公开(公告)号：CN104303048B

公开(公告)日：2018-05-04

申请号：CN201380025799.3

申请日：2013-03-07

Applicant: 科磊股份有限公司

Inventor： 卡尔·E·赫斯 ,  石瑞芳

IPC: G01N21/88 ,  H01L21/027

CPC classification number: G01N21/95 ,  G01M11/00 ,  G01N21/95607 ,  G01N2021/9511 ,  G01N2021/95676 ,  G01N2201/06113 ,  G01N2201/062 ,  G01N2201/10 ,  G03F1/84

Abstract: 在检验期间使用光学光罩检验工具来针对每一局部区域获得对应于从光罩的每一局部区域的多个子区域反射的光的多个反射强度值的平均值。还在所述检验期间使用所述光学光罩检验工具来针对每一局部区域获得对应于透射通过所述光罩的每一局部区域的所述子区域的光的多个透射强度值的平均值。通过针对每一局部区域组合多个反射强度值的所述平均值与多个透射强度值的所述平均值而产生组合强度分布图，使得:如果光罩尚未劣化，那么从所述组合强度分布图消除所述光罩的光罩图案；且如果所述光罩已劣化，那么不从所述组合强度分布图消除所述光罩的所述光罩图案。

公开(公告)号：CN104303048A

公开(公告)日：2015-01-21

申请号：CN201380025799.3

申请日：2013-03-07

Applicant: 科磊股份有限公司

Inventor： 卡尔·E·赫斯 ,  石瑞芳

IPC: G01N21/88 ,  H01L21/027

CPC classification number: G01N21/95 ,  G01M11/00 ,  G01N21/95607 ,  G01N2021/9511 ,  G01N2021/95676 ,  G01N2201/06113 ,  G01N2201/062 ,  G01N2201/10 ,  G03F1/84

Abstract: 在检验期间使用光学光罩检验工具来针对每一局部区域获得对应于从光罩的每一局部区域的多个子区域反射的光的多个反射强度值的平均值。还在所述检验期间使用所述光学光罩检验工具来针对每一局部区域获得对应于透射通过所述光罩的每一局部区域的所述子区域的光的多个透射强度值的平均值。通过针对每一局部区域组合多个反射强度值的所述平均值与多个透射强度值的所述平均值而产生组合强度分布图，使得:如果光罩尚未劣化，那么从所述组合强度分布图消除所述光罩的光罩图案；且如果所述光罩已劣化，那么不从所述组合强度分布图消除所述光罩的所述光罩图案。