高光谱成像装置
    1.
    发明公开

    公开(公告)号:CN115702328A

    公开(公告)日:2023-02-14

    申请号:CN202180039795.5

    申请日:2021-04-21

    Abstract: 一种光谱成像装置(500),包括:‑光学修改器系统(SYS1),该光学修改器系统用以从接收的光束(LB1)形成轴向光束(LB2),该轴向光束(LB2)平行于成像装置(500)的光轴(AX1),‑法布里‑珀罗干涉仪(FPI),该法布里‑珀罗干涉仪用以通过对轴向光束(LB2)的光进行过滤来提供经过滤的轴向光束(LB3),‑图像传感器(SEN1),以及‑透镜(LNS0,0、LNS0,1)的阵列(ARR1),用以通过使经过滤的光束(LB3)的光聚焦来在图像传感器(SEN1)上形成多个子图像(S0,0、S0,1)。

    产生经校准的光谱成像装置的方法和设备

    公开(公告)号:CN119072613A

    公开(公告)日:2024-12-03

    申请号:CN202380035412.6

    申请日:2023-04-14

    Abstract: 一种对光谱成像装置(500)进行校准的方法包括:‑提供具有第一校准光谱(IMPBF)的第一校准光(LB1CAL1),该第一校准光谱在已知波长(λ01,λ02,λ03)处具有多个稳定的光谱峰,‑将第一校准光(LB1CAL1)耦合至光谱成像装置(500),‑在对光谱成像装置(500)的法布里‑珀罗干涉仪(FPI1)的控制参数(Vd)进行扫描期间,通过记录第一检测器像素信号(SR)获得第一校准光(LB1CAL1)的第一测量轮廓(MSPEC1),‑在对控制参数(Vd)进行扫描期间,通过记录第二检测器像素信号(SG)来获得第一校准光(LB1CAL1)的第二测量轮廓,‑通过使用第一检测器像素(P0)的先前测量的光谱量子效率(QR)、通过使用先前测量的光谱透射率函数(TFP,PRE)以及通过使用第一校准数据(fk,gk,hk),根据第一校准光谱(IMPBF)确定第一模拟轮廓(SIMSPEC1),‑通过使用第二检测器像素(P1)的先前测量的光谱量子效率(QR)、通过使用先前测量的光谱透射率函数(TFP,PRE)以及通过使用第一校准数据(fk,gk,hk),根据第一校准光谱(IMPBF)确定第二模拟轮廓,以及‑对第一校准数据(fk,gk,hk)进行修改,直到模拟轮廓(SIMSPEC1)根据一个或更多个匹配标准与对应的测量轮廓(MSPEC1)匹配。

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