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公开(公告)号：CN101868752A
公开(公告)日：2010-10-20
申请号：CN200880117273.7
申请日：2008-11-19
申请人： 皇家飞利浦电子股份有限公司
发明人： E·M·H·P·范迪克 , S·斯塔林加
CPC分类号： G01N19/08 , G02B27/0911 , G02B27/095
摘要： 一种用于利用线束照射样本的光学系统包括：光源(24)；光束定形器(30)，其用于将光源发射的光束转换成中间像散像；以及成像系统，其用于将该中间像散像转换成最终的像散像并且用于照射样本。光束定形器(30)在侧向平面内以及在横向平面内提供不同的非单位放大率，并且包括用于实现角放大和角缩小的环形入射表面和具有有限曲率半径的环形出射表面。本发明允许结合成像系统使用通常用来使光输出具有更圆的截面的现有光束定形装置，以便提供对样本的线束照射。
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公开(公告)号：CN101903761B
公开(公告)日：2015-04-22
申请号：CN200880121688.1
申请日：2008-12-10
申请人： 皇家飞利浦电子股份有限公司
发明人： R·威姆伯格-弗里德尔 , M·I·博亚姆法 , E·M·H·P·范迪克
IPC分类号： G01N21/64
CPC分类号： G01N21/6456
摘要： 一种检测系统，包括：辐射源(24)，用于提供输入辐射；辐射聚焦布置(26)，用于提供该输入辐射到样品(20)的分析区域；辐射收集(26)布置，用于收集由于该输入辐射与该样品的相互作用引起的、来自该样品的分析区域的输出辐射；辐射检测器(28)，用于检测所收集的输出辐射；操作装置(40，50，60)，用于在第一检测模式和第二检测模式中操作该检测设备，其中在该第一检测模式中，该分析区域具有第一尺寸和/或形状，其中在该第二检测模式中，该分析区域具有与该第一尺寸和/或形状不同的第二尺寸和/或形状。
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公开(公告)号：CN102047099A
公开(公告)日：2011-05-04
申请号：CN200980119491.9
申请日：2009-05-18
申请人： 皇家飞利浦电子股份有限公司
发明人： E·M·H·P·范迪克 , C·A·赫泽曼斯
CPC分类号： G01N21/6452 , G01N2021/6463 , G01N2201/1053 , G02B21/0032
摘要： 一种用于检测来自样本(36)的2D区域的光的光学系统包括用于收集来自样本的收集区的光的收集透镜(34)。光检测器(44)位置相对于样本固定，并且反射器装置(61)将收集的光定向到检测器。反射器装置包括可动部件并且收集透镜(34)可相对于样本运动。收集透镜和可动部件可被配置成限定不同的收集区，并且所述部件的运动实现来自收集区的光定向到光检测器(44)的基本上不变的区域。这种布置避免了对于庞大检测器的需要以便检测来自通过跨样本扫描而形成的2D样本区域的信号。
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公开(公告)号：CN101868752B
公开(公告)日：2014-07-16
申请号：CN200880117273.7
申请日：2008-11-19
申请人： 皇家飞利浦电子股份有限公司
发明人： E·M·H·P·范迪克 , S·斯塔林加
CPC分类号： G01N19/08 , G02B27/0911 , G02B27/095
摘要： 一种用于利用线束照射样本的光学照射装置包括：光源(24)；光束定形器(30)，其用于将光源发射的光束转换成中间像散像；以及成像系统，其用于将该中间像散像转换成最终的像散像并且用于照射样本。光束定形器(30)在侧向平面内以及在横向平面内提供不同的非单位放大率，并且包括用于实现角放大和角缩小的环形入射表面和具有有限曲率半径的环形出射表面。本发明允许结合成像系统使用通常用来使光输出具有更圆的截面的现有光束定形装置，以便提供对样本的线束照射。
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公开(公告)号：CN101952710A
公开(公告)日：2011-01-19
申请号：CN200880114706.3
申请日：2008-10-30
申请人： 皇家飞利浦电子股份有限公司
发明人： D·J·W·克伦德 , C·R·M·德威茨 , R·彭特曼 , R·W·I·德博尔 , E·M·H·P·范迪克
IPC分类号： G01N21/55 , G01N21/64 , G01N21/77 , G01N33/551
CPC分类号： G01N21/648 , B82Y15/00 , G01N21/552 , G01N21/554 , G01N21/6452 , G01N21/7703 , G01N33/54373 , G01N2021/6432 , G01N2021/7786 , G02B6/0229 , G02B2006/12138
摘要： 提供了一种用于检测结合表面(12)附近的目标成分(10)的微电子传感器设备(100)，该设备包括：用于发射入射在结合表面(12)的具有一波长的辐射束(101)的源(21)；位于结合表面(12)附近的光学结构(11)，用于响应于入射在结合表面(12)的辐射，在由结合表面(12)界定的且在从离开结合表面(12)到样品室(2)内的衰减长度上延伸的检测体积(4)内提供倏逝辐射；以及用于响应于来自源(21)的所发射的入射辐射(101)，检测来自检测体积(4)内存在的目标成分(101)的辐射(102)的检测器(31)，其中结合表面(12)配置有电介质材料(3)的直立壁，用于提供一个或多个检测体积(4)，该检测体积被界定到小于衍射极限的最大面内检测体积尺寸(W1)，衍射极限由辐射波长和用于包含目标成分(10)的介质(2)定义。
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公开(公告)号：CN101903761A
公开(公告)日：2010-12-01
申请号：CN200880121688.1
申请日：2008-12-10
申请人： 皇家飞利浦电子股份有限公司
发明人： R·威姆伯格-弗里德尔 , M·I·博亚姆法 , E·M·H·P·范迪克
IPC分类号： G01N21/64
CPC分类号： G01N21/6456
摘要： 一种检测系统，包括：辐射源(24)，用于提供输入辐射；辐射聚焦布置(26)，用于提供该输入辐射到样品(20)的分析区域；辐射收集(26)布置，用于收集由于该输入辐射与该样品的相互作用引起的、来自该样品的分析区域的输出辐射；辐射检测器(28)，用于检测所收集的输出辐射；操作装置(40，50，60)，用于在第一检测模式和第二检测模式中操作该检测设备，其中在该第一检测模式中，该分析区域具有第一尺寸和/或形状，其中在该第二检测模式中，该分析区域具有与该第一尺寸和/或形状不同的第二尺寸和/或形状。
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公开(公告)号：CN101868713A
公开(公告)日：2010-10-20
申请号：CN200880116947.1
申请日：2008-11-20
申请人： 皇家飞利浦电子股份有限公司
发明人： E·M·H·P·范迪克 , S·斯塔林加 , D·L·J·沃森 , M·I·博亚姆法
CPC分类号： G01N21/6458 , G02B5/1833
摘要： 一种光束定形器包括将幅度相等且符号相反的相位图案应用到两个正交偏振状态的偏振相关相位调节部件。在一个优选的实施例中，该光束定形器是由单轴对准下冻结的诸如可光聚合液晶聚合物之类的双折射材料制成的衍射元件，所述衍射元件包括多个区，每个区具有限定多个阶梯的阶梯状厚度。该光束定形器可以用来将像散引入偏振光束，或者对具有正交偏振状态的光束撤销像散。该光束定形器有利地用在诸如荧光扫描仪之类的检测设备中。
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