公开(公告)号：CN1300436A

公开(公告)日：2001-06-20

申请号：CN99800809.5

申请日：1999-05-14

申请人： 皇家菲利浦电子有限公司

发明人： M·W·J·普林斯 ,  J·B·吉斯伯斯 ,  J·W·维卡姆普 ,  T·J·A·M·杨斯 ,  W·J·J·韦特尔斯 ,  N·P·维拉德

IPC分类号： G21K3/00 ,  H05G1/00

CPC分类号： B29D99/0089 ,  B29C37/0075 ,  G21K1/10

摘要： 一种X射线检查装置(1),包括X射线源(2)、X射线探测器(5)和设置在X射线源(2)与X射线探测器(5)之间的X射线滤光器(6)。X射线滤光器(6)包括滤光元件(7),特别是毛细管,而且可以通过控制各个滤光元件(7)中的X射线吸收液(32)的量控制每个滤光元件的X射线吸收率。根据加到各个滤光元件上的电压控制各个滤光元件中的X射线吸收液的量。滤光元件(7)形成为排列成堆的变形膜层(10)之间的间隙,所述膜堆被沿着垂直于膜层的方向伸展。邻近膜层沿着接缝(30)被彼此连接在一起。膜堆设置在刚性板(11)之间,缓冲元件(12)设置在刚性板与膜堆之间。缓冲元件可以沿着与膜堆伸展方向垂直的方向收缩。毛细管的截面形状与接缝宽度与接缝间距之比有关。