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公开(公告)号：CN107101941B
公开(公告)日：2019-08-02
申请号：CN201710206659.6
申请日：2017-03-31
Applicant: 湖北久之洋红外系统股份有限公司
Abstract: 本发明公开了一种太赫兹显微成像检测仪，包括平板以及长方体抛物面镜，所述的平板上依次设置有位于入射光路上的入射抛物面镜组、反射平面镜组和透射抛物面镜组以及位于反射光路上的聚波平面镜组、出射平面镜组和出射抛物面镜，所述的入射抛物面镜组上设置有抛物面镜，所述的透射抛物面镜组上设置有透射抛物面镜，所述的长方体抛物面镜前方设置有金属纳米探针；本发明采用双直线导轨移动椭圆形平面镜，实现两种测量方式迅速切换，太赫兹波均可汇聚到针尖和样品之间，从而实现两种测量方式的组合，以此保证了太赫兹反射式近场显微成像、太赫兹透射式近场显微成像的测量精度，解决了不同样品情况下不同测量方式的组合问题。
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公开(公告)号：CN107101941A
公开(公告)日：2017-08-29
申请号：CN201710206659.6
申请日：2017-03-31
Applicant: 湖北久之洋红外系统股份有限公司
Abstract: 本发明公开了一种太赫兹显微成像检测仪，包括平板以及长方体抛物面镜，所述的平板上依次设置有位于入射光路上的入射抛物面镜组、反射平面镜组和透射抛物面镜组以及位于反射光路上的聚波平面镜组、出射平面镜组和出射抛物面镜，所述的入射抛物面镜组上设置有抛物面镜，所述的透射抛物面镜组上设置有透射抛物面镜，所述的长方体抛物面镜前方设置有金属纳米探针；本发明采用双直线导轨移动椭圆形平面镜，实现两种测量方式迅速切换，太赫兹波均可汇聚到针尖和样品之间，从而实现两种测量方式的组合，以此保证了太赫兹反射式近场显微成像、太赫兹透射式近场显微成像的测量精度，解决了不同样品情况下不同测量方式的组合问题。
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公开(公告)号：CN106936053A
公开(公告)日：2017-07-07
申请号：CN201710162219.5
申请日：2017-03-17
Applicant: 湖北久之洋红外系统股份有限公司
IPC: H01S1/02
CPC classification number: H01S1/02
Abstract: 本发明公开了一种太赫兹辐射源装置，包括电光晶体和紧密贴合在电光晶体上下表面的上耦合棱镜和下耦合棱镜，所述的上耦合棱镜和下耦合棱镜由折射率大于电光晶体且对太赫兹波段透明的材料构成，电光晶体的非通光面涂覆有折射率较小的包层；本发明通过将折射率低于电光晶体的包层覆盖在电光晶体周围，降低了泵浦激光向外泄露的功率，提高了非线性转换的效率，采用两片太赫兹波耦合棱镜输出太赫兹波，减少了太赫兹在电光晶体表面的传输损耗，使得产生的太赫兹波能完整的耦合至空间中，具有结构紧凑、转换效率高、光谱范围宽、使用方便的优点，从而在无损检测、物质分析、成像等领域具有广泛的应用前景。
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公开(公告)号：CN206684449U
公开(公告)日：2017-11-28
申请号：CN201720264345.7
申请日：2017-03-17
Applicant: 湖北久之洋红外系统股份有限公司
Abstract: 本实用新型公开了一种新型太赫兹辐射源装置，包括电光晶体和设置在电光晶体上表面的耦合棱镜，所述的电光晶体下表面设置有光波导衬底，所述的电光晶体为泵浦光在其中的折射系数小于太赫兹波、当超短脉冲的泵浦光通过时产生太赫兹波段的切伦科夫辐射的非线性晶体，所述的耦合棱镜与电光晶体的太赫兹输出面紧紧贴合，所述的耦合棱镜为由折射率大于电光晶体且对太赫兹波段透明的材料构成；本实用新型装置可实现高功率、宽光谱范围的太赫兹波输出，具有结构紧凑、转换效率高、光谱范围宽的优点，从而在无损检测、物质分析、成像等领域具有广泛的应用前景。
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公开(公告)号：CN304281025S
公开(公告)日：2017-09-12
申请号：CN201730079935.8
申请日：2017-03-17
Applicant: 湖北久之洋红外系统股份有限公司
Abstract: 1．本外观设计产品的名称：太赫兹显微成像检测仪；
2．本外观设计产品的用途：本外观设计产品用于实验室的环境中观测各类半导体材料或生物细胞样品，实现光谱成分分析和结构成像；
3．本外观设计产品的设计要点：在于其整体结构；
4．最能表明本外观设计设计要点的图片或照片：主视图。
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