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公开(公告)号:CN109994466A
公开(公告)日:2019-07-09
申请号:CN201910246694.X
申请日:2019-03-29
申请人: 湖南静芯微电子技术有限公司
摘要: 本发明公开了一种低触发高维持可控硅静电防护器件,包括P型衬底;P型衬底上设有N型深阱;N型深阱中从左至右设有P阱和N阱;P阱中从左至右设有第一P+注入区、第一N+注入区;P阱和N阱之间设有第二N+注入区;N阱中从左至右设有第三N+注入区和第二P+注入区;第二N+注入区与第三N+注入区之间用导线串联一个电阻和N型MOS管,N型MOS管的衬底接地,N型MOS管的栅接ESD侦测电路。本发明通过外接电路,为寄生PNP三极管的基区提供触发电流,使得寄生PNP更易开启,则SCR泄放路径也更易开启;另外,re由侦测电路控制,不会导致器件正常工作时被误触发。
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公开(公告)号:CN109994466B
公开(公告)日:2023-10-31
申请号:CN201910246694.X
申请日:2019-03-29
申请人: 湖南静芯微电子技术有限公司
摘要: 本发明公开了一种低触发高维持可控硅静电防护器件,包括P型衬底;P型衬底上设有N型深阱;N型深阱中从左至右设有P阱和N阱;P阱中从左至右设有第一P+注入区、第一N+注入区;P阱和N阱之间设有第二N+注入区;N阱中从左至右设有第三N+注入区和第二P+注入区;第二N+注入区与第三N+注入区之间用导线串联一个电阻和N型MOS管,N型MOS管的衬底接地,N型MOS管的栅接ESD侦测电路。本发明通过外接电路,为寄生PNP三极管的基区提供触发电流,使得寄生PNP更易开启,则SCR泄放路径也更易开启;另外,re由侦测电路控制,不会导致器件正常工作时被误触发。
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公开(公告)号:CN209461459U
公开(公告)日:2019-10-01
申请号:CN201920412794.0
申请日:2019-03-29
申请人: 湖南静芯微电子技术有限公司
摘要: 本实用新型公开了一种低触发高维持可控硅静电防护器件,包括P型衬底;P型衬底上设有N型深阱;N型深阱中从左至右设有P阱和N阱;P阱中从左至右设有第一P+注入区、第一N+注入区;P阱和N阱之间设有第二N+注入区;N阱中从左至右设有第三N+注入区和第二P+注入区;第二N+注入区与第三N+注入区之间用导线串联一个电阻和N型MOS管,N型MOS管的衬底接地,N型MOS管的栅接ESD侦测电路。本实用新型通过外接电路,为寄生PNP三极管的基区提供触发电流,使得寄生PNP更易开启,则SCR泄放路径也更易开启;另外,re由侦测电路控制,不会导致器件正常工作时被误触发。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利
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