公开(公告)号：CN108957301A

公开(公告)日：2018-12-07

申请号：CN201710389552.X

申请日：2017-05-27

申请人： 深圳市中兴微电子技术有限公司

发明人： 黄超

IPC分类号： G01R31/317 ,  G01R31/3183 ,  G01R31/3185 ,  G01R31/3187

CPC分类号： G01R31/31704 ,  G01R31/3183 ,  G01R31/318371 ,  G01R31/318583 ,  G01R31/3187

摘要： 本文公布了一种测试方法、测试装置及可测试芯片内置电路。测试方法包括：在芯片的异步数据路径上插入时序隔离单元，使得相应数据路径的接收端在扫描测试模式下为固定值；配置低速测试时钟，读入插入时序隔离单元后所述芯片的布局布线PR网表，在自动测试向量发生器ATPG环境中产生测试向量；其中，在所述扫描测试模式下所述时序隔离单元输出信号恒为所述固定值。本申请有效平衡了低速stuck‑at的测试向量数目与PR对低速测试模式TIMING的收敛时间，不仅可减少测试成本，而且可加快测试进展，为芯片实现后续环节节省大量时间。

公开(公告)号：CN108332786A

公开(公告)日：2018-07-27

申请号：CN201810049721.X

申请日：2018-01-18

申请人： 迈来芯科技有限公司

发明人： V·萨科 ,  M·泊札特

IPC分类号： G01D21/00 ,  G01D18/00

CPC分类号： G01R31/2644 ,  G01D3/08 ,  G01D5/24466 ,  G01R31/2829 ,  G01R31/2856 ,  G01R31/2884 ,  G01R31/3187 ,  G05B9/03 ,  G06F11/1633 ,  G01D21/00 ,  G01D18/00

摘要： 一种用于提供主信号(S主)和误差信号(S误差)的传感器系统(100)，包括：提供传感器信号(SS)的传感器单元(110)；在传感器单元下游的第一信号处理器(120)，其适配用于接收等于传感器信号(SS)或从传感器信号(SS)导出的第二信号(Sx)，并且用于对所述第二信号(Sx)执行第一操作以便提供第一经处理信号(PS1)；第二信号处理器(130)，用于接收第一经处理信号(PS1)并用于执行第一操作的反的第二操作，以便提供第二经处理信号(PS2)；和评估单元(140)，其用于接收第二信号(Sx)和第二经处理信号(PS2)，并用于评估第二信号(Sx)是否在预定义的公差容限内与第二经处理信号(PS2)匹配，并用于提供所述误差信号(S误差)。第二信号处理器具有从由以下组成的组中选择的至少一个特性：与第一信号处理单元相比，更慢、不那么精确、具有或生成更多噪声、占用更少空间、耗散更少功率。

公开(公告)号：CN104541174B

公开(公告)日：2017-02-22

申请号：CN201380044062.6

申请日：2013-06-14

申请人： 英特尔公司

发明人： C.J.纳尔逊 ,  T.M.马克 ,  D.J.齐默曼 ,  P.D.富格特

IPC分类号： G01R29/02 ,  G01R31/317 ,  G11C7/10

CPC分类号： G01R31/31716 ,  G01R31/31713 ,  G01R31/3177 ,  G01R31/3181 ,  G01R31/3187 ,  G06F11/3485 ,  G11C7/10 ,  G11C29/02 ,  G11C29/022 ,  G11C29/1201 ,  G11C29/32 ,  H04L1/243

摘要： 本发明提供了用于评估I/O缓冲器电路的技术和机制。在实施例中，执行针对设备的测试循环，所述设备包括I/O缓冲器电路，每一个测试循环包括针对每一个I/O缓冲器电路的相应回送测试。每一个测试循环对应于发射时钟信号与接收时钟信号之间的不同相应延迟。在另一实施例中，第一测试循环指示针对至少一个I/O缓冲器电路的失效条件，并且第二测试循环指示针对每一个I/O缓冲器电路的失效条件。I/O缓冲器电路的评估确定设备是否满足测试条件，其中该确定基于对应于第一测试循环的延迟与对应于第二测试循环的延迟之间的差异。

