放置用于多位测试的单体半导体设备的系统和方法

    公开(公告)号:CN106537163B

    公开(公告)日:2019-09-17

    申请号:CN201580039543.7

    申请日:2015-05-22

    IPC分类号: G01R31/28

    摘要: 提供了用于多位放置单体半导体设备的系统和方法。用于多位放置的系统和方法可以促进单体半导体设备的多位测试。一种方法可以包括确定要设置在测试配置中的单体半导体设备的数量。该方法还包括响应于该数量利用数据处理设备来确定测试配置。在其他实施例中,该方法可以包括将单体半导体设备放置在根据该测试配置的测试框架中。

    放置用于多位测试的单体半导体设备的系统和方法

    公开(公告)号:CN106537163A

    公开(公告)日:2017-03-22

    申请号:CN201580039543.7

    申请日:2015-05-22

    IPC分类号: G01R31/28

    摘要: 提供了用于多位放置单体半导体设备的系统和方法。用于多位放置的系统和方法可以促进单体半导体设备的多位测试。一种方法可以包括确定要设置在测试配置中的单体半导体设备的数量。该方法还包括响应于该数量利用数据处理设备来确定测试配置。在其他实施例中,该方法可以包括将单体半导体设备放置在根据该测试配置的测试框架中。