-
公开(公告)号：CN114965364A
公开(公告)日：2022-08-30
申请号：CN202210757173.2
申请日：2022-06-30
申请人： 苏州大学
IPC分类号： G01N21/41
摘要： 本发明公开了一种单脉冲瞬态非线性折射率的测量装置和测量方法，所述单脉冲瞬态非线性折射率的测量装置包括探测系统、泵浦系统和数据记录装置，所述探测系统包括探测激光源和4f成像系统，所述4f成像系统由会聚透镜和成像透镜组成，样品位于所述会聚透镜与所述成像透镜之间，所述泵浦系统以一角度与所述探测系统相交于所述样品处，所述探测系统还包括一相位阵列阶梯反射镜器件，所述探测激光源发出的探测光经所述相位阵列阶梯反射镜器件反射至所述会聚透镜。本发明的测量装置可大幅提高时间分辨率，本发明还公开了一种测量方法。
-
公开(公告)号：CN108469426A
公开(公告)日：2018-08-31
申请号：CN201810240533.5
申请日：2018-03-22
申请人： 苏州大学
IPC分类号： G01N21/63
CPC分类号： G01N21/63
摘要： 本发明公开了一种泵浦光和探测光同轴无夹角的泵浦探测方法及系统，用于光学非线性的检测，把激光束分为两束，其光强大的一束为泵浦光，光强弱的一束为探测光，泵浦光经过时间延迟聚焦到待测非线性样品上，使处于基态的非线性样品产生非线性吸收；探测光经过一个同心挡板后由透镜会聚到待测非线性样品上，出射的泵浦光被第二个同心挡板遮挡，探测光经过第二个挡板后全部进入探测器；探测光路中透镜前面的挡板和透镜后面的挡板到透镜的距离符合透镜成像规律，且透镜前面挡板的半径大于泵浦光的反射镜半径，后挡板的半径能够全部挡住泵浦光，并能使探测光全部通过；无需偏振片及滤光片就能实现泵浦光和探测光同轴测量材料瞬态光学非线性吸收动力学。
-
公开(公告)号：CN101609001B
公开(公告)日：2011-02-02
申请号：CN200910182228.6
申请日：2009-07-01
申请人： 苏州大学
摘要： 本发明公开了一种基于相位物体单脉冲反射测量材料非线性的方法，入射激光通过第一分束镜分成两束，一束为监测光，由第一探测器记录，另一束光经过相位物体后被透镜聚焦到待测样品上，被待测样品表面反射的脉冲光被第二分束镜分成两路，一路直接由第二探测器记录，另一路通过一个中心和光轴重合的小孔光阑后进入第三探测器。本发明开发了一种新的测量介质表面的光学非线性的方法，实现了对非线性折射和吸收系数的测量，可广泛应用于介质界面非线性光学以及薄膜非线性光学测量的研究领域。
-
公开(公告)号：CN101109703B
公开(公告)日：2010-04-07
申请号：CN200710025839.0
申请日：2007-08-06
申请人： 苏州大学
摘要： 本发明公开了一种基于4f相位相干成像的泵浦探测方法，把激光器输出来的激光分为泵浦光和探测光两束，泵浦光经过一个时间延迟平台聚焦到非线性样品上使之产生非线性；探测光探测由泵浦光诱导非线性样品产生的变化，并被CCD纪录。在泵浦光经过不同的时间延迟的情况下，从样品出射的探测光的位相和强度的变化反映了不同时刻样品中的粒子数布居的情况，从而确定各个能级的吸收截面和寿命以及折射率体积。本发明光路简单，理论处理方便、单脉冲测量减少了光学积累效应，吸收泵探和折射泵探同时完成而不需要分别进行测量、可以同时测量非线性吸收和折射的大小和符号，对激光束的随机波动敏感度低，测量结果精确等优点。
-
公开(公告)号：CN101532959A
公开(公告)日：2009-09-16
