基于改进的yolov5的绝缘子缺陷检测方法

    公开(公告)号:CN114022432B

    公开(公告)日:2024-04-30

    申请号:CN202111261977.5

    申请日:2021-10-28

    发明人: 唐靓 余明慧

    摘要: 本发明涉及绝缘子缺陷检测技术,具体涉及基于改进的yolov5的绝缘子缺陷检测方法,包括采集绝缘子图像形成数据集;使用LabelImg标注工具对数据集进行标注;对所采集的图像进行数据增强处理;在YOLOv5的骨干网络中引入triplet attention模块;优化损失函数;将CIoU作为改进YOLOv5算法的bounding‑box损失函数LossCIoU;训练改进后的网络;将绝缘子图像数据集输入训练好的YOLOv5网络,得到输入图片中是否存在有缺陷的绝缘子以及该缺陷所在位置。该方法减少了漏检,消除了通道与权值之间的间接对应,以较小的计算开销达到了提高准确率的效果,提高了模型预测框架的精确定位能力。

    基于改进的yolov5的绝缘子缺陷检测方法

    公开(公告)号:CN114022432A

    公开(公告)日:2022-02-08

    申请号:CN202111261977.5

    申请日:2021-10-28

    发明人: 唐靓 余明慧

    摘要: 本发明涉及绝缘子缺陷检测技术,具体涉及基于改进的yolov5的绝缘子缺陷检测方法,包括采集绝缘子图像形成数据集;使用LabelImg标注工具对数据集进行标注;对所采集的图像进行数据增强处理;在YOLOv5的骨干网络中引入triplet attention模块;优化损失函数;将CIoU作为改进YOLOv5算法的bounding‑box损失函数LossCIoU;训练改进后的网络;将绝缘子图像数据集输入训练好的YOLOv5网络,得到输入图片中是否存在有缺陷的绝缘子以及该缺陷所在位置。该方法减少了漏检,消除了通道与权值之间的间接对应,以较小的计算开销达到了提高准确率的效果,提高了模型预测框架的精确定位能力。