公开(公告)号：CN105092930A

公开(公告)日：2015-11-25

申请号：CN201410187126.4

申请日：2014-05-06

申请人： 飞思卡尔半导体公司

发明人： 徐秀强 ,  郭胤 ,  章沙雁 ,  张旺根 ,  张旭 ,  张义忠

IPC分类号： G01R19/00

CPC分类号： G01R31/3187 ,  G01R31/2886

摘要： 本发明涉及片上电流测试电路。公开了一种包括处理器的集成电路，该集成电路还具有用于间接地测量处理器中的静态电流的片上电流测试电路。集成电路的供电电压引脚接收来自外部测试单元的供电电压以给处理器提供电力。当处理器与供电电压隔离并且时钟信号停止时，片上测试电路在预定的测试期T内测量处理器两端的电压变化。电压变化提供对与处理器对应的静态电流的指示。

公开(公告)号：CN104662554A

公开(公告)日：2015-05-27

申请号：CN201380050674.6

申请日：2013-08-08

申请人： 西门子公司

发明人： R.法尔克

IPC分类号： G06F21/57 ,  G01R31/3187 ,  G06F11/27 ,  H04L9/32

CPC分类号： G06F21/577 ,  G01R31/3187 ,  G06F2221/034 ,  G09C1/00 ,  H04L9/3278 ,  H04L2209/12 ,  H04L2209/26

摘要： 一种电路单元（1），包括以下称为PUF（6）的物理不可克隆功能（6）、检验单元（5）和用于存储至少一个质询响应对（CR1）的信息存储器（7），其中质询响应对（CR1）包括质询信息（C1）和与其相关的响应信息（R1）；以及其中检验单元（5）被设计和/或适配为促使将质询信息（C1）输入到PUF（6）中，并且将对此由PUF（6）产生的PUF响应（PR1）和响应信息（R1）用于比较，并且根据比较的结果释放或限制PUF（6）的使用。

公开(公告)号：CN101848073B

公开(公告)日：2014-10-22

申请号：CN201010143191.9

申请日：2010-03-24

申请人： 株式会社巨晶片

发明人： 森泉龙一

IPC分类号： H04L1/24

CPC分类号： H04L7/0091 ,  G01R31/31715 ,  G01R31/3187 ,  H04L1/0061 ,  H04L2007/045

摘要： 生成具有N位模式长度的传送器循环模式并将其转换为M位传送器并行数据流，其中N≠M。通过执行传送器改变处理，生成位序列改变的传送器并行数据流，并且其被转换为串行数据并与时钟信号一起传送。接收所述串行数据并将其转换为M位接收器并行数据流，并且通过执行与所述传送器改变处理相反的处理，生成位序列恢复的并行数据流。通过使用所述位序列恢复的并行数据流中的位序列作为初始值来生成接收器循环模式，并且将其转换为M位基准并行数据流，并且通过执行与所述传送器改变处理相同的处理，生成位序列改变的基准并行数据流，并与所接收的并行数据进行比较以测试所述数据是否被正确接收。

公开(公告)号：CN103779332A

公开(公告)日：2014-05-07

申请号：CN201310497590.9

申请日：2013-10-22

申请人： 国际商业机器公司

发明人： K.W.戈尔曼 ,  K.芒达尔 ,  S.塞苏拉曼

IPC分类号： H01L23/544 ,  H01L23/525 ,  G11C29/12

CPC分类号： H01L22/34 ,  G01R31/3187 ,  G11C5/04 ,  G11C29/006 ,  G11C29/4401 ,  G11C29/88 ,  H01L23/525 ,  H01L25/0657 ,  H01L2924/0002 ,  H01L2924/00

