用于确定光学介质的折射率的方法和显微镜

    公开(公告)号:CN112867918B

    公开(公告)日:2024-11-15

    申请号:CN201980068865.2

    申请日:2019-10-11

    Abstract: 介绍一种用于确定显微镜(10、78)中的光学介质的折射率的方法,该显微镜具有面向样本空间(14)的物镜(12),其中,具有待确定的折射率的所述光学介质是两种光学介质(26、28)之一,这些光学介质在所述样本空间(14)中与盖玻片或载玻片(16)的两个相反的表面(64、68)邻接,由此形成两个部分反射的界面,这些界面相距所述物镜(12)以不同的间距布置。在该方法中,使得测量光束(34)透过所述物镜(12)在倾斜地入射情况下转向至所述盖玻片或载玻片(16),产生两个在空间上彼此分开的反射光束(54a、54b),其方式为,使得所述测量光束(34)分别部分地在两个所述界面上反射,使得两个所述反射光束(54a、54b)被所述物镜(12)接收,并且转向至对位置灵敏的探测器(60),借助所述对位置灵敏的探测器(36)来检测两个所述反射光束(54a、54b)的强度,基于两个所述反射光束(54a、54b)的所检测的强度来计算所述光学介质的折射率。

    光片显微镜和用于确定样本空间中的物体折射率的方法

    公开(公告)号:CN113677979B

    公开(公告)日:2024-07-02

    申请号:CN202080028218.1

    申请日:2020-03-25

    Abstract: 一种光片显微镜,其包括:样本空间,在该样本空间中可布置盖玻片或载玻片,该盖玻片或载玻片具有限定部分反射界面的表面;光学系统,该光学系统带有面向所述盖玻片或载玻片的物镜;被设计用于产生光片的照明机构;传感器;和处理器。所述光片显微镜形成用于检测测量变量的测量装置。该测量装置被设计用于,将所述光片穿过所述光学系统倾斜入射地转向到所述盖玻片或载玻片上,通过部分地在所述界面处反射所述光片来产生反射光束,接收穿过所述光学系统的反射光束并转向到所述传感器上。所述传感器被设计用于检测所述反射光束的强度和/或入射位置。所述处理器被设计用于基于所述反射光束的所检测的强度和/或入射位置来确定测量变量。

    光片显微镜和用于确定样本空间中的物体折射率的方法

    公开(公告)号:CN113677979A

    公开(公告)日:2021-11-19

    申请号:CN202080028218.1

    申请日:2020-03-25

    Abstract: 一种光片显微镜,其包括:样本空间,在该样本空间中可布置盖玻片或载玻片,该盖玻片或载玻片具有限定部分反射界面的表面;光学系统,该光学系统带有面向所述盖玻片或载玻片的物镜;被设计用于产生光片的照明机构;传感器;和处理器。所述光片显微镜形成用于检测测量变量的测量装置。该测量装置被设计用于,将所述光片穿过所述光学系统倾斜入射地转向到所述盖玻片或载玻片上,通过部分地在所述界面处反射所述光片来产生反射光束,接收穿过所述光学系统的反射光束并转向到所述传感器上。所述传感器被设计用于检测所述反射光束的强度和/或入射位置。所述处理器被设计用于基于所述反射光束的所检测的强度和/或入射位置来确定测量变量。

    用于确定光学介质的折射率的方法和显微镜

    公开(公告)号:CN112867918A

    公开(公告)日:2021-05-28

    申请号:CN201980068865.2

    申请日:2019-10-11

    Abstract: 介绍一种用于确定显微镜(10、78)中的光学介质的折射率的方法,该显微镜具有面向样本空间(14)的物镜(12),其中,具有待确定的折射率的所述光学介质是两种光学介质(26、28)之一,这些光学介质在所述样本空间(14)中与盖玻片或载玻片(16)的两个相反的表面(64、68)邻接,由此形成两个部分反射的界面,这些界面相距所述物镜(12)以不同的间距布置。在该方法中,使得测量光束(34)透过所述物镜(12)在倾斜地入射情况下转向至所述盖玻片或载玻片(16),产生两个在空间上彼此分开的反射光束(54a、54b),其方式为,使得所述测量光束(34)分别部分地在两个所述界面上反射,使得两个所述反射光束(54a、54b)被所述物镜(12)接收,并且转向至对位置灵敏的探测器(60),借助所述对位置灵敏的探测器(36)来检测两个所述反射光束(54a、54b)的强度,基于两个所述反射光束(54a、54b)的所检测的强度来计算所述光学介质的折射率。

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