公开(公告)号：CN101868704B

公开(公告)日：2012-10-03

申请号：CN200880117305.3

申请日：2008-11-17

申请人： 皇家飞利浦电子股份有限公司

发明人： R·彭特曼 ,  S·范利洛普 ,  A·H·J·伊明克 ,  D·J·布勒尔

IPC分类号： G01K11/00 ,  G01K11/12

CPC分类号： G01K11/125 ,  G01K11/00

摘要： 本发明的实施例涉及一种温度传感器和一种包括该温度传感器的分析装置。温度传感器包括具有检测表面(12)的载体(11)，检测表面上有温度指示剂(14)，并且任选地，目标成分能够在检测表面上集中并任选地结合到特定俘获元件。向载体中发射入射光束(L1)并在检测表面(12)诱发倏逝波激励。然后由光检测器(31)检测反射光束(L2)或光学，例如发光响应中的光量。在一个范例中，倏逝光在结合表面(12)受到温度指示剂以及任选的目标成分和/或标记颗粒的影响(吸收、散射)，因此将在受抑全内反射光束(L2)中缺失。这可以用于从反射光束(L2，L2a，L2b)中的光量确定检测区域的温度以及任选的结合表面(12)处目标成分量。任选地使用磁场发生器(41)在结合表面(12)产生磁场(B)，由此可以操控，例如吸引或排斥磁标记颗粒(1)。

公开(公告)号：CN101868704A

公开(公告)日：2010-10-20

申请号：CN200880117305.3

申请日：2008-11-17

申请人： 皇家飞利浦电子股份有限公司

发明人： R·彭特曼 ,  S·范利洛普 ,  A·H·J·伊明克 ,  D·J·布勒尔

IPC分类号： G01K11/00 ,  G01K11/12

CPC分类号： G01K11/125 ,  G01K11/00

摘要： 本发明的实施例涉及一种温度传感器和一种包括该温度传感器的分析装置。温度传感器包括具有检测表面(12)的载体(11)，检测表面上有温度指示剂(14)，并且任选地，目标成分能够在检测表面上集中并任选地结合到特定俘获元件。向载体中发射入射光束(L1)并在检测表面(12)诱发倏逝波激励。然后由光检测器(31)检测反射光束(L2)或光学，例如发光响应中的光量。在一个范例中，倏逝光在结合表面(12)受到温度指示剂以及任选的目标成分和/或标记颗粒的影响(吸收、散射)，因此将在受抑全内反射光束(L2)中缺失。这可以用于从反射光束(L2，L2a，L2b)中的光量确定检测区域的温度以及任选的结合表面(12)处目标成分量。任选地使用磁场发生器(41)在结合表面(12)产生磁场(B)，由此可以操控，例如吸引或排斥磁标记颗粒(1)。