摘要： 公开了合并了具有可集成和可自动重新配置的内置自维护块（即，内置自测试（BIST）电路或内置自修复（BISR）电路）的集成电路（IC）芯片的堆叠的堆叠芯片模块。内置自维护块在堆叠中的IC芯片之间的集成允许以模块级别来服务（例如，自测试或自修复）功能块。内置自维护块的自动重新配置还允许即使在与给定IC芯片上的给定内置自维护块相关联的一个或多个控制器已被确定为有缺陷时（例如，在先前的晶元级别服务期间）也以模块级别来服务在堆叠中的任何IC芯片上的功能块。还公开了制造和服务这种堆叠芯片模块的方法。

公开(公告)号：CN101680932B

公开(公告)日：2013-11-20

申请号：CN200880019923.4

申请日：2008-06-12

申请人： 高通股份有限公司

发明人： 斯里尼瓦斯·马达利

IPC分类号： G01R31/3187

CPC分类号： G01R31/3187 ,  G06F11/27

摘要： 本发明描述一种具有用于验证外部接口功能性的自测试特征的集成电路。实例外部接口包括存储器接口及总线接口，例如外围组件互连(PCI)总线、高级高性能总线(AHB)、高级可扩展接口(AXI)总线及以高频(例如，200MHz或更高)操作的其它外部接口。测试逻辑可嵌入于所述集成电路上且经配置以在从外部测试设备接收电力及非测试信号的同时验证外部接口功能性。因而，外部测试设备可不将高频测试信号供应给所述集成电路。然而，外部测试设备可独立地验证所述集成电路的引脚接口的功能性。结果，所述集成电路可减少检验所述外部接口的功能性及时序所需的成本及时间。

公开(公告)号：CN103308843A

公开(公告)日：2013-09-18

申请号：CN201210061010.7

申请日：2012-03-09

申请人： 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 ,  鸿海精密工业股份有限公司

发明人： 黄发生

IPC分类号： G01R31/28

CPC分类号： G01R31/2841 ,  G01R31/31709 ,  G01R31/3171 ,  G01R31/3187

摘要： 一种具有接收器测试功能的芯片，包括信号产生电路、抖动注入电路、信号混合电路、接收器以及误码检测电路，所述信号产生电路用于产生并输出一参考信号；所述抖动注入电路用于产生并输出一干扰信号；所述信号混合电路用于混合所述参考信号以及所述干扰信号，并输出一测试信号；所述接收器用于接收所述测试信号，并输出接收到的所述测试信号；所述误码检测电路用于从信号产生电路接收所述参考信号以及从所述接收器接收所述测试信号，并比较所述测试信号是否包括与所述参考信号相同的码元信息，以判断所述接收器的接收能力是否符合要求。本发明还涉及一种具有接收器测试功能的电路板。

公开(公告)号：CN103294048A

公开(公告)日：2013-09-11

申请号：CN201310063900.6

申请日：2013-02-26

申请人： 阿尔特拉公司

发明人： B·B·佩德森

IPC分类号： G05B23/02

CPC分类号： G01R31/3177 ,  G01R31/31724 ,  G01R31/3187 ,  G01R31/3275 ,  G06F11/0721 ,  G06F11/0751 ,  G06F11/076 ,  G06F11/0781 ,  G11C29/56

摘要： 本发明的各实施方式总体上涉及用于自动故障检测的方法和装置。具体地，提供了对包括集成电路器件中的一个或多个信号树的端点或叶子处的关键信号的信号进行监视的技术和机制。可以在故障检测电路中配置传感器或传感器层以监视信号并且将它们与静态的或动态变化的值进行比较。该故障检测电路可以包括OR门的菊花链，其在特定叶子处的任意信号从预期信号偏离的情况下向控制电路输出故障检测信号。故障检测电路还可以被配置为识别两个或更多或者N个或更多信号从预期信号偏离的情形。还可以提供用来确保故障检测电路自身的可靠性的机制。