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发明公开
光检测装置、光检测装置的制造方法以及电子设备审中-公开

公开(公告)号：CN118901138A

公开(公告)日：2024-11-05

申请号：CN202380022037.1

申请日：2023-03-13

申请人： 索尼半导体解决方案公司

发明人： 重岁卓志 , 坂元俊起 , 纳土晋一郎 , 桀田佳明 , 田口由香里 , 河野广行

IPC分类号： H01L27/146 , G02B3/00 , G02B3/08 , H04N25/70

摘要： 本公开涉及：能够在各像素中改善微透镜的聚光效果并且改善光学特性的光检测装置；用于所述光检测装置的制造方法；以及电子设备。该光检测装置包括像素，各像素具有：对入射光进行光电转换的光电转换部、使所述入射光聚集在所述光电转换部上的微透镜；以及形成在所述微透镜上的多个突起。各个像素具有两个以上突起，所述突起的宽度、高度或密度中的至少一者是不同的。本公开可以应用于例如固体摄像装置等。