端子排的寿命预测方法、装置、存储介质和电子设备

    公开(公告)号:CN115979933A

    公开(公告)日:2023-04-18

    申请号:CN202310057506.5

    申请日:2023-01-16

    IPC分类号: G01N17/00

    摘要: 本发明涉及端子排的寿命预测方法、装置、存储介质和电子设备,包括:对端子排的现场运行环境进行监测,获得现场环境监测参数;测量铜测试片的腐蚀产物膜厚度并计算现场环境下的铜测试片的腐蚀量与时间的对应关系;根据现场环境监测参数进行端子排加速试验;获取端子排电压降和铜片腐蚀量;根据端子排电压降,计算试验环境下的端子排失效时间;根据铜片腐蚀量确定试验环境下的铜片腐蚀量与时间关系;根据试验环境下的铜片腐蚀量与时间关系和端子排失效时间以及现场环境下的腐蚀量与时间的对应关系,预测端子排的寿命。本发明可以对端子排寿命进行预测,给运维人员的管理提供可靠依据,为端子排的预防性管理及维护提供参照,提高了设备的可靠性。