测位仪以及用于校准测位仪的方法

    公开(公告)号:CN1954240A

    公开(公告)日:2007-04-25

    申请号:CN200580015139.2

    申请日:2005-03-21

    CPC classification number: G01V3/15 G01V3/088

    Abstract: 本发明涉及一种用于对于被包围在介质中的物体进行探测的测位仪、特别是手持测位仪。该测位仪具有用于探测被包围在介质中的物体的第一装置、并且具有一个用于测位仪测量信号的控制及分析单元。根据本发明建议,该测位仪(56、57、58)具有第二探测装置(62、68、80、81),这些探测装置使得对于测位仪(56、57、58)到介质(66)表面(65)的预先规定的距离d进行探测成为可能。此外,本发明还涉及一种用于校准测量仪的方法、特别是用于校准对于被包围在一种介质中的物体进行探测用的手持测位仪的方法,其中,只是在对于测量仪(56、57、58)到介质(66)表面(65)的距离d进行测量至少一次之后才进行用于校准测量仪(56、57、58)的基准测量。

    定位设备
    2.
    发明公开

    公开(公告)号:CN101952740A

    公开(公告)日:2011-01-19

    申请号:CN200880127296.6

    申请日:2008-10-31

    CPC classification number: G01S13/88 G01S7/024 G01S13/885 H01Q1/04 H01Q21/26

    Abstract: 本发明涉及一种定位设备,尤其是手持的定位设备,此定位设备包括定位单元(36)以用于借助检测信号(38)来确定设置在检测目标(14)中的物体(16、18)的存在,此定位单元具有为涉及所述检测信号(38)的过程而安置的偏振单元(50),此定位设备还包括用于容纳定位单元(36)的壳体(20),此壳体具有纵轴线(24)。建议,在至少一个工作模式中偏振单元(50)预先给定至少一个相对于纵轴线(24)倾斜定向的第一偏振面(52、54)。

    电子设备
    3.
    发明公开

    公开(公告)号:CN102197536A

    公开(公告)日:2011-09-21

    申请号:CN200980142782.X

    申请日:2009-08-20

    CPC classification number: H01Q21/24 H01Q7/00

    Abstract: 本发明涉及一种电子设备,特别是以一种定位设备(12),其具有LCR天线装置(14),所述天线装置(14)具有带有第一极化方向(18)的天线单元(16),并且天线装置设置所述第一极化方向(18)用于发射和/或接收测量信号。本发明建议,天线单元(16)具有至少一个用于发射和/或接收测量信号的第二极化方向(20)。

    测位仪以及用于校准测位仪的方法

    公开(公告)号:CN1954240B

    公开(公告)日:2010-05-26

    申请号:CN200580015139.2

    申请日:2005-03-21

    CPC classification number: G01V3/15 G01V3/088

    Abstract: 本发明涉及一种用于对于被包围在介质中的物体进行探测的测位仪、特别是手持测位仪。该测位仪具有用于探测被包围在介质中的物体的第一装置、并且具有一个用于测位仪测量信号的控制及分析单元。根据本发明建议,该测位仪(56、57、58)具有第二探测装置(62、68、80、81),这些探测装置使得对于测位仪(56、57、58)到介质(66)表面(65)的预先规定的距离d进行探测成为可能。此外,本发明还涉及一种用于校准测量仪的方法、特别是用于校准对于被包围在一种介质中的物体进行探测用的手持测位仪的方法,其中,只是在对于测量仪(56、57、58)到介质(66)表面(65)的距离d进行测量至少一次之后才进行用于校准测量仪(56、57、58)的基准测量。

Patent Agency Ranking