公开(公告)号：CN104541174B

公开(公告)日：2017-02-22

申请号：CN201380044062.6

申请日：2013-06-14

申请人： 英特尔公司

发明人： C.J.纳尔逊 ,  T.M.马克 ,  D.J.齐默曼 ,  P.D.富格特

IPC分类号： G01R29/02 ,  G01R31/317 ,  G11C7/10

CPC分类号： G01R31/31716 ,  G01R31/31713 ,  G01R31/3177 ,  G01R31/3181 ,  G01R31/3187 ,  G06F11/3485 ,  G11C7/10 ,  G11C29/02 ,  G11C29/022 ,  G11C29/1201 ,  G11C29/32 ,  H04L1/243

摘要： 本发明提供了用于评估I/O缓冲器电路的技术和机制。在实施例中，执行针对设备的测试循环，所述设备包括I/O缓冲器电路，每一个测试循环包括针对每一个I/O缓冲器电路的相应回送测试。每一个测试循环对应于发射时钟信号与接收时钟信号之间的不同相应延迟。在另一实施例中，第一测试循环指示针对至少一个I/O缓冲器电路的失效条件，并且第二测试循环指示针对每一个I/O缓冲器电路的失效条件。I/O缓冲器电路的评估确定设备是否满足测试条件，其中该确定基于对应于第一测试循环的延迟与对应于第二测试循环的延迟之间的差异。

公开(公告)号：CN104541174A

公开(公告)日：2015-04-22

申请号：CN201380044062.6

申请日：2013-06-14

申请人： 英特尔公司

发明人： C.J.纳尔逊 ,  T.M.马克 ,  D.J.齐默曼 ,  P.D.富格特

IPC分类号： G01R29/02 ,  G01R31/317 ,  G11C7/10

CPC分类号： G01R31/31716 ,  G01R31/31713 ,  G01R31/3177 ,  G01R31/3181 ,  G01R31/3187 ,  G06F11/3485 ,  G11C7/10 ,  G11C29/02 ,  G11C29/022 ,  G11C29/1201 ,  G11C29/32 ,  H04L1/243

摘要： 本发明提供了用于评估I/O缓冲器电路的技术和机制。在实施例中，执行针对设备的测试循环，所述设备包括I/O缓冲器电路，每一个测试循环包括针对每一个I/O缓冲器电路的相应回送测试。每一个测试循环对应于发射时钟信号与接收时钟信号之间的不同相应延迟。在另一实施例中，第一测试循环指示针对至少一个I/O缓冲器电路的失效条件，并且第二测试循环指示针对每一个I/O缓冲器电路的失效条件。I/O缓冲器电路的评估确定设备是否满足测试条件，其中该确定基于对应于第一测试循环的延迟与对应于第二测试循环的延迟之间的差异。