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1.

发明公开
测量光学透明体的光学和物理厚度的方法失效

公开(公告)号：CN1501049A

公开(公告)日：2004-06-02

申请号：CN200310113599.1

申请日：2003-11-14

申请人： 美国飞泰尔有限公司

发明人： 加斯 , 加撒帕拉

IPC分类号： G01B11/06

CPC分类号： C03B37/01807 , C03B37/0253 , C03B2207/70 , G01B11/105 , G01B11/12

摘要： 一种决定光学透明体的绝对物理厚度的方法，该方法包括如下步骤：使一束宽带的光信号在与被测参量相关联的方向上透过一个光学透明体；从所述光学透明体捕获一对反射光，其中第一束反射光是从所述光学透明体的近的表面反射而得，而第二束反射光是从所述光学透明体的远的表面反射而得；通过在确定差拍频率的光谱范畴内比较所述反射光信号，来得到所述的一对反射光的光程差，而在光谱范畴内，光程的长度是差拍频率的函数；用已知的折射率去除光程的长度来决定光学透明体的绝对物理厚度。