申请号：CN200910030608.8
申请日：2009-04-17
申请人： 苏州大学
摘要： 本发明公开了一种单脉冲单光束测量材料非线性的方法，在探测光的透镜之前的光路中设置一相位物体，在一个单脉冲作用下，通过测量开孔和远场小孔的非线性透过率，确定材料的非线性吸收和非线性折射系数。按本发明方法工作的测量系统光路简单、数据处理简单，单脉冲测量、样品无需移动，可以同时测量非线性吸收和非线性折射的大小和符号，测量结果精确，极大地减少测量成本。
-
公开(公告)号：CN115047508A
公开(公告)日：2022-09-13
申请号：CN202210758567.X
申请日：2022-06-30
申请人： 苏州大学
摘要： 本发明公开了一种相位阵列阶梯反射镜器件，单脉冲X射线脉宽的测量装置和测量方法。所述单脉冲X射线脉宽的测量装置，包括同步控制系统，探测光光源，探测光束调制系统，相位阵列阶梯反射镜器件，成像系统，标准样品(GaAs晶体)，数据记录装置，以及X射线源，所述同步控制系统控制探测光源发射探测光并控制X射线源发射X射线，所述X射线射向标准样品(GaAs晶体)，所述相位阵列阶梯反射镜器件位于位于成像系统的物平面上。本发测量装置可准确测量X射线脉宽。
-
公开(公告)号：CN108426861A
公开(公告)日：2018-08-21
申请号：CN201810194831.5
申请日：2018-03-09
申请人： 苏州大学
IPC分类号： G01N21/63
摘要： 本发明公开了一种利用阶梯窗口实现超短单脉冲时间分辨泵浦探测的方法，把激光器输出来的激光分为泵浦光和探测光，泵浦光经过透镜聚焦到非线性样品上使之产生非线性；探测光经过阶梯窗口透射后探测由泵浦光诱导非线性样品产生的变化，被CCD接收图像；在经过不同的时间延迟的探测光的情况下，从样品出射的探测光强度的变化反映了不同时刻样品中的粒子数布居的情况，从而确定各个能级的吸收截面和寿命；按本发明方法工作的测量系统测量非常方便，没有样品移动，只需要一个激光脉冲就可获得时间分辨泵浦探测曲线，与传统泵浦探测光路相比非常简单；无需传统光路中高精度的移动平台来实现时间延迟，只需要一个延时阶梯窗口就可以实现时间延迟。
-
-
公开(公告)号：CN102183493A
公开(公告)日：2011-09-14
申请号：CN201110054571.X
申请日：2011-03-08
申请人： 苏州大学
摘要： 本发明公开了一种高灵敏度单脉冲单光束测量材料非线性的方法，在探测光通过样品后的光路中设置一圆形挡板，在一个单脉冲作用下，通过测量开孔和远场挡板的非线性透过率，确定材料的非线性吸收和非线性折射系数。按本发明方法工作的测量系统光路简单、测量灵敏度非常高，数据处理简单，单脉冲测量、样品无需移动，可以同时测量非线性吸收和非线性折射的大小，极大地减少测量成本。
-
公开(公告)号：CN101532959B
公开(公告)日：2011-01-19
申请号：CN200910030608.8
申请日：2009-04-17
申请人： 苏州大学
摘要： 本发明公开了一种单脉冲单光束测量材料非线性的方法，在探测光的透镜之前的光路中设置一相位物体，在一个单脉冲作用下，通过测量开孔和远场小孔的非线性透过率，确定材料的非线性吸收和非线性折射系数。按本发明方法工作的测量系统光路简单、数据处理简单，单脉冲测量、样品无需移动，可以同时测量非线性吸收和非线性折射的大小和符号，测量结果精确，极大地减少测量成本。
-
-
-
-
-
-
-
-
-
搜索结果
74 条记录 (耗时 0.028 秒)
