公开(公告)号：CN113167991B

公开(公告)日：2024-06-04

申请号：CN201980080980.1

申请日：2019-12-04

Applicant: 莱卡微系统CMS有限责任公司

Inventor： 托比亚斯·霍夫曼 ,  克里斯托夫·斯蒂 ,  沃尔克·沙赫特

IPC: G02B21/26 ,  G02B21/34

Abstract: 本发明涉及一种用于在显微镜(1)的物体空间中自动地求取样本总成(40)上的多个位置(P1‑P8)的方法以及一种相应的显微镜(1)，该显微镜包括规定了光学轴线(8)的显微镜物镜(10)，其中，由测量光束机构(19)产生测量光束(30)，并且使得该测量光束朝向所述样本总成(40)，由产生输出信号的探测器(28)来检测被所述样本总成(40)反射的测量光束(32、32')，其中，使得所述样本总成(40)在垂直于所述光学轴线(8)的至少一个方向上移动，其中，根据所述移动，借助所述探测器(28)的在沿着所述至少一个方向移动期间产生的输出信号，求取所述样本总成上的所述多个位置(P1‑P8)。

公开(公告)号：CN113167991A

公开(公告)日：2021-07-23

申请号：CN201980080980.1

申请日：2019-12-04

Applicant: 莱卡微系统CMS有限责任公司

Inventor： 托比亚斯·霍夫曼 ,  克里斯托夫·斯蒂 ,  沃尔克·沙赫特

IPC: G02B21/26 ,  G02B21/34

Abstract: 本发明涉及一种用于在显微镜(1)的物体空间中自动地求取样本总成(40)上的多个位置(P1‑P8)的方法以及一种相应的显微镜(1)，该显微镜包括规定了光学轴线(8)的显微镜物镜(10)，其中，由测量光束机构(19)产生测量光束(30)，并且使得该测量光束朝向所述样本总成(40)，由产生输出信号的探测器(28)来检测被所述样本总成(40)反射的测量光束(32、32')，其中，使得所述样本总成(40)在垂直于所述光学轴线(8)的至少一个方向上移动，其中，根据所述移动，借助所述探测器(28)的在沿着所述至少一个方向移动期间产生的输出信号，求取所述样本总成上的所述多个位置(P1‑P8)。