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公开(公告)号：CN114779913B
公开(公告)日：2022-08-30
申请号：CN202210680856.2
申请日：2022-06-16
申请人： 苏州云途半导体有限公司
摘要： 本发明涉及一种自适应调整工作频率的复位方法和芯片，所述方法包括:步骤S1：芯片进入自测试状态；步骤S2：芯片进行逻辑自测试；步骤S3：芯片进行存储器自测试；步骤S4：芯片进行模拟电路自测试；步骤S5：芯片进入常规工作状态；本发明通过基于自适应机制的自测试阶段的透明解决，使得用户对于这类芯片问题透明，从而提高芯片的使用效果和工作效率。
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公开(公告)号：CN114637389B
公开(公告)日：2022-08-05
申请号：CN202210536350.4
申请日：2022-05-18
申请人： 苏州云途半导体有限公司
摘要： 一种触发器状态保持电路及方法，所述触发器状态保持电路包括：待保存模块、数据保存控制模块、数据恢复控制模块以及SRAM；所述数据保存控制模块至少包括压缩单元；所述数据恢复控制模块至少包括解压缩单元；所述待保存模块包括多个触发器，多个触发器能够连接成扫描链；本申请能够降低集成电路系统进入和退出低功耗模式所花费的时间，以及能够提高集成电路系统的可恢复性、可靠性、安全性。
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公开(公告)号：CN116149897B
公开(公告)日：2023-07-04
申请号：CN202310417392.0
申请日：2023-04-19
申请人： 苏州云途半导体有限公司
IPC分类号： G06F11/07
摘要： 本发明涉及一种芯片功能安全故障处理方法，所述系统包括:步骤S1：芯片上设置有操作系统，操作系统基于用户请求创建任务；步骤S2：按顺序将一个或多个功能任务分配给芯片中能够执行相应功能类型的执行单元；步骤S3：将功能任务分配给执行单元；确定是否触发执行单元进入安全保障模式,以插入冗余执行；本发明能够在复杂芯片系统结构的情况下，应对复杂因素的共同影响，提供有效的安全保障。
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公开(公告)号：CN116149897A
公开(公告)日：2023-05-23
申请号：CN202310417392.0
申请日：2023-04-19
申请人： 苏州云途半导体有限公司
IPC分类号： G06F11/07
摘要： 本发明涉及一种芯片功能安全故障处理方法，所述系统包括:步骤S1：芯片上设置有操作系统，操作系统基于用户请求创建任务；步骤S2：按顺序将一个或多个功能任务分配给芯片中能够执行相应功能类型的执行单元；步骤S3：将功能任务分配给执行单元；确定是否触发执行单元进入安全保障模式,以插入冗余执行；本发明能够在复杂芯片系统结构的情况下，应对复杂因素的共同影响，提供有效的安全保障。
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公开(公告)号：CN114779913A
公开(公告)日：2022-07-22
申请号：CN202210680856.2
申请日：2022-06-16
申请人： 苏州云途半导体有限公司
摘要： 本发明涉及一种自适应调整工作频率的复位方法和芯片，所述方法包括:步骤S1：芯片进入自测试状态；步骤S2：芯片进行逻辑自测试；步骤S3：芯片进行存储器自测试；步骤S4：芯片进行模拟电路自测试；步骤S5：芯片进入常规工作状态；本发明通过基于自适应机制的自测试阶段的透明解决，使得用户对于这类芯片问题透明，从而提高芯片的使用效果和工作效率。
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公开(公告)号：CN116737086A
公开(公告)日：2023-09-12
申请号：CN202311014578.8
申请日：2023-08-14
申请人： 苏州云途半导体有限公司
IPC分类号： G06F3/06
摘要： 本发明涉及一种嵌入式非易失性存储器读写方法，所述方法包括:步骤S1：处理器接收访问指令并放入访问指令缓冲队列中；缓冲并调整访问指令的顺序并发送首个访问指令；步骤S2：读写控制模块获取访问指令的控制方式；基于实时的访问条件调整所述控制方式以得到副本控制方式；步骤3:先用控制方式执行访问指令以得到第一数据，紧接着用副本控制方式执行副本访问指令以得到第二数据；基于第一数据和第二数据获取访问指令的访问结果；本发明基于现有的非易失性存储器结构，充分利用其嵌入式特性和已有错误校正技术，通过提供准确冗余，在不增加或基本不增加开软硬件开销的基础上增强读取可靠性。
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公开(公告)号：CN114637389A
公开(公告)日：2022-06-17
申请号：CN202210536350.4
申请日：2022-05-18
申请人： 苏州云途半导体有限公司
摘要： 一种触发器状态保持电路及方法，所述触发器状态保持电路包括：待保存模块、数据保存控制模块、数据恢复控制模块以及SRAM；所述数据保存控制模块至少包括压缩单元；所述数据恢复控制模块至少包括解压缩单元；所述待保存模块包括多个触发器，多个触发器能够连接成扫描链；本申请能够降低集成电路系统进入和退出低功耗模式所花费的时间，以及能够提高集成电路系统的可恢复性、可靠性、安全性。
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