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公开(公告)号：CN113340414A
公开(公告)日：2021-09-03
申请号：CN202110641611.4
申请日：2021-06-09
申请人： 西南技术物理研究所
摘要： 本发明属于半导体光电探测器技术领域，公开了一种扁平式象限激光探测器组件及其制备方法，探测器组件包括光敏芯片、放大电路和器件壳体；探测器组件内部光敏芯片与放大电路采用平面布局；光敏芯片为象限光电二极管，用于将接收到的激光信号转换为脉冲电流信号；放大电路采用单片式外圆内圆或外圆内方的中空结构，由晶体管芯、放大器芯片和电阻等元件通过双面表贴集成于电路基片，用于将光敏芯片输出的多路脉冲电流信号转换为脉冲电压信号并放大整形输出；器件壳体由含管座基体和引脚的管座及含管帽基体和光窗的管帽组成。本发明具有结构紧凑、工艺简单、抗高过载、低成本和高可靠性等特点。
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公开(公告)号：CN104634447B
公开(公告)日：2016-09-07
申请号：CN201410851812.7
申请日：2014-12-31
申请人： 西南技术物理研究所
摘要： 本发明提出的一种光电探测器寿命评估试验系统，旨在提供一种实时自动监测、采集数据，能同时对探测器施加三种任意组合应力进行寿命试验的评估试验系统。本发明通过下述技术方案予以实现：光控制试验系统通过光纤分路器将来自半导体激光器脉冲光信号分流到每个光电探测器受试样品上；温度控制试验系统通过温度试验箱对安装在测试工装各个区域的受试样品进行温度控制；电源控制系统通过电源控制模块根据测试工装各个区域的电压分别进行控制，试验监测控制系统通过控制面板对不同区域受试样品进行控制，实时监测受试样品参数，实现对样品参数测试数据的实时采集，监测受试样品的正常状态，FPGA模块将采集到的信息传递给计算机，进行寿命大小和置信度参数的评估。
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公开(公告)号：CN104634447A
公开(公告)日：2015-05-20
申请号：CN201410851812.7
申请日：2014-12-31
申请人： 西南技术物理研究所
摘要： 本发明提出的一种光电探测器寿命评估试验系统，旨在提供一种实时自动监测、采集数据，能同时对探测器施加三种任意组合应力进行寿命试验的评估试验系统。本发明通过下述技术方案予以实现：光控制试验系统通过光纤分路器将来自半导体激光器脉冲光信号分流到每个光电探测器受试样品上；温度控制试验系统通过温度试验箱对安装在测试工装各个区域的受试样品进行温度控制；电源控制系统通过电源控制模块根据测试工装各个区域的电压分别进行控制，试验监测控制系统通过控制面板对不同区域受试样品进行控制，实时监测受试样品参数，实现对样品参数测试数据的实时采集，监测受试样品的正常状态，FPGA模块将采集到的信息传递给计算机，进行寿命大小和置信度参数的评估。
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公开(公告)号：CN111183739B
公开(公告)日：2019-02-01
申请号：CN201518011198.9
申请日：2015-12-30
申请人： 西南技术物理研究所
摘要： 本发明公开了一种公共极进光半导体光电二极管阵列芯片测试用工装夹具，包括：水平底座、积分球、方形固定架、玻璃板；方形固定架设置在水平底座上，方形固定架内部放置积分球；方形固定架顶部开宽槽，宽槽内中心开圆孔，圆孔与积分球出光孔对应；积分球和方形固定架侧壁开小孔，通过螺丝固定安装光纤FC接头卡座，用以积分球进光；玻璃板固定在所述宽槽内，玻璃板上表面中心开有方孔，方孔区域外的玻璃板表面上镀金；所述宽槽两侧设置有压片，压片通过螺丝固定在方形固定架顶部，两压片的尖端分别套上软塑料套用以固定压紧玻璃板。本发明稳定好、可靠性强。
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公开(公告)号：CN215573359U
公开(公告)日：2022-01-18
申请号：CN202121283853.2
申请日：2021-06-09
申请人： 西南技术物理研究所
摘要： 本实用新型属于半导体光电探测器技术领域，公开了一种扁平式象限激光探测器组件，探测器组件包括光敏芯片、放大电路和器件壳体；探测器组件内部光敏芯片与放大电路采用平面布局；光敏芯片为象限光电二极管，用于将接收到的激光信号转换为脉冲电流信号；放大电路采用单片式外圆内圆或外圆内方的中空结构，由晶体管芯、放大器芯片和电阻等元件通过双面表贴集成于电路基片，用于将光敏芯片输出的多路脉冲电流信号转换为脉冲电压信号并放大整形输出；器件壳体由含管座基体和引脚的管座及含管帽基体和光窗的管帽组成。本实用新型具有结构紧凑、工艺简单、抗高过载、低成本和高可靠性等特点。
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公开(公告)号：CN211826611U
公开(公告)日：2020-10-30
申请号：CN201922283904.0
申请日：2019-12-18
申请人： 西南技术物理研究所
摘要： 本实用新型涉及一种光纤耦合输出小光斑形成装置，属于光电探测器测试技术领域。以往常用的FC光纤出光头发射出的光发散较严重，测试串扰时会导致测试结果偏大。出光头加装聚焦透镜的光纤发出的脉冲激光在焦点处形成很小的光斑，但这类光纤发出的激光不稳定，测试时器件输出信号抖动较大，不适于测试。本实用新型设计的装置有效地避免了由于FC光纤输出发散所导致的串扰测试结果超标，且经本装置射出的脉冲激光很稳定，对测试过程不造成影响。
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