公开(公告)号：CN116634289B

公开(公告)日：2023-10-20

申请号：CN202310906929.X

申请日：2023-07-24

申请人： 苏州熠品质量技术服务有限公司

发明人： 张研 ,  殷龙 ,  季韩 ,  宋翌华 ,  张丽超 ,  郭小庆 ,  余锐

IPC分类号： H04N25/50

摘要： 本发明公开了一种对图像传感器过曝区域调光的方法，涉及图像调光技术领域，方法包括利用图像处理技术，确定图像过曝区域；获取过曝区域内的长半径和短半径；以长、短半径交点作为中心，将长半径和短半径向外延伸，计算延伸后长半径和短半径对应像素点的平均灰度值，并获得光强分布；将预期调光后短半径长度作为半径期望值，计算出灰度期望值；将灰度期望值与平均灰度值进行比对，通过比对结果对过曝区域进行调光。本发明采用辐射方向方式对过曝区域外进行平均灰度值的计算，更客观的反应光强分布；并且采用半径期望值方式来计算灰度期望值，既从期望结果计算期望灰度阈值；使得更快速、更准确的达到预期调光效果。

公开(公告)号：CN116634289A

公开(公告)日：2023-08-22

申请号：CN202310906929.X

申请日：2023-07-24

申请人： 苏州熠品质量技术服务有限公司

发明人： 张研 ,  殷龙 ,  季韩 ,  宋翌华 ,  张丽超 ,  郭小庆 ,  余锐

IPC分类号： H04N25/50

摘要： 本发明公开了一种对图像传感器过曝区域调光的方法，涉及图像调光技术领域，方法包括利用图像处理技术，确定图像过曝区域；获取过曝区域内的长半径和短半径；以长、短半径交点作为中心，将长半径和短半径向外延伸，计算延伸后长半径和短半径对应像素点的平均灰度值，并获得光强分布；将预期调光后短半径长度作为半径期望值，计算出灰度期望值；将灰度期望值与平均灰度值进行比对，通过比对结果对过曝区域进行调光。本发明采用辐射方向方式对过曝区域外进行平均灰度值的计算，更客观的反应光强分布；并且采用半径期望值方式来计算灰度期望值，既从期望结果计算期望灰度阈值；使得更快速、更准确的达到预期调光效果。