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公开(公告)号：CN112204406B
公开(公告)日：2024-06-28
申请号：CN201980034342.6
申请日：2019-05-15
申请人： 美国国家仪器有限公司
IPC分类号： G01R1/04 , G01R31/28 , G01R31/302 , G01R29/10
摘要： 本发明提出了用于测试(例如，快速和廉价地)具有天线的装置的系统和方法的各种实施例，天线被配置成用于射频(RF)和/或毫米波(mmW)传输和/或接收。待测装置(例如，被测装置(DUT))可以安装到测量夹具中的接口(例如，插槽、电波暗室等)。可通过接口测试DUT的电力连接和数据连接，该接口还可以提供用于输入/输出信号、电力和控制的连接，并且还可以提供定位。可以使用天线或探测器的阵列无线地测试DUT的RF特性(例如，包括传输、接收和/或波束成形)。
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公开(公告)号：CN112154331B
公开(公告)日：2024-05-17
申请号：CN201980034116.8
申请日：2019-05-14
申请人： 美国国家仪器有限公司
IPC分类号： G01R1/04 , G01R31/28 , G01R31/302 , G01R21/12
摘要： 测试例如具有集成天线的集成电路(IC)的装置，所述集成天线被配置用于毫米波(mmW)传输和/或接收。DUT可安装到测量夹具(例如，插座、消声室等)中的接口。所述DUT的电源连接和数据连接可以通过所述接口进行测试，所述接口还可以为输入/输出信号、电源和控制提供连接(例如，有线连接)并且还可以提供定位。可使用所述DUT的天线的辐射菲涅耳区中的天线阵列或探针阵列在空中测试所述DUT的射频(RF)特性。所述阵列的所述天线或探针中的每一个可以包括功率检测器(例如，二极管)，使得可以使用DC电压测量来测量RF辐射图案。可以将所测量的电压测量值与例如根据理想或模型DUT预期的电压测量值等理想特征值进行比较。
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公开(公告)号：CN112154331A
公开(公告)日：2020-12-29
申请号：CN201980034116.8
申请日：2019-05-14
申请人： 美国国家仪器有限公司
IPC分类号： G01R1/04 , G01R31/28 , G01R31/302 , G01R21/12
摘要： 测试例如具有集成天线的集成电路(IC)的装置，所述集成天线被配置用于毫米波(mmW)传输和/或接收。DUT可安装到测量夹具(例如，插座、消声室等)中的接口。所述DUT的电源连接和数据连接可以通过所述接口进行测试，所述接口还可以为输入/输出信号、电源和控制提供连接(例如，有线连接)并且还可以提供定位。可使用所述DUT的天线的辐射菲涅耳区中的天线阵列或探针阵列在空中测试所述DUT的射频(RF)特性。所述阵列的所述天线或探针中的每一个可以包括功率检测器(例如，二极管)，使得可以使用DC电压测量来测量RF辐射图案。可以将所测量的电压测量值与例如根据理想或模型DUT预期的电压测量值等理想特征值进行比较。
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公开(公告)号：CN112204406A
公开(公告)日：2021-01-08
申请号：CN201980034342.6
申请日：2019-05-15
申请人： 美国国家仪器有限公司
IPC分类号： G01R1/04 , G01R31/28 , G01R31/302 , G01R29/10
摘要： 本发明提出了用于测试(例如，快速和廉价地)具有天线的装置的系统和方法的各种实施例，天线被配置成用于射频(RF)和/或毫米波(mmW)传输和/或接收。待测装置(例如，被测装置(DUT))可以安装到测量夹具中的接口(例如，插槽、电波暗室等)。可通过接口测试DUT的电力连接和数据连接，该接口还可以提供用于输入/输出信号、电力和控制的连接，并且还可以提供定位。可以使用天线或探测器的阵列无线地测试DUT的RF特性(例如，包括传输、接收和/或波束成形)。
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