申请日:2017-03-17

    IPC分类号: H01S1/02

    CPC分类号: H01S1/02

    摘要: 本发明公开了一种太赫兹辐射源装置,包括电光晶体和紧密贴合在电光晶体上下表面的上耦合棱镜和下耦合棱镜,所述的上耦合棱镜和下耦合棱镜由折射率大于电光晶体且对太赫兹波段透明的材料构成,电光晶体的非通光面涂覆有折射率较小的包层;本发明通过将折射率低于电光晶体的包层覆盖在电光晶体周围,降低了泵浦激光向外泄露的功率,提高了非线性转换的效率,采用两片太赫兹波耦合棱镜输出太赫兹波,减少了太赫兹在电光晶体表面的传输损耗,使得产生的太赫兹波能完整的耦合至空间中,具有结构紧凑、转换效率高、光谱范围宽、使用方便的优点,从而在无损检测、物质分析、成像等领域具有广泛的应用前景。

    基于温度参考和速度控制的快速自动对焦装置及控制方法

    公开(公告)号:CN118301472A

    公开(公告)日:2024-07-05

    申请号:CN202410373592.5

    申请日:2024-03-29

    IPC分类号: H04N23/67

    摘要: 本发明公开了一种基于温度参考和速度控制的快速自动对焦装置,属于自动控制技术领域,包括图像采集单元、图像处理单元、控制处理单元、温度检测单元、限位保护单元、位置反馈单元和电机执行单元;图像处理单元接收到图像数据后,计算出当前图像的清晰度评价值;控制处理单元通过温度检测单元实现温度采集,再基于温度拟合计算出图像清晰时对应的最小范围的调焦位置区间;控制处理单元设置了自动对焦过程中电机执行单元的调焦位置运动步骤和每个步骤的匹配速度;还公开了基于温度参考和速度控制的快速自动对焦方法;采用基于温度参考的调焦位置区间控制方法和运动步骤及速度控制相结合的方法,有效提高了自动对焦的速度和准确性。

    一种机载多视场/连续变焦热像仪过采样控制系统

    公开(公告)号:CN116017097A

    公开(公告)日:2023-04-25

    申请号:CN202211604216.X

    申请日:2022-12-13

    摘要: 本发明公开了一种机载多视场/连续变焦热像仪过采样控制系统,包括误差补偿模块、快反镜控制模块及探测器控制模块;其中误差补偿模块与多视场/连续变焦热像仪的信号与图像处理部件连接获取温度、图像亚像素位移量及视场/焦距信息;探测器控制模块与红外探测器组件连接驱动红外探测器进行积分采样;快反镜控制模块与机载伺服转台及二维快反镜连接,二维快反镜部署于热像仪望远光学系统与成像光学系统之间,通过二维快反镜驱动光路产生移动。本发明实现了安装于机载平台下的多视场/连续变焦热像仪对目标图像的过采样,提高了多视场/连续变焦热像仪的可分辨空间频率。

    一种太赫兹时域光谱测量系统

    公开(公告)号:CN108007897A

    公开(公告)日:2018-05-08

    申请号:CN201711212601.9

    申请日:2017-11-28

    IPC分类号: G01N21/3586

    摘要: 本发明公开了一种太赫兹时域光谱测量系统,包括飞秒激光系统、太赫兹发射装置、太赫兹探测装置、样品测量装置和延时扫描装置,所述飞秒激光系统输出泵浦激光和探测激光,分别传输给太赫兹发射装置和太赫兹探测装置,产生和探测太赫兹波,所述的太赫兹探测装置接收太赫兹波束并将其转化为电压信号,所述的样品测量装置位于太赫兹光路中,控制太赫兹波束入射样品,所述的延迟扫描装置改变太赫兹波束在太赫兹发射装置和太赫兹探测装置之间的传播光程;本发明可显著降低延时扫描装置中对光学反射面粗糙度和运动机构稳定性的苛刻要求、减小光路装调难度、大幅度缩减太赫兹时域光谱测量系统的器件成本。

    基于TDI机制的长波红外热像仪图像锯齿消除方法及系统

    公开(公告)号:CN118429209A

    公开(公告)日:2024-08-02

    申请号:CN202410511050.X

    申请日:2024-04-26

    IPC分类号: G06T5/70

    摘要: 本发明公开了一种基于TDI机制的长波红外热像仪图像锯齿消除方法及系统,属于红外成像领域,方法的实现包括:通过FPGA实现探测器像元图像信号的初步处理,根据初步处理后的探测器像元图像信号判断锯齿的长度列数;FPGA接收上位机发送的基于锯齿长度列数确定的缓存延迟列数指令,通过调节FIFO数据缓存中读写控制信号的时序,使探测器奇数行的数据提前缓存延迟列数指令确定的列数读出或者延后缓存延迟列数指令确定的列数读出;判断图像锯齿是否减小或增大,根据图像锯齿消除效果,选定合适的缓存延迟列数指令,以完成图像锯齿的在线调整。通过本发明无需重新进行非均匀性校正,对目标探测时图像不中断。

    一种太赫兹近场显微成像检测仪

    公开(公告)号:CN107101941A

    公开(公告)日:2017-08-29

    申请号:CN201710206659.6

    申请日:2017-03-31

    IPC分类号: G01N21/01 G01N21/55 G01N21/59

    CPC分类号: G01N21/01 G01N21/55 G01N21/59

    摘要: 本发明公开了一种太赫兹显微成像检测仪,包括平板以及长方体抛物面镜,所述的平板上依次设置有位于入射光路上的入射抛物面镜组、反射平面镜组和透射抛物面镜组以及位于反射光路上的聚波平面镜组、出射平面镜组和出射抛物面镜,所述的入射抛物面镜组上设置有抛物面镜,所述的透射抛物面镜组上设置有透射抛物面镜,所述的长方体抛物面镜前方设置有金属纳米探针;本发明采用双直线导轨移动椭圆形平面镜,实现两种测量方式迅速切换,太赫兹波均可汇聚到针尖和样品之间,从而实现两种测量方式的组合,以此保证了太赫兹反射式近场显微成像、太赫兹透射式近场显微成像的测量精度,解决了不同样品情况下不同测量方式的组合问题。