用于抛光垫窗口的抗反射层

    公开(公告)号:CN1530205A

    公开(公告)日:2004-09-22

    申请号:CN200410028320.4

    申请日:2004-02-03

    CPC分类号: B24B37/205

    摘要: 一种在化学机械整平(CMP)系统中使用的用于抛光垫窗口的抗散射层。发明尤其适用于具有粗糙下表面窗口的情况。以显著减小光散射的方式在窗口的粗糙下表面上形成抗散射层,同时使得晶片的光学原位测量经受CMP工艺。减小的光散射导致信号强度增加,其有利于更耐久的光学原位测量能力。

    用于抛光垫窗口的抗反射层

    公开(公告)号:CN100509288C

    公开(公告)日:2009-07-08

    申请号:CN200410028320.4

    申请日:2004-02-03

    CPC分类号: B24B37/205

    摘要: 一种在化学机械整平(CMP)系统中使用的用于抛光垫窗口的抗散射层。发明尤其适用于具有粗糙下表面窗口的情况。以显著减小光散射的方式在窗口的粗糙下表面上形成抗散射层,同时使得晶片的光学原位测量经受CMP工艺。减小的光散射导致信号强度增加,其有利于更耐久的光学原位测量能力。