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公开(公告)号:CN107430091A
公开(公告)日:2017-12-01
申请号:CN201680005259.2
申请日:2016-01-08
申请人: 艺康美国股份有限公司
发明人: 彼得·D·希克斯 , 李慧 , 迈克尔·E·布雷德利 , 迈克尔·J·穆尔西亚 , 乔·L·施瓦茨
摘要: 公开了一种获得或维持与光传递介质接触的脱气液体中的光学传递的方法。所述方法包括将波长(λ)的超声波能量施加于与光传递介质接触的脱气液体中。所述波长(λ)的超声波能量在距传输至所述光传递介质中的光学信号距离(d)处发出。所述距离(d)可以由基于所述超声波能量的波长(λ)的公式定义。
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公开(公告)号:CN107430091B
公开(公告)日:2021-08-24
申请号:CN201680005259.2
申请日:2016-01-08
申请人: 艺康美国股份有限公司
发明人: 彼得·D·希克斯 , 李慧 , 迈克尔·E·布雷德利 , 迈克尔·J·穆尔西亚 , 乔·L·施瓦茨
摘要: 公开了一种获得或维持与光传递介质接触的脱气液体中的光学传递的方法。所述方法包括将波长(λ)的超声波能量施加于与光传递介质接触的脱气液体中。所述波长(λ)的超声波能量在距传输至所述光传递介质中的光学信号距离(d)处发出。所述距离(d)可以由基于所述超声波能量的波长(λ)的公式定义。
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公开(公告)号:CN105431585A
公开(公告)日:2016-03-23
申请号:CN201480042097.0
申请日:2014-07-19
申请人: 艺康美国股份有限公司
发明人: 普拉萨德·Y·达吉拉拉 , 谢尔盖·M·舍甫琴柯 , 迈克尔·J·穆尔西亚
CPC分类号: G01N21/43 , G01N17/008 , G01N21/41 , G01N21/4133 , G01N21/94 , G01N2021/945
摘要: 本发明提供了用于测量工艺体系内的垢形成的方法和组合物。该方法涉及利用折射仪测量反映在液体介质的折射率测量结果上的单元结垢的变化以及根据单元结垢因子的变化确定垢形成。这使得折射仪能够确定在用另外的方式不可测量的位置处的垢形成。
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公开(公告)号:CN105431585B
公开(公告)日:2018-03-23
申请号:CN201480042097.0
申请日:2014-07-19
申请人: 艺康美国股份有限公司
发明人: 普拉萨德·Y·达吉拉拉 , 谢尔盖·M·舍甫琴柯 , 迈克尔·J·穆尔西亚
CPC分类号: G01N21/43 , G01N17/008 , G01N21/41 , G01N21/4133 , G01N21/94 , G01N2021/945
摘要: 本发明提供了用于测量工艺体系内的垢形成的方法和组合物。该方法涉及利用折射仪测量反映在液体介质的折射率测量结果上的单元结垢的变化以及根据单元结垢因子的变化确定垢形成。这使得折射仪能够确定在用另外的方式不可测量的位置处的垢形成。
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