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公开(公告)号：CN115356010B
公开(公告)日：2024-06-21
申请号：CN202210346162.5
申请日：2022-03-31
Applicant: 西北核技术研究所
IPC: G01K11/00
Abstract: 本发明为解决现有TDLAS双线测温应用中谱线选择方法适用性不强、谱线选择过程较为复杂等技术问题，提供了一种基于温度敏感因子的TDLAS测温吸收谱线选择方法，用于指导谱线对的选择，利用该方法可以较为方便快捷地选出适用不同应用场景的测温谱线对。本发明提供的吸收谱线选择方法，通过对吸收谱线强度和温度敏感因子的比较，即可实现测温谱线对的选择，方法简单有效，适用范围广，可用于不同工况条件下、不同气体分子的吸收谱线选择。
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公开(公告)号：CN114878492B
公开(公告)日：2024-06-21
申请号：CN202210625771.4
申请日：2022-06-02
Applicant: 西北核技术研究所
Abstract: 本发明为解决超光谱吸收测量中的谱线选择方法仅针对分立谱线，不适用于连续的宽带光谱扫描范围选择的技术问题，提供了一种基于温度敏感因子的超光谱光源扫描区间选择方法。具体包括以下步骤：1)初步估算待测环境的温度T、压强P与待测气体分子的摩尔分数X，利用光谱数据库计算在待测环境下[λ1,λN]光谱范围内气体分子各吸收谱线的吸收强度和温度敏感因子；2)、选定超光谱光源扫描宽度Δλ，以λj为起始波长计算谱段[λj,λj+Δλ]内的温度测量不确定度ε(T,λj)；3)、比较不同起始波长λj处计算得到的温度测量不确定度ε(T,λj)，温度测量不确定度最小值ε(T,λm)所对应的谱段区间[λm,λm+Δλ]，即为[λ1,λN]光谱范围内超光谱光源的最优扫描区间。
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公开(公告)号：CN118032280A
公开(公告)日：2024-05-14
申请号：CN202410025661.3
申请日：2024-01-08
Applicant: 西北核技术研究所
IPC: G01M11/00
Abstract: 本发明公开了一种基于光频域反射计的掺杂光纤辐致损耗测量装置和方法，以解决当前掺杂光纤无法细致了解精细内部损伤及恢复程度的问题。具体第一测量单元，包括光频域反射仪和第一传输光纤；光频域反射仪的作用端与第一传输光纤的FC/APC端连接，另一端与第一待测掺杂光纤一端熔接；第一待测掺杂光纤另一端形成消反射光纤端面；第二测量单元，包括第一激光器等；第一激光器和第二激光器分别与第一光纤波分复用器的第一输入端及第二输入端连接，第一光纤波分复用器公共端与第二待测掺杂光纤的一端连接，第二待测掺杂光纤的另一端与第二光纤波分复用器公共端连接，第一功率计和第二功率计分别与第二光纤波分复用器的第三输入端及第四输入端连接。
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公开(公告)号：CN115356086A
公开(公告)日：2022-11-18
申请号：CN202210346175.2
申请日：2022-03-31
Applicant: 西北核技术研究所
Abstract: 本发明为解决现有对扫描激光器动态线宽的测量方法，均针对窄线宽激光器，且需要搭建复杂的测量光路，不适用线宽较宽的扫描光源在波长扫描过程中的动态线宽测量的技术问题，提出了一种基于吸收光谱的波长扫描激光器的动态线宽的测量方法。包括以下步骤：[1]根据光源的光谱扫描范围，选择吸收介质，搭建吸收光路，测量并记录吸收池内信息；[2]激光光束传输通过吸收池，采样得到不同波长处的吸收光谱数据；[3]利用光谱数据库，计算得到不同激光线宽条件下的理论吸收光谱数据；[4]将得到的吸收光谱与理论吸收光谱进行比对，计算均方根残差并进行最小二乘法拟合，均方根残差最小处对应的线宽即为该激光器的动态扫描线宽。
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公开(公告)号：CN114878492A
公开(公告)日：2022-08-09
申请号：CN202210625771.4
申请日：2022-06-02
Applicant: 西北核技术研究所
Abstract: 本发明为解决超光谱吸收测量中的谱线选择方法仅针对分立谱线，不适用于连续的宽带光谱扫描范围选择的技术问题，提供了一种基于温度敏感因子的超光谱光源扫描区间选择方法。具体包括以下步骤：1)初步估算待测环境的温度T、压强P与待测气体分子的摩尔分数X，利用光谱数据库计算在待测环境下[λ1,λN]光谱范围内气体分子各吸收谱线的吸收强度和温度敏感因子；2)、选定超光谱光源扫描宽度Δλ，以λj为起始波长计算谱段[λj,λj+Δλ]内的温度测量不确定度ε(T,λj)；3)、比较不同起始波长λj处计算得到的温度测量不确定度ε(T,λj)，温度测量不确定度最小值ε(T,λm)所对应的谱段区间[λm,λm+Δλ]，即为[λ1,λN]光谱范围内超光谱光源的最优扫描区间。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN115356086B
