公开(公告)号：CN1952652A

公开(公告)日：2007-04-25

申请号：CN200610152815.7

申请日：2006-10-18

申请人： 理学电机工业株式会社

发明人： 片冈由行 ,  河野久征 ,  仓冈正次 ,  庄司孝 ,  山田康治郎

IPC分类号： G01N23/223

CPC分类号： G01N23/223 ,  G01N2223/076

摘要： 本发明涉及一种荧光X射线分析装置及该装置中使用的程序。提供可以由简单的结构定量分析6价铬的荧光X射线分析装置等。一种扫描型荧光X射线分析装置，包括X射线源、发散狭缝、分光元件、受光狭缝、检测器、使分光元件与受光狭缝和检测器连动的连动机构、以及根据检测器的测定结果进行定量分析的定量分析机构。定量分析机构根据使Cr－Kα射线中强度最大的峰值分光角对应于6价铬含有率对全部铬含有率之比的变化而计算6价铬的含有率。包括分辨力不同的多个检测机构，其作为发散狭缝、分光元件、受光狭缝和检测器的组合，并且当检测出峰值分光角的变化时，选择比在求出全部铬含有率或强度时选择的检测机构分辨力更高的检测机构。