公开(公告)号：CN100464182C

公开(公告)日：2009-02-25

申请号：CN200480002206.2

申请日：2004-03-11

申请人： 理学电机工业株式会社

发明人： 迫幸雄

IPC分类号： G01N23/223

CPC分类号： G01N23/223 ,  G01N2223/076

摘要： 本发明的课题在于提供一种进行氦置换的荧光X射线分析装置，容易更换试样室和照射室之间的隔壁膜，在分析时，试样室的空气不流入照射室。第1支架(21)按照其窗(21a)与试样室(3)和照射室(8)之间的壁部(4)的窗(4a)重合的方式气密地安装于壁部(4)上，按照覆盖第1支架的窗(21a)的方式设置隔壁膜(9)。第2支架(23)按照其窗(23a)夹持隔壁膜(9)，与第1支架的窗(21a)重合的方式设置。另外，支架(21，23)中的其中一个为永久磁铁，另一个由吸附于其上的材料形成，支架(21，23)夹持隔壁膜(9)的周边部，并且第2支架(23)可相对第1支架(21)而装卸。

公开(公告)号：CN1739023A

公开(公告)日：2006-02-22

申请号：CN200480002434.X

申请日：2004-03-11

申请人： 理学电机工业株式会社

发明人： 河野久征 ,  庄司孝 ,  堂井真

IPC分类号： G01N23/223

CPC分类号： G21K1/06 ,  G01N23/223 ,  G01N2223/076

摘要： 本发明的课题提供一种荧光X射线分析装置，其采用单一检测器，形成简单、低价格的结构，同时，可在较宽的波长范围内以充分的灵敏度，测定波长不同的多条2次X射线的相应强度。在包括X射线源(3)、发散细缝(5)、分光元件(7)、单一检测器(9)的荧光X射线分析装置中，分光元件(7)采用多个弯曲分光元件(7A，7B)，该多个弯曲分光元件(7A，7B)沿从试样(1)和检测器(9)观看，2次X射线的光路(6，8)扩展的方向并排地固定，由此，测定波长不同的多条2次X射线(8a，8b)的相应强度。

公开(公告)号：CN1739022A

公开(公告)日：2006-02-22

申请号：CN200480002206.2

申请日：2004-03-11

申请人： 理学电机工业株式会社

发明人： 迫幸雄

IPC分类号： G01N23/223

CPC分类号： G01N23/223 ,  G01N2223/076

摘要： 本发明的课题在于提供一种进行氦置换的荧光X射线分析装置，容易更换试样室和照射室之间的隔壁膜，在分析时，试样室的空气不流入照射室。第1支架(21)按照其窗(21a)与试样室(3)和照射室(8)之间的壁部(4)的窗(4a)重合的方式气密地安装于壁部(4)上，按照覆盖第1支架的窗(21a)的方式设置隔壁膜(9)。第2支架(23)按照其窗(23a)夹持隔壁膜(9)，与第1支架的窗(21a)重合的方式设置。另外，支架(21，23)中的其中一个为永久磁铁，另一个由吸附于其上的材料形成，支架(21，23)夹持隔壁膜(9)的周边部，并且第2支架(23)可相对第1支架(21)而装卸。

公开(公告)号：CN101151524A

公开(公告)日：2008-03-26

申请号：CN200580049351.0

申请日：2005-12-08

申请人： 理学电机工业株式会社

发明人： 河原直树 ,  原真也

IPC分类号： G01N23/223

CPC分类号： G01N23/223 ,  G01N2223/076 ,  G01N2223/305

摘要： 一种荧光X射线分析装置等，其通过FP法对试样的组分、面积密度进行分析，针对各种试样，可按照简便、并且将几何效果充分符合现实而添加的方式计算理论强度，足够正确地进行定量分析。包括计算机构(10)，该计算机构(10)根据假定的组分，计算从试样(13)的各元素产生的二次X射线(6)的理论强度，按照该理论强度与通过上述检测机构(9)测定的测定强度换算为理论强度值的换算测定强度一致的方式，逐次近似地修正计算假定的组分，计算试样(13)的组分，上述计算机构(10)每当计算理论强度时，将试样(13)的大小与照射到试样表面(13a)的各位置的一次X射线(2)的强度和入射角φ作为参数，针对各光路模拟计算二次X射线(6)的理论强度。

公开(公告)号：CN1932493A

公开(公告)日：2007-03-21

申请号：CN200610127560.9

申请日：2006-09-12

申请人： 理学电机工业株式会社

发明人： 片冈由行 ,  古泽卫一 ,  河野久征

IPC分类号： G01N23/223 ,  G01B15/02

CPC分类号： G01B15/02 ,  G01N23/223 ,  G01N2223/076

摘要： 本发明的课题在于提供一种荧光X射线分析装置，其可充分正确地对镀合金化熔融锌的钢板的组分沿深度方向不均匀的镀膜的附着量和组分进行分析。该装置包括X射线源(7)，该X射线源(7)按照规定的入射角(φ)，对试样(1)照射1次X射线(6)；检测机构(9)，该检测机构(9)测定按照规定的取出角(α，β)，由试样(1)产生的荧光X射线(8)的强度，在上述入射角(φ)和取出角(α，β)的组合中，以至少1者不同的2个组合，测定荧光X射线(8)的强度，针对由荧光X射线(8)的强度为增加测定对象膜的附着量时的上限值的99％的附着量表示的测定深度，按照上述2个组合的测定深度均大于上述镀膜(3)的附着量的方式，设定各组合的入射角(φ)和取出角(α，β)。