公开(公告)日：2024-06-21
申请号：CN202210346175.2
申请日：2022-03-31
Applicant: 西北核技术研究所
Abstract: 本发明为解决现有对扫描激光器动态线宽的测量方法，均针对窄线宽激光器，且需要搭建复杂的测量光路，不适用线宽较宽的扫描光源在波长扫描过程中的动态线宽测量的技术问题，提出了一种基于吸收光谱的波长扫描激光器的动态线宽的测量方法。包括以下步骤：[1]根据光源的光谱扫描范围，选择吸收介质，搭建吸收光路，测量并记录吸收池内信息；[2]激光光束传输通过吸收池，采样得到不同波长处的吸收光谱数据；[3]利用光谱数据库，计算得到不同激光线宽条件下的理论吸收光谱数据；[4]将得到的吸收光谱与理论吸收光谱进行比对，计算均方根残差并进行最小二乘法拟合，均方根残差最小处对应的线宽即为该激光器的动态扫描线宽。
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公开(公告)号：CN115356010A
公开(公告)日：2022-11-18
申请号：CN202210346162.5
申请日：2022-03-31
Applicant: 西北核技术研究所
IPC: G01K11/00
Abstract: 本发明为解决现有TDLAS双线测温应用中谱线选择方法适用性不强、谱线选择过程较为复杂等技术问题，提供了一种基于温度敏感因子的TDLAS测温吸收谱线选择方法，用于指导谱线对的选择，利用该方法可以较为方便快捷地选出适用不同应用场景的测温谱线对。本发明提供的吸收谱线选择方法，通过对吸收谱线强度和温度敏感因子的比较，即可实现测温谱线对的选择，方法简单有效，适用范围广，可用于不同工况条件下、不同气体分子的吸收谱线选择。
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公开(公告)号：CN117235997A
公开(公告)日：2023-12-15
申请号：CN202311144103.0
申请日：2023-09-06
Applicant: 西北核技术研究所
Abstract: 本发明公开了一种光纤激光器的抗辐射特性优化方法，解决了现有的基于激光器结构参数优化的抗辐射设计方法无法应用于中高功率激光器的技术问题，用于指导光纤激光器抗辐射特性优化设计，提高光纤激光器的抗辐射性能。具体包括：步骤1、获取增益光纤辐致损耗参数；步骤2、构建辐射环境下的激光器仿真模型；步骤3、获取不同辐射剂量D下的最优光纤长度；步骤4、获取不同辐射剂量下的最优泵浦功率分配；步骤5、激光器抗辐射特性优化。
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公开(公告)号：CN116519629A
公开(公告)日：2023-08-01
申请号：CN202310474542.1
申请日：2023-04-27
Applicant: 西北核技术研究所
IPC: G01N21/39
Abstract: 本发明涉及一种可调谐半导体激光吸收光谱(TDLAS)方法，具体涉及一种高压环境下的TDLAS测量信号谱线参数获取方法，解决现有TDLAS技术在高压环境下存在去基线困难、谱线参数计算误差较大的技术问题。该高压环境下的TDLAS测量信号谱线参数获取方法，包括以下步骤：步骤1)获得TDLAS测量信号Iexp(vx)；步骤2)构造整体拟合模型；步骤3)确定整体拟合模型中可变参数的初值与限制区间；步骤4)根据可变参数的初值与限制区间，优化整体拟合模型中的可变参数，反演得到整体拟合模型与TDLAS测量信号Iexp(vx)最佳匹配下的谱线参数；有效回避原始信号复杂的去基线过程，提高TDLAS技术在高压环境下的适用性，显著降低了谱线参数的计算误差。
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公开(公告)号：CN115790884A
公开(公告)日：2023-03-14
申请号：CN202211296108.0
申请日：2022-10-21
Applicant: 西北核技术研究所
Abstract: 本发明涉及流场温度测量方法及测量系统，具体涉及一种大温度范围流场的温度测量方法及测量系统，解决了现有技术在测量大温度范围流场温度时存在较大偏差的技术问题。测量方法通过对待测流场的高温、低温区域分别进行温度标定，并根据测量得到的激励激光强度分布和荧光强度分布计算获得标定系数，从而计算得到流场温度。抑制了环境温度、猝灭强度及跃迁能级等因素导致的荧光产率变化对温度测量的影响，可获得更为准确的流场温度测量结果。测量装置基于传统的OH‑PLIF双色测量，额外软硬件需求，具有较好的可实施性。且激励激光单元可根据待测流场的条件和性质灵活选择不同数量的激励激光器，能够适应不同的流场环境。
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