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公开(公告)号：CN101609001B
公开(公告)日：2011-02-02
申请号：CN200910182228.6
申请日：2009-07-01
申请人： 苏州大学
摘要： 本发明公开了一种基于相位物体单脉冲反射测量材料非线性的方法，入射激光通过第一分束镜分成两束，一束为监测光，由第一探测器记录，另一束光经过相位物体后被透镜聚焦到待测样品上，被待测样品表面反射的脉冲光被第二分束镜分成两路，一路直接由第二探测器记录，另一路通过一个中心和光轴重合的小孔光阑后进入第三探测器。本发明开发了一种新的测量介质表面的光学非线性的方法，实现了对非线性折射和吸收系数的测量，可广泛应用于介质界面非线性光学以及薄膜非线性光学测量的研究领域。
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公开(公告)号：CN101532959A
公开(公告)日：2009-09-16
申请号：CN200910030608.8
申请日：2009-04-17
申请人： 苏州大学
摘要： 本发明公开了一种单脉冲单光束测量材料非线性的方法，在探测光的透镜之前的光路中设置一相位物体，在一个单脉冲作用下，通过测量开孔和远场小孔的非线性透过率，确定材料的非线性吸收和非线性折射系数。按本发明方法工作的测量系统光路简单、数据处理简单，单脉冲测量、样品无需移动，可以同时测量非线性吸收和非线性折射的大小和符号，测量结果精确，极大地减少测量成本。
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公开(公告)号：CN101532956B
公开(公告)日：2010-12-08
申请号：CN200910030602.0
申请日：2009-04-17
申请人： 苏州大学
IPC分类号： G01N21/41
摘要： 本发明公开了一种单脉冲测量材料非线性的方法，其特征在于：利用近似Tophat型激光脉冲，经相位物体后由分束镜分为两束，一束为监测光，另一束为探测光，测量步骤为：(1)将样品置于远离聚焦透镜焦平面的位置，分别记录监测光能量和脉冲光能量并计算比值；(2)将样品移至聚焦透镜的焦平面位置，分别记录监测光能量和脉冲光能量并计算比值；(3)用步骤(2)中得出的比值除以步骤(1)中得出的比值，得到归一化的非线性透过率，再经过处理得到材料的非线性折射系数。本发明的方法具有实现简单，不需要移动，实验数据处理简单等优点；采用了Tophat脉冲光作为探测光，相比于高斯脉冲光，能将探测精度提高4倍。
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公开(公告)号：CN102183493A
公开(公告)日：2011-09-14
申请号：CN201110054571.X
申请日：2011-03-08
申请人： 苏州大学
摘要： 本发明公开了一种高灵敏度单脉冲单光束测量材料非线性的方法，在探测光通过样品后的光路中设置一圆形挡板，在一个单脉冲作用下，通过测量开孔和远场挡板的非线性透过率，确定材料的非线性吸收和非线性折射系数。按本发明方法工作的测量系统光路简单、测量灵敏度非常高，数据处理简单，单脉冲测量、样品无需移动，可以同时测量非线性吸收和非线性折射的大小，极大地减少测量成本。
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公开(公告)号：CN101532959B
公开(公告)日：2011-01-19
申请号：CN200910030608.8
申请日：2009-04-17
申请人： 苏州大学
摘要： 本发明公开了一种单脉冲单光束测量材料非线性的方法，在探测光的透镜之前的光路中设置一相位物体，在一个单脉冲作用下，通过测量开孔和远场小孔的非线性透过率，确定材料的非线性吸收和非线性折射系数。按本发明方法工作的测量系统光路简单、数据处理简单，单脉冲测量、样品无需移动，可以同时测量非线性吸收和非线性折射的大小和符号，测量结果精确，极大地减少测量成本。
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公开(公告)号：CN101477047B
公开(公告)日：2010-07-21
申请号：CN200910029164.6
申请日：2009-01-07
申请人： 苏州大学
IPC分类号： G01N21/59
摘要： 本发明公开了一种基于透镜几何光学成像的非线性吸收的测量方法，把激光器输出来的光分为监测光和探测光，监测光被一能量计探头接收，用来实时监测入射到待测样品上的能量，探测光经聚焦透镜聚焦以后照射到位于其焦点或附近位置的待测样品上，非线性导致经过样品的探测光空间分布发生变化，这种变化经过放在后面的成像透镜被CCD相机记录。按本发明方法工作的测量系统理论模型非常简单，数据处理容易，测量速度快，单脉冲测量降低了光学累积效应，非线性吸收的测量不受非线性折射的影响，对激光束的随机波动敏感度低，测量结果精确，实验结果直观明了等优点。
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公开(公告)号：CN101609001A
公开(公告)日：2009-12-23
申请号：CN200910182228.6
申请日：2009-07-01
申请人： 苏州大学
摘要： 本发明公开了一种基于相位物体单脉冲反射测量材料非线性的方法，入射激光通过第一分束镜分成两束，一束为监测光，由第一探测器记录，另一束光经过相位物体后被透镜聚焦到待测样品上，被待测样品表面反射的脉冲光被第二分束镜分成两路，一路直接由第二探测器记录，另一路通过一个中心和光轴重合的小孔光阑后进入第三探测器。本发明开发了一种新的测量介质表面的光学非线性的方法，实现了对非线性折射和吸收系数的测量，可广泛应用于介质界面非线性光学以及薄膜非线性光学测量的研究领域。
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公开(公告)号：CN101571481A
公开(公告)日：2009-11-04
申请号：CN200910033969.8
申请日：2009-05-27
申请人： 苏州大学
摘要： 本发明公开了一种测量光学非线性的两次4f相位相干成像装置，主要由入射光路、测量光路和参考光路构成，入射激光束由分束镜分成两束，一束为探测光进入测量光路，另一束为参考光，进入参考光路，测量光路中，由第一凸透镜和第二凸透镜构成4f相位相干成像系统，待测样品放置在第一凸透镜的焦平面上，在第二凸透镜光路中设有全反镜，探测光自第一凸透镜入射，照射在待测样品上，透射光经第二凸透镜后，由全反镜反射，反射光再次反向进入4f相位相干成像系统中，最后由分束镜反射进入CCD相机；参考光路与测量光路的出射光照射在同一个CCD相机上。本发明利用两次4f相位相干成像测量材料非线性的装置，提高了系统的测量精度。
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