公开(公告)号：CN1836156A

公开(公告)日：2006-09-20

申请号：CN200480023453.0

申请日：2004-03-31

申请人： 理学电机工业株式会社

发明人： 住居弘咨 ,  青柳光一

IPC分类号： G01N23/223

CPC分类号： G01N23/223 ,  G01N2223/076

摘要： 本发明的课题在于提供一种荧光X射线分析装置，该荧光X射线分析装置对处于惰性气体气氛中的试样进行分析，分光室不由惰性气体置换即可，同时不与试样室连通，并且可获得足够的强度的2次X射线，另外，隔壁的寿命延长。该装置包括接纳有试样(4)的试样室(1)；照射室(2)，该照射室(2)接纳有对试样(4)照射1次X射线(6)的X射线源(7)，该照射室(2)与上述试样室(1)连通；分光室(3)，该分光室(3)接纳有对从试样(4)产生的2次X射线(8)分光而对其检测的检测机构(9)；隔壁(10)，该隔壁(10)按照将上述照射室(2)和分光室(3)分隔的方式设置，使上述2次X射线(8)通过；以惰性气体对上述试样室(1)和照射室(2)进行置换，并且对上述分光室(3)进行真空排气。

公开(公告)号：CN101416047A

公开(公告)日：2009-04-22

申请号：CN200680054176.9

申请日：2006-11-24

申请人： 理学电机工业株式会社

发明人： 片冈由行 ,  河野久征 ,  山下升 ,  堂井真

IPC分类号： G01N23/223

CPC分类号： G01N23/223 ,  G01N2223/076

摘要： 一种分析试样中包含的硫磺的荧光X射线分析装置，其目的在于通过大幅度地减少来自X射线管的连续X射线的试样的散射X射线和比例计数管的氩气的逃逸峰值，提高极微量的硫磺的分析精度。一种荧光X射线分析装置(1)，其对试样(S)照射来自X射线管的一次X射线，通过分光元件，对从试样(S)产生的荧光X射线进行分光，通过X射线检测器进行检测，由此，对试样(S)进行分析，该装置包括X射线管(11)，该X射线管(11)具有含铬的靶；X射线滤波器(13)，其设置于X射线管(11)和试样(S)之间的X射线通路，相对来自X射线管(11)的Cr－Kα射线，具有规定的透射率，采用在S－Kα射线和Cr－Kα射线的能量之间不存在吸收端的元素的材质；比例计数管(18)，其具有含氖气或氦气的检测器气体，该装置对试样(S)中包含的硫磺进行分析。

公开(公告)号：CN1952652A

公开(公告)日：2007-04-25

申请号：CN200610152815.7

申请日：2006-10-18

申请人： 理学电机工业株式会社

发明人： 片冈由行 ,  河野久征 ,  仓冈正次 ,  庄司孝 ,  山田康治郎

IPC分类号： G01N23/223

CPC分类号： G01N23/223 ,  G01N2223/076

摘要： 本发明涉及一种荧光X射线分析装置及该装置中使用的程序。提供可以由简单的结构定量分析6价铬的荧光X射线分析装置等。一种扫描型荧光X射线分析装置，包括X射线源、发散狭缝、分光元件、受光狭缝、检测器、使分光元件与受光狭缝和检测器连动的连动机构、以及根据检测器的测定结果进行定量分析的定量分析机构。定量分析机构根据使Cr－Kα射线中强度最大的峰值分光角对应于6价铬含有率对全部铬含有率之比的变化而计算6价铬的含有率。包括分辨力不同的多个检测机构，其作为发散狭缝、分光元件、受光狭缝和检测器的组合，并且当检测出峰值分光角的变化时，选择比在求出全部铬含有率或强度时选择的检测机构分辨力更高的检测机构。

公开(公告)号：CN1877312A

公开(公告)日：2006-12-13

申请号：CN200610083463.4

申请日：2006-05-30

申请人： 理学电机工业株式会社

发明人： 河原直树 ,  原真也 ,  堂井真

IPC分类号： G01N23/223 ,  G01N23/22

CPC分类号： G01N23/223 ,  G01N2223/076

摘要： 本发明的课题在于提供一种荧光X射线分析装置等，其可针对包含多个非测定元素的无法指定其原子序数的各种试样，在更宽的适合范围内充分而正确地进行分析。设置算出机构，其根据假定的元素的浓度计算由试样中的各元素产生的2次X射线的理论强度，按照该理论强度和通过检测机构测定的测定强度一致的方式，对上述假定的元素的浓度进行最佳化计算，算出试样的元素的浓度，上述算出机构针对不测定荧光X射线的非测定元素假定多个非测定元素的浓度，并且代替从试样中的非测定元素产生的2次X射线，采用其数量至少与假定浓度的非测定元素相同的1次X射线的散射线，所采用的1次X射线的散射线包含用试样散射之前的波长不同的散射线。

公开(公告)号：CN1820195A

公开(公告)日：2006-08-16

申请号：CN200480001034.7

申请日：2004-03-31

申请人： 理学电机工业株式会社

发明人： 森山孝男 ,  井上未知子

IPC分类号： G01N23/223

CPC分类号： G01N23/223 ,  G01N2223/076

摘要： 一种荧光X射线分析用样品保持器具，该荧光X射线分析用样品保持器具用于对液体样品进行前处理，对含有成分进行荧光X射线分析，其包括环状的台座；厚度小于10μm的疏水性薄膜，该疏水性薄膜保持于上述台座上，具有周边部和用于使X射线透射的透射部；厚度在1～100μm的范围内的片状的液体吸收件，该液体吸收件贴付于该疏水性薄膜的透射部上；通过将上述液体样品下滴于该液体吸收件中，使其干燥，保持上述样品含有成分。