公开(公告)号：CN1977143B

公开(公告)日：2013-02-06

申请号：CN200580022009.1

申请日：2005-06-09

Applicant: 罗伯特·博世有限公司

Inventor： M·马勒 ,  U·霍夫曼 ,  R·克拉普夫 ,  C·维兰 ,  F·维韦尔斯

IPC: G01B7/06

CPC classification number: G01B7/10

Abstract: 本发明涉及用于透过物质确定材料厚度的方法、特别是用于测量墙壁、天花板和地板的厚度的方法，在该方法中借助于一个高频发射机(24)在GHz频率范围内的测量信号(28)至少一次穿过要检查的物质(10)并且由高频接收机(38)检测该测量信号(28)。根据本发明建议，从在高频发射机(24)和/或高频接收机(34)的不同位置(20、22)上测量的、测量信号的至少两个渡越时间中确定物质(10)的材料厚度(d).此外本发明涉及用于实施上述方法的设备系统(12；40、140、240、340)。

公开(公告)号：CN1977143A

公开(公告)日：2007-06-06

申请号：CN200580022009.1

申请日：2005-06-09

Applicant: 罗伯特·博世有限公司

Inventor： M·马勒 ,  U·霍夫曼 ,  R·克拉普夫 ,  C·维兰 ,  F·维韦尔斯

IPC: G01B7/06

CPC classification number: G01B7/10

Abstract: 本发明涉及用于透过物质确定材料厚度的方法、特别是用于测量墙壁、天花板和地板的厚度的方法，在该方法中借助于一个高频发射机(24)在GHz频率范围内的测量信号(28)至少一次穿过要检查的物质(10)并且由高频接收机(38)检测该测量信号(28)。根据本发明建议，从在高频发射机(24)和/或高频接收机(34)的不同位置(20、22)上测量的、测量信号的至少两个渡越时间中确定物质(10)的材料厚度(d)。此外本发明涉及用于实施上述方法的设备系统(12；40、140、240、340、)。