公开(公告)号：CN116634289A

公开(公告)日：2023-08-22

申请号：CN202310906929.X

申请日：2023-07-24

申请人： 苏州熠品质量技术服务有限公司

发明人： 张研 ,  殷龙 ,  季韩 ,  宋翌华 ,  张丽超 ,  郭小庆 ,  余锐

IPC分类号： H04N25/50

摘要： 本发明公开了一种对图像传感器过曝区域调光的方法，涉及图像调光技术领域，方法包括利用图像处理技术，确定图像过曝区域；获取过曝区域内的长半径和短半径；以长、短半径交点作为中心，将长半径和短半径向外延伸，计算延伸后长半径和短半径对应像素点的平均灰度值，并获得光强分布；将预期调光后短半径长度作为半径期望值，计算出灰度期望值；将灰度期望值与平均灰度值进行比对，通过比对结果对过曝区域进行调光。本发明采用辐射方向方式对过曝区域外进行平均灰度值的计算，更客观的反应光强分布；并且采用半径期望值方式来计算灰度期望值，既从期望结果计算期望灰度阈值；使得更快速、更准确的达到预期调光效果。

公开(公告)号：CN116634289B

公开(公告)日：2023-10-20

申请号：CN202310906929.X

申请日：2023-07-24

申请人： 苏州熠品质量技术服务有限公司

发明人： 张研 ,  殷龙 ,  季韩 ,  宋翌华 ,  张丽超 ,  郭小庆 ,  余锐

IPC分类号： H04N25/50

摘要： 本发明公开了一种对图像传感器过曝区域调光的方法，涉及图像调光技术领域，方法包括利用图像处理技术，确定图像过曝区域；获取过曝区域内的长半径和短半径；以长、短半径交点作为中心，将长半径和短半径向外延伸，计算延伸后长半径和短半径对应像素点的平均灰度值，并获得光强分布；将预期调光后短半径长度作为半径期望值，计算出灰度期望值；将灰度期望值与平均灰度值进行比对，通过比对结果对过曝区域进行调光。本发明采用辐射方向方式对过曝区域外进行平均灰度值的计算，更客观的反应光强分布；并且采用半径期望值方式来计算灰度期望值，既从期望结果计算期望灰度阈值；使得更快速、更准确的达到预期调光效果。

公开(公告)号：CN219552519U

公开(公告)日：2023-08-18

申请号：CN202321758757.8

申请日：2023-07-06

申请人： 苏州熠品质量技术服务有限公司

发明人： 赵峰盾 ,  李世锋 ,  宋翌华 ,  张丽超 ,  郭小庆 ,  余锐

IPC分类号： G01R1/04 ,  G01R31/52 ,  G01R19/00

摘要： 本申请涉及测电变量的装置的领域，尤其是涉及一种接触电流测量金属箔贴紧装置，其包括导轨，所述导轨内设有底座，所述底座上设有检测组件，所述导轨一端设有驱动所述底座沿所述导轨移动的驱动组件，另一端设有挡块。所述底座包括伸缩杆和安装架，所述安装架设置在所述伸缩杆的顶端，所述伸缩杆的底端与所述导轨连接。所述检测组件包括压力传递件、压力传感器和感应制具，所述感应制具设置在所述安装架内，所述压力传递件设置在所述感应制具内，所述压力传感器设置在所述感应制具的侧壁上。本申请具有方便对设备的侧壁施加压力的效果。