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公开(公告)号:CN114256822A
公开(公告)日:2022-03-29
申请号:CN202111574406.7
申请日:2021-12-21
申请人: 电子科技大学
IPC分类号: H02H9/02
摘要: 本发明属于半导体器件及集成电路技术领域,公开了一种GaN基静电放电(ESD)保护电路解决方案。所述ESD保护电路包含增强型p‑GaN HEMT器件和限流电阻。本发明由触发电路和静电流泄放电路组成,利用增强型p‑GaN HEMT器件的栅漏二极管连接方式控制触发电压,并利用限流电阻控制漏电流和泄放电路,同时利用栅极与源极同电位时,能够反向导通的能力,从而实现二极管组防护电路所不具备的双向防护功能。在相同的防护等级下,该发明与二极管组防护电路相比能显著降低漏电流,从而降低由漏电流引起的功耗。
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公开(公告)号:CN114256822B
公开(公告)日:2024-05-07
申请号:CN202111574406.7
申请日:2021-12-21
申请人: 电子科技大学
IPC分类号: H02H9/02
摘要: 本发明属于半导体器件及集成电路技术领域,公开了一种GaN基静电放电(ESD)保护电路解决方案。所述ESD保护电路包含增强型p‑GaN HEMT器件和限流电阻。本发明由触发电路和静电流泄放电路组成,利用增强型p‑GaN HEMT器件的栅漏二极管连接方式控制触发电压,并利用限流电阻控制漏电流和泄放电路,同时利用栅极与源极同电位时,能够反向导通的能力,从而实现二极管组防护电路所不具备的双向防护功能。在相同的防护等级下,该发明与二极管组防护电路相比能显著降低漏电流,从而降低由漏电流引起的功耗。
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公开(公告)号:CN114301044B
公开(公告)日:2022-10-04
申请号:CN202111574397.1
申请日:2021-12-21
申请人: 电子科技大学
IPC分类号: H02H9/04
摘要: 本文涉及一种基于Ⅲ族氮化物的静电放电(ESD)保护电路解决方案。所述ESD保护电路包含二极管、第一晶体管、第二晶体管、第一限流电阻和第二限流电阻。所述的二极管为N个二极管串联,其一个二极管的阳极电连接到另一个二极管的阴极;所述的第一Ⅲ族氮化物晶体管,其漏极具有电连接到所述串联的二极管的阴极,及其漏极具有电连接到第一限流电阻的一端;所述的第一Ⅲ族氮化物晶体管,其栅极具有电连接到所述的第二Ⅲ族氮化物晶体管的源极,及其栅极具有电连接到所述第二限流电阻的一端;所述的第一Ⅲ族氮化物晶体管,其源极具有电连接到所述第二限流电阻的另一端;所述的第二Ⅲ族氮化物晶体管,其漏极具有电连接到第一限流电阻的另一端;所述的第二Ⅲ族氮化物晶体管,其栅极具有电连接到所述串联的二极管的阳极。
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公开(公告)号:CN114301044A
公开(公告)日:2022-04-08
申请号:CN202111574397.1
申请日:2021-12-21
申请人: 电子科技大学
IPC分类号: H02H9/04
摘要: 本文涉及一种基于Ⅲ族氮化物的静电放电(ESD)保护电路解决方案。所述ESD保护电路包含二极管、第一晶体管、第二晶体管、第一限流电阻和第二限流电阻。所述的二极管为N个二极管串联,其一个二极管的阳极电连接到另一个二极管的阴极;所述的第一Ⅲ族氮化物晶体管,其漏极具有电连接到所述串联的二极管的阴极,及其漏极具有电连接到第一限流电阻的一端;所述的第一Ⅲ族氮化物晶体管,其栅极具有电连接到所述的第二Ⅲ族氮化物晶体管的源极,及其栅极具有电连接到所述第二限流电阻的一端;所述的第一Ⅲ族氮化物晶体管,其源极具有电连接到所述第二限流电阻的另一端;所述的第二Ⅲ族氮化物晶体管,其漏极具有电连接到第一限流电阻的另一端;所述的第二Ⅲ族氮化物晶体管,其栅极具有电连接到所述串联的二极管的阳极。
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