Patent search ap:("现代摩比斯株式会社") AND inv:"林志训" Page 1

1.

发明授权
集成电路测试设备有权转让

公开(公告)号：CN111220895B

公开(公告)日：2022-08-02

申请号：CN201911164590.0

申请日：2019-11-25

Applicant: 现代摩比斯株式会社

Inventor： 金连镐 , 李健 , 林志训 , 朴岷志 , 禹宰赫 , 崔允镐

IPC: G01R31/28 , G01R31/3167

Abstract: 一种集成电路测试设备，包括：第一测试单元，被配置为在内置自测(BIST)测试模式中根据集成电路的每个内部电路的BIST进度状态来输出BIST进度状态的电流，以用于确定在集成电路的唤醒模式中每个内部电路是否正常操作；以及第一确定模块，被配置为根据由第一测试单元根据每个内部电路的BIST进度状态检测的电流，来确定每个内部电路是否处于停滞状态。

Patent Agency Ranking