公开(公告)号：CN112908399A

公开(公告)日：2021-06-04

申请号：CN202110159245.9

申请日：2021-02-05

申请人： 置富科技(深圳)股份有限公司

发明人： 刘政林 ,  汪钊旭 ,  陈卓 ,  张浩明

IPC分类号： G11C29/04 ,  G11C29/10

摘要： 本发明公开了一种闪存的异常检测方法、装置、计算机设备及存储介质，涉及信息技术领域，主要在于能够根据闪存对应的可靠性等级对闪存进行异常检测，从而能够避免由于闪存异常导致的数据存储错误。其中方法包括：获取闪存芯片中待检测闪存块对应的属性特征；将所述属性特征输入至预设可靠性预测模型进行低频可靠性预测，得到所述待检测闪存块对应的低频预测结果；若所述低频预测结果不满足预设可靠性等级要求，则将所述属性特征输入至所述预设可靠性等级模型进行高频可靠性预测，得到所述待检测闪存块对应的高频预测结果；根据所述高频预测结果，判定所述待检测闪存块是否存在异常。本发明适用于闪存的异常检测。

公开(公告)号：CN112908399B

公开(公告)日：2022-01-18

申请号：CN202110159245.9

申请日：2021-02-05

申请人： 置富科技(深圳)股份有限公司

发明人： 刘政林 ,  汪钊旭 ,  陈卓 ,  张浩明

IPC分类号： G06F3/06 ,  G11C29/04 ,  G11C29/10

摘要： 本发明公开了一种闪存的异常检测方法、装置、计算机设备及存储介质，涉及信息技术领域，主要在于能够根据闪存对应的可靠性等级对闪存进行异常检测，从而能够避免由于闪存异常导致的数据存储错误。其中方法包括：获取闪存芯片中待检测闪存块对应的属性特征；将所述属性特征输入至预设可靠性预测模型进行低频可靠性预测，得到所述待检测闪存块对应的低频预测结果；若所述低频预测结果不满足预设可靠性等级要求，则将所述属性特征输入至所述预设可靠性等级模型进行高频可靠性预测，得到所述待检测闪存块对应的高频预测结果；根据所述高频预测结果，判定所述待检测闪存块是否存在异常。本发明适用于闪存的异常检测。