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发明公开
荧光X射线分析装置失效转让

公开(公告)号：CN1836156A

公开(公告)日：2006-09-20

申请号：CN200480023453.0

申请日：2004-03-31

申请人： 理学电机工业株式会社

发明人： 住居弘咨 , 青柳光一

IPC分类号： G01N23/223

CPC分类号： G01N23/223 , G01N2223/076

摘要： 本发明的课题在于提供一种荧光X射线分析装置，该荧光X射线分析装置对处于惰性气体气氛中的试样进行分析，分光室不由惰性气体置换即可，同时不与试样室连通，并且可获得足够的强度的2次X射线，另外，隔壁的寿命延长。该装置包括接纳有试样(4)的试样室(1)；照射室(2)，该照射室(2)接纳有对试样(4)照射1次X射线(6)的X射线源(7)，该照射室(2)与上述试样室(1)连通；分光室(3)，该分光室(3)接纳有对从试样(4)产生的2次X射线(8)分光而对其检测的检测机构(9)；隔壁(10)，该隔壁(10)按照将上述照射室(2)和分光室(3)分隔的方式设置，使上述2次X射线(8)通过；以惰性气体对上述试样室(1)和照射室(2)进行置换，并且对上述分光室(3)进行真空排气。