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公开(公告)号:CN105339810B
公开(公告)日:2019-02-01
申请号:CN201480036940.4
申请日:2014-06-26
Applicant: 皇家飞利浦有限公司
Inventor: H·K·维乔雷克 , C·R·龙达 , L·R·瓦伦贝格 , M·E·梅辛 , S·汉森 , B·J·A·厄赫斯特兰德 , A·H·C·林德贝格 , N·G·艾琳 , R·T·哈尔贝格
Abstract: 本发明涉及一种用于利用提高的计时准确度和提高的能量分辨率来探测伽马射线辐射量子或X射线辐射量子的辐射探测设备。所述辐射探测设备应用于对伽马射线辐射和X射线辐射的探测,并且可以被使用在PET成像的领域中,以及在谱CT中。所述辐射探测设备包括半导体闪烁体元件和光探测器。所述光探测器与所述闪烁体元件光学连通。所述闪烁体元件具有两个相互对立的面;阴极与这两个面中的一个电气连通,并且阳极与这两个面中的另一个电气连通。
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公开(公告)号:CN105339810A
公开(公告)日:2016-02-17
申请号:CN201480036940.4
申请日:2014-06-26
Applicant: 皇家飞利浦有限公司
Inventor: H·K·维乔雷克 , C·R·龙达 , L·R·瓦伦贝格 , M·E·梅辛 , S·汉森 , B·J·A·厄赫斯特兰德 , A·H·C·林德贝格 , N·G·艾琳 , R·T·哈尔贝格
CPC classification number: G01T1/2018 , G01T1/24 , G01T1/241 , G01T1/249 , G01T1/2985
Abstract: 本发明涉及一种用于利用提高的计时准确度和提高的能量分辨率来探测伽马射线辐射量子或X射线辐射量子的辐射探测设备。所述辐射探测设备应用于对伽马射线辐射和X射线辐射的探测,并且可以被使用在PET成像的领域中,以及在谱CT中。所述辐射探测设备包括半导体闪烁体元件和光探测器。所述光探测器与所述闪烁体元件光学连通。所述闪烁体元件具有两个相互对立的面;阴极与这两个面中的一个电气连通,并且阳极与这两个面中的另一个电气连通。
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